温度检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质与流程

本申请涉及半导体存储领域，尤其涉及一种温度检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。

背景技术：

1、电子设备中的存储器需要进行温度监控，否则电子设备在高温下不能够及时针对高温进行异常处理。如此，会造成存储器中的数据丢失。目前一般方式的处理方式是增加温度传感器，但是如此会增加成本、增加体积电子设备的体积。如果不增加温度传感器，目前具有存储器的电子设备无法独立进行温度检测。

技术实现思路

1、有鉴于此，有必要提供一种温度检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，能够在不借助温度传感器的情况下，对电子设备进行温度检测。

2、本申请的第一方面提供一种温度检测方法，应用于电子设备，所述温度检测方法包括：

3、在预设时间内重复向存储器发送操作指令，以控制所述存储器执行预设操作；

4、统计所述预设时间内所述预设操作的执行次数；及

5、根据所述执行次数，确定所述电子设备的温度。

6、可选地，所述统计所述预设时间内所述预设操作的执行次数包括：统计所述预设时间内所述存储器由就绪状态切换为忙碌状态，再由忙碌状态切换为就绪状态的次数，其中，所述存储器每次响应于所述操作指令时，由就绪状态切换为忙碌状态，每执行完毕一次预设操作时，由忙碌状态切换为就绪状态。

7、可选地，所述在预设时间内重复向所述存储器发送操作指令包括：在所述预设时间内重复不间断的向所述存储器发送操作指令，以控制所述存储器执行所述预设操作，其中，所述操作指令为读操作指令，所述预设操作为读操作。

8、可选地，所述根据所述执行次数，确定所述电子设备的温度包括：根据所述执行次数从若干个预设次数范围中确定目标次数范围，其中，每一所述预设次数范围对应一个下限温度；及确定所述目标次数范围对应的所述下限温度为所述电子设备的温度。

9、本申请的第二方面提供一种温度检测装置，应用于电子设备，所述温度检测装置包括：

10、发送模块，用于在预设时间内重复向存储器发送操作指令，以控制所述存储器执行预设操作；

11、统计模块，用于统计所述预设时间内所述预设操作的执行次数；及

12、确定模块，用于根据所述执行次数，确定所述电子设备的温度。

13、可选地，所述统计模块用于统计所述预设时间内所述存储器由就绪状态切换为忙碌状态，再由忙碌状态切换为就绪状态的次数，其中，所述存储器每次响应于所述操作指令时，由就绪状态切换为忙碌状态，每执行完毕一次预设操作时，由忙碌状态切换为就绪状态。

14、可选地，所述发送模块用于在所述预设时间内重复不间断的向所述存储器发送操作指令，以控制所述存储器执行所述预设操作，其中，所述操作指令为读操作指令，所述预设操作为读操作。

15、可选地，所述确定模块用于根据所述执行次数从若干个预设次数范围中确定目标次数范围，其中，每一所述预设次数范围对应一个下限温度；及确定所述目标次数范围对应的所述下限温度为所述电子设备的温度。

16、本申请的第三方面一种电子设备，所述电子设备包括控制器和存储器，所述存储器用于存储多条程序指令，所述控制器调用所述程序指令时，实现如上所述的温度检测方法。

17、本申请的第四方面一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储多条程序指令，所述多条程序指令适于由控制器加载并执行如上所述的温度检测方法。

18、本申请相比于现有技术，至少具有如下有益效果：

19、通过控制器输出预设操作指令使得存储器在预设时间内重复执行预设操作，并统计存储器执行预设操作的总的执行次数，进而获得电子设备的温度。

技术特征：

1.一种温度检测方法，应用于电子设备，其特征在于，所述方法包括：

2.如权利要求1所述的温度检测方法，其特征在于，所述统计所述预设时间内所述预设操作的执行次数包括：统计所述预设时间内所述存储器由就绪状态切换为忙碌状态，再由忙碌状态切换为就绪状态的次数，其中，所述存储器每次响应于所述操作指令时，由就绪状态切换为忙碌状态，每执行完毕一次预设操作时，由忙碌状态切换为就绪状态。

3.如权利要求1所述的温度检测方法，其特征在于，所述在预设时间内重复向所述存储器发送操作指令包括：在所述预设时间内重复不间断的向所述存储器发送操作指令，以控制所述存储器执行所述预设操作，其中，所述操作指令为读操作指令，所述预设操作为读操作。

4.如权利要求1所述的温度检测方法，其特征在于，所述根据所述执行次数，确定所述电子设备的温度包括：

5.一种温度检测装置，其特征在于，应用于电子设备，所述装置包括：

6.如权利要求5所述的温度检测装置，其特征在于，所述统计模块用于统计所述预设时间内所述存储器由就绪状态切换为忙碌状态，再由忙碌状态切换为就绪状态的次数，其中，所述存储器每次响应于所述操作指令时，由就绪状态切换为忙碌状态，每执行完毕一次预设操作时，由忙碌状态切换为就绪状态。

7.如权利要求5所述的温度检测装置，其特征在于，所述发送模块用于在所述预设时间内重复不间断的向所述存储器发送操作指令，以控制所述存储器执行所述预设操作，其中，所述操作指令为读操作指令，所述预设操作为读操作。

8.如权利要求5所述的温度检测装置，其特征在于，所述确定模块用于根据所述执行次数从若干个预设次数范围中确定目标次数范围，其中，每一所述预设次数范围对应一个下限温度；及确定所述目标次数范围对应的所述下限温度为所述电子设备的温度。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括控制器和存储器，所述存储器用于存储多条程序指令，所述控制器调用所述程序指令时，实现如权利要求1至4中任一项所述的温度检测方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储多条程序指令，所述多条程序指令适于由控制器加载并执行如权利要求1至4中任一项所述的温度检测方法。

技术总结本申请实施例提出一种电子设备温度检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，所述温度检测方法在预设时间内重复向存储器发送操作指令，以控制所述存储器执行预设操作；统计所述预设时间内所述预设操作的执行次数；及根据所述执行次数，确定所述电子设备的温度。通本申请过控制器输出预设操作指令使得存储器在预设时间内重复执行预设操作，并统计存储器执行预设操作的总的执行次数，进而获得电子设备的温度。技术研发人员：林前锋,李顺国,李宝杰,孔维镇受保护的技术使用者：深圳市江波龙电子股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/15