一种可实时监测量子点色母粒光学性能的方法及测试系统与流程

技术特征：
1.一种可实时监测量子点色母粒光学性能的方法，其特征在于：以原始的纯量子点光谱作为参考光谱，依次分别监测：造粒机挤出口处、冷却处理出口处以及风干处理出口处的线状量子点色母粒的中心波长、半峰宽、以及发光强度；以判断线状量子点色母粒品质是否合格。2.根据权利要求1所述的一种可实时监测量子点色母粒光学性能的方法，其特征在于：如果监测结果在预设的监测值范围内则判定线状量子点色母粒是合格的，否则则认为是不合格的；当监测到不合格的量子点色母粒时，将不合格的部分进行切割处理。3.根据权利要求1所述的一种可实时监测量子点色母粒光学性能的方法，其特征在于：所述造粒机为双螺杆挤出造粒机；所述冷却处理采用冷却水冷却处理；所述风干处理采用风干机处理；监测线状量子点色母粒的中心波长、半峰宽、以及发光强度采用反射型光谱仪光纤探头分别连接至激光器和光谱仪的装置实现。4.根据权利要求3所述的一种可实时监测量子点色母粒光学性能的方法，其特征在于：所述激光器发出一束激发光，经过导入光纤、第一透镜、窄带滤波片到达反射镜；所述反射镜把激发光反射到二相色镜，再把激发光反射到第三透镜，随后激发光透过第三透镜汇聚到线状量子点色母粒上激发线状量子点色母粒发光；所述线状量子点色母粒发出的光被第三透镜收集并传到二相色镜，二相色镜再把线状量子点色母粒发出的光传给长通滤波片，再经过第二透镜汇聚到收集光纤中由光谱仪收集线状量子点色母粒发出的光的光谱信息。5.根据权利要求2所述的一种可实时监测量子点色母粒光学性能的方法，其特征在于：以原始的纯量子点光谱作为参考光谱，当监测到由造粒机挤出口、冷却水出口处以及风干的出口处出来的线状量子点色母粒的中心波长在
±
5nm范围内波动、半峰宽在
±
3nm范围内波动、以及发光强度在
±
10%范围内波动时,认为此时的线状量子点色母粒是合格的，否则则认为是不合格的。6.一种可实时监测量子点色母粒光学性能的测试系统，其特征在于，包括依次设置的：双螺杆挤出造粒机、水冷却处理系统、风干处理系统；并分别在造粒机挤出口、冷却水出口和风干处理出口处分别设置反射型光谱仪光纤探头；所述反射型光谱仪光纤探头连接至光谱仪和激光器，用于分别实时监测由造粒机挤出口、冷却水出口处以及风干的出口处的线状量子点色母粒的光学性能。7.根据权利要求6所述的一种可实时监测量子点色母粒光学性能的测试系统，其特征在于：所述反射型光谱仪光纤探头分别设置在造粒机挤出口、冷却水出口和风干处理出口上方10-20cm的位置，所述光纤探头直径为2-6mm，用于确保能够完整监测到量子点色母粒。8.根据权利要求7所述的一种可实时监测量子点色母粒光学性能的测试系统，其特征在于：在激光器和光谱仪连接光纤探头的结构中，通过所述激光器发出一束激发光，经过导入光纤、第一透镜、窄带滤波片到达反射镜；所述反射镜把激发光反射到二相色镜，再把激发光反射到第三透镜，随后激发光透过第三透镜汇聚到线状量子点色母粒上激发线状量子点色母粒发光；所述线状量子点色母粒发出的光被第三透镜收集并传到二相色镜，二相色镜再把线状量子点色母粒发出的光传给长通滤波片，再经过第二透镜汇聚到收集光纤中由光谱仪收集线状量子点色母粒发出的光的光谱信息。9.根据权利要求8所述的一种可实时监测量子点色母粒光学性能的测试系统，其特征在于：所述激光器发出的激光波长为470nm以下并可调；所述二相色镜用于反射部分激发
光，让其透过第三透镜激发线状量子点色母粒发光并使线状量子点色母粒发出的光完全透过并传输给长通滤波片。10.根据权利要求7所述的一种可实时监测量子点色母粒光学性能的测试系统，其特征在于：所述光纤探头采用包括石英或二氧化硅的耐高温材料，造粒机挤出口处的光纤探头材质至少耐200
°
c，且外部包有耐高温保护套；冷却水出口处的光纤探头材质至少耐100
°
c；风冷却出口处的光纤探头材质至少耐50
°
c。

技术总结
本发明提出一种可实时监测量子点色母粒光学性能的方法及测试系统，以原始的纯量子点光谱作为参考光谱，依次分别监测：造粒机挤出口处、冷却处理出口处以及风干处理出口处的线状量子点色母粒的中心波长、半峰宽、以及发光强度；以判断线状量子点色母粒品质是否合格。分别对量子点色母粒生产的各个阶段进行实时监测，及时筛选出不合格量子点色母粒，解决了量子点色母粒颜色不均匀，色差大，检测成本高等问题，有效提高了量子点色母粒的均匀性及合格率。格率。格率。


技术研发人员：叶芸 谢洪兴 郭太良 陈恩果 徐胜 李思杰
受保护的技术使用者：闽都创新实验室
技术研发日：2022.03.10
技术公布日：2022/6/1