一种PLC测试系统、方法及计算机可读存储介质与流程

本文涉及可编程逻辑控制器(programmable logic controller，plc)测试技术，尤指一种plc测试系统、方法及计算机可读存储介质。

背景技术：

1、plc是一种专门为在工业环境下应用而设计的数字运算操作电子系统。它采用一种可编程的存储器，在其内部存储执行逻辑运算、顺序控制、定时、计数和算术运算等操作的指令，通过数字式或模拟式的输入输出来控制各种类型的机械设备或生产过程。plc在实际应用前往往需要通过大量测试以确保其性能。

2、相关技术中，plc的测试需要在实际运行环境中进行，其输入接口(如数字输入、模拟电流型输入、模拟电压型输入)、输出接口(如数字输出、模拟量输出)需要与特定的周边设备接口相连，以接收周边设备输出的特定信号并向周边设备输入信号。

3、然而，这种方式plc和运行环境完全绑定，只能在现场进行测试，因此需要部署真实周边设备，十分依赖真实运行环境，测试过程资源耗费较大。

技术实现思路

1、本申请提供了一种plc测试系统、方法及计算机可读存储介质，能够避免真实周边设备的部署，从而极大程度节省测试过程的资源耗费。

2、一方面，本申请提供了一种plc测试系统，包括：上位机、下位机和待测试plc；

3、所述上位机，用于获取待执行的目标测试用例的标识信息，从预先保存的测试用例集合中获取所述目标测试用例，并从所述目标测试用例中获取由周边设备执行的测试步骤的信息，根据获得的由周边设备执行的测试步骤的信息控制所述下位机执行相应的测试步骤；

4、所述下位机，用于在所述上位机的控制下执行所述目标测试用例中由周边设备执行的测试步骤；

5、所述待测试plc，用于执行与所述目标测试用例对应的待测试plc执行的测试步骤；

6、其中，所述测试用例集合中的每个测试用例，均根据实际测试场景中待测试plc与其配套的周边设备配合进行测试的测试过程生成；每个测试用例包括：该测试用例中由与所述测试plc配套的周边设备执行的测试步骤的信息。

7、另一方面，本申请提供了一种plc测试方法，包括：

8、所述上位机获取待执行的目标测试用例的标识信息，从预先保存的测试用例集合中获取所述目标测试用例，并从所述目标测试用例中获取由周边设备执行的测试步骤的信息，根据获得的由周边设备执行的测试步骤的信息控制所述下位机执行相应的测试步骤；

9、所述下位机在所述上位机的控制下执行所述目标测试用例中由周边设备执行的测试步骤；

10、所述待测试plc执行与所述目标测试用例对应的待测试plc执行的测试步骤；

11、其中，所述测试用例集合中的每个测试用例，均根据实际测试场景中待测试plc与其配套的周边设备配合进行测试的测试过程生成；每个测试用例包括：该测试用例中由与所述测试plc配套的周边设备执行的测试步骤的信息。

12、又一方面，本申请提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质上存储有计算机可执行命令，所述计算机可执行命令用于执行如上所述的plc测试方法。

13、与相关技术相比，本申请实施例上位机从所述目标测试用例中获取由周边设备执行的测试步骤的信息，根据获得的由周边设备执行的测试步骤的信息控制所述下位机执行相应的测试步骤，下位机在所述上位机的控制下执行所述目标测试用例中由周边设备执行的测试步骤，从而在上位机的控制下，下位机和待测试plc配合就完成了对plc的测试，避免了真实周边设备的部署，从而极大程度节省了测试过程的资源耗费。

14、本申请的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本申请而了解。本申请的其他优点可通过在说明书以及附图中所描述的方案来实现和获得。

15、本申请的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本申请而了解。本申请的其他优点可通过在说明书以及附图中所描述的方案来实现和获得。

技术特征：

1.一种plc测试系统，其特征在于，包括：上位机、下位机和待测试plc；

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述由周边设备执行的测试步骤包括至少一个，每个由周边设备执行的测试步骤的信息均包括：该测试步骤的执行内容、该测试步骤的执行时间。

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述上位机根据获得的由周边设备执行的测试步骤的信息控制所述下位机执行相应的测试步骤，包括：

4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述下位机上配置有多个对应不同测试用例的接口配置信息表，每个测试用例对应一个接口配置信息表；

5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，每个接口配置信息表根据其对应的测试用例中所述待测试plc的引脚与所述周边设备的接口的对应关系生成；

6.根据权利5所述的系统，其特征在于，所述该测试步骤的执行内容包括：向所述待测试plc输出信号值为第一预设值，类型为第一预设类型的第一测试信号，所述下位机在所述上位机的控制下执行所述目标测试用例中由周边设备执行的测试步骤，包括：

7.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述该测试步骤的执行内容包括：接收所述待测试plc输入类型为第二预设类型的第二测试信号，所述下位机在所述上位机的控制下执行所述目标测试用例中由周边设备执行的测试步骤，包括：

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述该测试步骤的执行内容还包括：按照预设判断逻辑对所述第二测试信号进行判断并返回判断结果，所述下位机在所述上位机的控制下执行所述目标测试用例中由周边设备执行的测试步骤，还包括：

9.一种plc测试方法，其特征在于，应用于如权利要求1-8任一项所述的plc测试系统中，所述方法包括：

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，包括：所述存储介质上存储有计算机可执行命令，所述计算机可执行命令用于执行如权利要求9项所述的plc测试方法。

技术总结一种PLC测试系统、方法及计算机可读存储介质，包括：上位机、下位机和待测试PLC；上位机，用于获取待执行的目标测试用例的标识信息，从预先保存的测试用例集合中获取目标测试用例，并从目标测试用例中获取由周边设备执行的测试步骤的信息，根据获得的由周边设备执行的测试步骤的信息控制下位机执行相应的测试步骤；下位机，用于在上位机的控制下执行目标测试用例中由周边设备执行的测试步骤；待测试PLC，用于执行与目标测试用例对应的待测试PLC执行的测试步骤。本申请实施例在上位机的控制下，下位机和待测试PLC配合就完成了对PLC的测试，避免了真实周边设备的部署，从而极大程度节省了测试过程的资源耗费。技术研发人员：毕守红,霍晨生受保护的技术使用者：北京旋极信息技术股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/6/18