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基于六列输入分离反相器的抗单粒子双翻转的SRAM单元
本发明涉及纳米集成电路抗软错误恢复锁存,尤其涉及一种基于六列输入分离反相器的抗单粒子双翻转的sram单元。背景技术:1、纳米集成电路抗软错误恢复锁存是针对集成电路(ic)在纳米尺度下的制造过程中可能面......
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基于反相器的双节点翻转加固的SRAM单元
本发明涉及纳米集成电路抗软错误加固锁存,尤其涉及一种基于反相器的双节点翻转加固的sram单元。背景技术:1、近年微电子制造工艺的发展,使得集成电路进入纳米时代。在纳米工艺下,晶体管的特征尺寸不断缩小,......