电子部件处理用分选机的制作方法

本发明涉及一种电子部件处理用分选机，尤其涉及一种判断电子部件的装载不良(loading miss)的技术。

背景技术：

1、生产的电子部件经过多种处理过程(测试过程或分类过程等)而出货。

2、在针对电子部件的多种处理过程中使用用于操作电子部件的专用的分选机。

3、分选机可以根据在什么处理过程被使用而制造为多种形态。多种形态的分选机中，许多种类的分选机将托盘作为用于搬运电子部件的媒介而使用。使用托盘的原因之一是通过将大量的电子部件一同处理而提高处理容量。

4、但是，为了以装载(loading)于托盘的电子部件为对象进行处理作业(测试\分类等)，电子部件必须要准确地装载于托盘。如果电子部件未准确地装载于托盘，则可能在处理作业时发生不良。因此，需要在处理作业之前检查电子部件是否准确地装载于托盘。

5、装载不良的原因可以是多种原因。例如，装载作业的不良、位于托盘的装载部位的不良或电子部件自身的不良可能导致装载不良。随着电子部件变得越来越精细，这些装载不良的检查的重要性越来越高。

6、首先，装载作业的不良表示在将电子部件装载到托盘的过程中发生错误，因此电子部件未准确地安置于托盘的情形。通常，装载作业可以在分选机中自主地完成，或者在其他设备完成。在大多数情况下，配备有托盘的分选机具有装载装置，然而某些种类的分选机从其他设备接收完成装载的托盘。但是，由于不管在哪种情况下都必须要准确地完成装载作业才能够准确地执行分选机的处理作业，因此需要以完成装载作业的托盘为对象确认装载不良。

7、装载部位的不良是指由于将电子部件固定在托盘的闩锁的不良或安置其他电子部件的部位的机械不良而导致电子部件无法准确地安置于托盘的情形。

8、电子部件自身的不良由于在生产电子部件的过程中各种公差或生产过程的不当而发生。例如，在电子部件的端子尺寸或端子之间的间隔发生不良或者在整体的规格发生不良，从而可能导致装载不良。

9、以往，应用分选机的企业使用能够识别装载不良的程序。

10、初期，为了判断装载不良，在存储作为基准的正常图像(基准图像)之后，通过将存储的基准图像与拍摄的比较图像相互比较来判断装载不良(第一现有技术)。但是，由于这样的方式必须将整个基准图像与整个比较图像全部进行比较，因此检查速度较慢。并且，当在不可能成为发生不良的原因的部位由于其他器械的影子等而发生失真时，基准图像与比较图像彼此不同而可能判断为发生不良，因此检查的准确性降低。

11、因此，开发了如下的程序：通过手动或自动地单独指定托盘的特定部位(例如闩锁部位)或者电子部件的端子所在的部位等可能发生装载不良的特定区域而存储基准图像，然后将存储的特定区域与基准图像的特定区域进行比较(第二现有技术)。因此，可以通过特定区域之间的比较来缩短比较时间并提高检查的准确性。

12、然而，由于不管在以上的现有技术中提到的任何情况下，为了获取基准图像，都必须使用相机，因此存在以下问题。

13、第一，生产并提供分选机的供应商无法以能够判断装载不良的状态向使用分选机的消费者交货。其原因在于，即使照相机拍摄相同的部位，也会由于多样的照明环境或电子部件的颜色等而导致拍摄为彼此不同的图像，因此根据状况可能会获取到彼此不同的基准图像。但是，由于各个消费者使用分选机的照明环境不同，因此获取基准图像或设定要比较的特定区域的作业必须要作为在消费者的工作场所设置分选机的过程中的一项作业完成。并且，工作场所的照明环境可能随时改变，因此必须要反复进行获取基准图像的繁琐的作业。

14、第二，由于消费者任意决定基准图像的特定区域，因此其结果也各自不同，因此即使应用第二现有技术，在检查准确度方面也仍然会持续发生与第一现有技术相差无几的误差。并且，也可能会根据谁(哪位管理者)指定特定区域而发生误差，因此不能统一保证检查的可靠性。

15、并且，为了获取精确的基准图像，相机必须是高性能且昂贵的，并且要求作业者的熟练度必须较高，不仅如此，还有要求始终以相同的判断接近等各种限制条件。

16、并且，在要存储基准图像的情况下，图像数据容量大，并且用于获取基准图像的拍摄区域受到限制，因此需要设置拍摄设备且该设置存在限制，并且每次必须确保相机能够聚焦的空间，因此导致分选机大型化。

17、[现有技术文献]

18、[专利文献]

19、韩国授权专利公报第10-0717882号

技术实现思路

1、本发明具有如下所述的目的。

2、第一，提供一种如下的技术：不管在哪种现场环境还是由哪位管理者进行设定，都能够得出与加载不良相关的相同的检查结果。

3、第二，提供一种如下的技术：还能够掌握加载不良的类型，从而能够去除加载不良的原因或者树立改善方案。

4、第三，提供一种如下的技术：即使使用相对廉价的相机也能够准确地进行检查。

5、根据本发明的电子部件处理用分选机包括：装载装置，将电子部件装载到托盘；处理装置，对装载于托盘的电子元部件执行所需的处理作业；卸载装置，从测试托盘卸载通过所述处理装置完成处理的电子部件；相机，为了检测装载于托盘的电子部件的装载不良而拍摄托盘的下表面；移送装置，移送托盘，以使以行列形态装载于托盘的电子部件中的一部分暴露于所述相机的视角；以及控制装置，控制上述的各个构成，并且将从由所述相机拍摄的图像获得的比较信息值与预先输入的实际基准信息值进行比较，从而判断是否装载不良，其中，所述控制装置以使装载于测试托盘的电子部件依次暴露于所述相机的视角的方式控制所述移送装置，并控制所述相机拍摄测试托盘的下表面。

6、所述相机设置为视角的中心线相对于垂直线倾斜预定角度，所述相机在与测试托盘的一侧边平行的方向上设置为多个，所述测试托盘的一侧边与通过所述移送装置移动的测试托盘的移动方向垂直。

7、所述控制装置包括：存储结构，存储关于电子部件的基准信息值；获取结构，从通过所述相机获得的图像获取关于电子部件的比较信息值；以及判断结构，比较所述基准信息值与所述比较信息值而判断电子部件的装载不良。

8、所述基准信息值是关于实际待处理的电子部件的物理规格的数值，所述比较信息值是关于从由通过所述相机拍摄的图像中获得的物理规格的数值，所述控制装置还包括用于设定所述基准信息值与所述比较信息值的匹配比率的设定结构，所述判断结构通过所述基准信息值与所述比较信息值之间的匹配比率而判断装载不良。

9、并且，根据本发明的电子部件处理用分选机具有如下功能：存储功能，存储关于电子部件的基准信息值，其中，基准信息值包括数值信息，获取功能，从通过相机获取的关于电子部件的图像中获取能够与所述基准信息值进行比较的比较信息值；以及判断功能，比较所述基准信息值与比较信息值而判断电子部件的装载不良。

10、所述获取功能可以实现为，应用通过以预定的亮度为基准将像素的亮度变更为0和1的二进制法，从而获取关于电子部件的端子的比较信息值。

11、所述获取功能可以实现为，在应用二进制法之后，对横向纵向上的像素数量进行加和，若加和后的像素数量为预定的基准以上，则为1，若小于预定的基准，则变更为0，从而获得结果数据，并以“与”条件运算基于获得的结果数据的有效区域图像和通过相机获得的原始图像而检测端子。

12、还可以具有如下功能：设定功能，能够设定匹配比率，以根据所述基准信息值与所述比较信息值的匹配比率来判断装载不良。

13、所述判断功能实现为，能够通过比较转换基准信息值的数值转换值和转换比较信息值的数值转换值来判断装载不良。

14、所述存储功能实现为还能够存储关于托盘的规格的信息，

15、所述判断功能实现为，将关于电子部件及托盘的规格的信息用作所述基准信息值，从而不仅能够判断装载不良，还能够一同判断电子部件及托盘的不良。

16、根据本发明具有如下所述的效果。

17、第一，由于仅输入所有构成的数值即可，因此用于掌握加载不良的设定作业变得更容易。

18、第二，用于掌握加载不良的设定作业可以确保可靠性，而无需依赖于操作者(管理者)的熟练程度。

19、第三，与使用分选机的空间的照明状况或用于拍摄的所有装置的规格无关，能够准确地判断加载不良，并且能够通过使用相对低廉的相机来期望生产成本的降低。

20、第四，通过数值比较迅速完成判断过程，从而最终能够提高分选机的处理速度。

21、第五，通过对拍摄的图像进行校正，能够进一步提高检查的准确性。

22、第六，由于还掌握了加载不良的原因，因此可以根据加载不良寻求向后应对方案。