质量分析装置及其控制方法与流程

本发明涉及一种具备离子导向部的质量分析装置，特别涉及施加于离子导向部的电压的控制。

背景技术：

1、质量分析装置是使用根据质量m与电荷z之比即质量电荷比m/z分离并检测由试料生成的离子而得到的质谱来分析试料的装置。许多质量分析装置包括利用高频电场产生的离子的收敛作用的离子导向器，以有效地将生成的离子传输到根据质量电荷比分离离子的滤质器中。

2、由于离子在离子导向器的高频电场的作用下边振动边被传输，因此能够通过离子导向器的离子的质量电荷比的范围受到施加到离子导向器的高频电压的大小的限制。因此，为了在较宽的质量电荷比范围内得到质谱，使用下述方法：一边改变高频电压的大小一边执行多次测定，并累计对应于通过各测定得到的不同质量电荷比范围的质谱。但是，与质量电荷比范围较窄的情况相比，当质量电荷比范围变宽时，在质量电荷比较低的区域，峰值强度相对降低。

3、在专利文献1中公开了减轻质量电荷比较低的区域的峰值强度的降低的质量分析装置。具体而言，公开了下述内容：设定施加在离子导向器上的高频电压，以使得即使在质量电荷比范围不同的情况下，在质量电荷比较低的区域中的离子的通过效率为相对较高的状态的高频电压下的测定的比例也为相同程度。

4、现有技术文献

5、专利文献

6、专利文献1：日本专利第6923078号公报

技术实现思路

1、发明所要解决的技术问题

2、但是，在专利文献1中，由于在改变施加在离子导向器上的高频电压的大小的同时执行多次测定，因此获得遍及较宽的质量电荷比范围的质谱需要较长时间。

3、因此，本发明的目的在于提供一种能够缩短获得遍及较宽质量电荷比范围的质谱所需的时间的质量分析装置及其控制方法。

4、解决技术问题的技术方案

5、为了达到上述目的，本发明是一种质量分析装置，包括由试料生成离子的离子化部、根据质量电荷比分离所述离子的滤质器、以及检测由所述滤质器分离的离子的检测部，该质量分析装置的特征在于，还包括：将所述离子输送到所述滤质器的离子导向器；以及控制部，该控制部一边执行使施加到所述离子导向器的高频电压随时间增加的扫描控制(sweep control)和使所述高频电压保持恒定的步进控制，一边使用所得到的检测信号来生成质谱或质量色谱图。

6、另外，本发明是一种质量分析装置的控制方法，该质量分析装置包括由试料生成离子的离子化部、根据质量电荷比分离所述离子的滤质器、以及检测分离得到的每个离子的强度的检测部，该质量分析装置的控制方法的特征在于，一边执行使施加到将所述离子输送到所述滤质器的离子导向器的高频电压随时间增加的扫描控制和使所述高频电压保持恒定的步进控制，一边使用所得到的检测信号来生成质谱或质量色谱图。

7、发明效果

8、根据本发明，可以提供一种能够缩短获得遍及较宽质量电荷比范围的质谱所需的时间的质量分析装置及其控制方法。

技术特征：

1.一种质量分析装置，包括：

2.如权利要求1所述的质量分析装置，其特征在于，

3.一种质量分析装置的控制方法，

4.如权利要求3所述的控制方法，其特征在于，

技术总结本发明为了提供一种能够缩短获得遍及宽质量电荷比范围的质谱所需的时间的质量分析装置，包括：由试料生成离子的离子化部、根据质量电荷比分离所述离子的滤质器、以及检测由所述滤质器分离的离子的检测部，该质量分析装置的特征在于，还包括：将所述离子输送到所述滤质器的离子导向器；以及控制部，该控制部一边执行使施加到所述离子导向器的高频电压随时间增加的扫描控制和使所述高频电压保持恒定的步进控制，一边使用所得到的检测信号来生成质谱或质量色谱图。技术研发人员：中村花菜,师子鹿司,吉江正树受保护的技术使用者：株式会社日立高新技术技术研发日：技术公布日：2024/7/29