电子元件测试装置的制作方法

本发明涉及机械设备，尤其是一种电子元件测试装置。

背景技术：

1、气体传感器由有孔探头和无孔探头组装，为了有效检测到冷媒的电信号，需要常温下将无冷媒条件下的输出电压控制在1v～3v的范围内，这就需要挑选特性一样的ntc热敏电阻以适配有孔探头和无孔探头，为此，为此，需要对ntc热敏电阻进行分选。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种电子元件测试装置，能够对电子元件自动分选。

2、本发明的目的通过以下技术方案来实现：

3、一种电子元件测试装置，包括分选机构，所述分选机构包括抓手机构、摆料件、载具以及吸料组件，所述载具包括承载件和挡持件，所述挡持件可拆卸连接于所述承载件，所述摆料件具有第一凹槽和第二凹槽，所述第一凹槽用于放置所述承载件，所述第二凹槽用于放置所述挡持件，

4、所述吸料组件包括吸嘴、吸嘴驱动组件以及第一驱动部件，所述吸嘴连接于所述吸嘴驱动组件，所述吸嘴驱动组件用于控制所述吸嘴沿所述电子元件测试装置的高度方向移动，所述吸嘴驱动组件与所述第一驱动部件连接，所述抓手机构用于将所述挡持件放入所述第二凹槽。

5、本发明提供的电子元件测试装置，承载件位于第一凹槽，抓手机构将挡持件放置于第二凹槽，吸嘴驱动组件控制吸嘴从承载件吸取电子元件，第一驱动部件控制吸嘴平移，实现对电子元件进行自动分选。

技术特征：

1.一种电子元件测试装置，其特征在于，包括分选机构(30)，所述分选机构(30)包括抓手机构(6)、摆料件(301)、载具(20)以及吸料组件(302)，所述载具包括承载件(201)和挡持件(202)，所述挡持件(202)可拆卸连接于所述承载件(201)，所述摆料件(301)具有第一凹槽(3011)和第二凹槽(3012)，所述第一凹槽(3011)用于放置所述承载件(201)，所述第二凹槽(3012)用于放置所述挡持件(202)，

2.如权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述摆料件(301)为一体件，所述第一凹槽(3011)相对所述第二凹槽(3012)靠近所述吸料组件(302)，所述第一凹槽(3011)以及所述第二凹槽(3012)均自所述摆料件(301)的表面向内凹设而成。

3.如权利要求2所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述电子元件测试装置还包括第二驱动部件(40)，所述摆料件(301)连接于所述第二驱动部件(40)，所述第二驱动部件(40)用于控制所述摆料件(301)沿所述电子元件测试装置的宽度方向(w)移动，所述第一凹槽(3011)和所述第二凹槽(3012)沿所述宽度方向(w)排布于所述摆料件(301)。

4.如权利要求3所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述承载件(201)具有多个容置槽(2011)，所述容置槽(2011)用于放置所述电子元件，所述挡持件(202)用于接触所述载具(20)的所述容置槽(2011)的开口端，

5.如权利要求4所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述抓手机构(6)包括抓手(61)、夹持驱动部件(62)以及升降驱动组件(64)，所述抓手(61)连接于所述夹持驱动部件(62)，所述夹持驱动部件(62)连接于所述升降驱动组件(64)，所述电子元件测试装置包括第一平移驱动件(65)，所述升降驱动组件(64)连接于第一平移驱动件(65)，所述第一平移驱动件(65)用于控制所述抓手(61)沿所述电子元件测试装置的长度方向(l)移动。

6.如权利要求5所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述抓手(61)包括两个夹持部件(611)，所述夹持部件(611)设有第一凸起(6111)和第二凸起(6112)，所述承载件(201)和所述挡持件(202)均具有对接孔(203)，所述抓手(61)具有第一夹持状态和第二夹持状态，

7.如权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述电子元件测试装置包括烘干机(60)，所述烘干机(60)包括机箱(601)和加热组件(602)，所述机箱(601)包括第一主体部(6011)、第二主体部(6012)和凹部(6013)，所述凹部(6013)连接所述第一主体部(6011)和所述第二主体部(6012)，所述加热组件(602)设于所述第一主体部(6011)，所述第一主体部(6011)具有第一风口(601a)，所述第二主体部(6012)具有第二风口(601b)，所述第一风口(601a)与所述第二风口(601b)相对，所述凹部(6013)具有的腔体连通所述第一主体部(6011)的腔体和所述第二主体部(6012)的腔体，

8.如权利要求7所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述电子元件测试装置包括导向座(701)、导向轨(702)和底板(703)，所述摆料件(301)连接于所述导向座(701)，所述导向轨(702)连接于底板(703)，所述导向座(701)可滑动连接于所述底板(703)，所述烘干机(60)的所述凹部(6013)收纳于所述底板(703)与所述导向座(701)和所述摆料件(301)共同围成的空间。

9.如权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述吸嘴驱动组件包括吸嘴驱动件(3022)、第一固定座(3023)和第二固定座(3024)，所述吸嘴驱动件(3022)连接于所述第一固定座(3023)，所述吸嘴(3021)连接于所述第二固定座(3024)，所述第二固定座(3024)连接于所述吸嘴驱动件(3022)，所述第一固定座(3023)连接于所述第一驱动部件(50)。

10.如权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述分选机构(30)具有第一状态和第二状态，

技术总结本发明公开了一种电子元件测试装置，包括分选机构，分选机构包括抓手机构、摆料件、载具以及吸料组件，载具包括承载件和挡持件，挡持件可拆卸连接于承载件，摆料件具有第一凹槽和第二凹槽，第一凹槽用于放置承载件，第二凹槽用于放置挡持件，吸料组件包括吸嘴、吸嘴驱动组件以及第一驱动部件，吸嘴连接于所述吸嘴驱动组件，吸嘴驱动组件用于控制吸嘴沿电子元件测试装置的高度方向移动，吸嘴驱动组件与所述第一驱动部件连接，抓手机构用于将所述挡持件放入所述第二凹槽。本发明提供的电子元件测试装置能够对电子元件进行自动分选。技术研发人员：请求不公布姓名,请求不公布姓名,请求不公布姓名,请求不公布姓名,请求不公布姓名受保护的技术使用者：浙江三花智能控制股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/7/9