用以检测攻击的温度变化测量的制作方法
- 国知局
- 2024-07-31 19:12:09
涉及用以检测攻击的温度变化测量。
背景技术:
1、存储器装置广泛用于在各种电子装置(例如计算机、用户装置、无线通信装置、照相机、数字显示器及类似者)中存储信息。通过将存储器装置内的存储器单元编程为各种状态来存储信息。举例来说,二进制存储器单元可被编程为两个支持的状态中的一者,通常由逻辑1或逻辑0表示。在一些实例中,单个存储器单元可支持两个以上状态,可存储其中的任一者。为存取所存储信息,组件可读取(例如,感测、检测、检索、识别、确定、评估)存储器装置中的所存储状态。为存储信息,组件可在存储器装置中写入(例如,编程、设置、指派)状态。
2、存在各种类型的存储器装置,包含磁性硬盘、随机存取存储器(ram)、只读存储器(rom)、动态ram(dram)、同步动态ram(sdram)、静态ram(sram)、铁电ram(feram)、磁性ram(mram)、电阻式ram(rram)、快闪存储器、相变存储器(pcm)、自选择存储器、硫属化物存储器技术,或非(nor)及与非(nand)存储器装置及其它。可根据易失性配置或非易失性配置来描述存储单元。即使在不存在外部电源的情况下,以非易失性配置进行配置的存储单元也可在延长时间段内维持所存储逻辑状态。以易失性配置进行配置的存储单元在与外部电源断开连接时可能丢失所存储状态。
技术实现思路
1、描述了一种方法。所述方法可包含:使用与存储器装置的动态随机存取存储器(dram)组件相关联的一或多个传感器来测量多个温度读数;在所述存储器装置处至少部分基于所述多个温度读数来检测所述dram组件处的温度的变化率;以及至少部分基于所述温度的所述变化率满足第一阈值来停用所述存储器装置的一或多个特征。
2、描述了一种设备。所述设备可包含:存储器单元阵列,其各自包括电容式存储元件;传感器,其经配置以测量所述存储器单元阵列的多个温度读数;及逻辑,其与所述传感器耦合且可操作以致使所述设备:使用来自所述传感器的所述多个温度读数中的一或多者来确定所述存储器单元阵列的温度的变化率;以及响应于所述温度的所述变化率满足阈值而在所述设备处执行操作。
3、描述了一种设备。所述设备可包含:存储器单元阵列,其各自包括电容式存储元件;传感器,其经配置以测量所述存储器单元阵列的温度的变化率;及电路系统,其与所述传感器耦合且可操作以:接收指示所述温度的所述变化率的第一信令;响应于所述温度的所述变化率满足阈值来切换所述电路系统的锁存器;以及响应于切换所述锁存器而传输指示用以停用所述存储器单元阵列的一或多个特征的命令的第二信令。
4、描述了一种设备。所述设备可包含:存储器装置;及逻辑,其与所述存储器装置耦合且可操作以致使所述设备:使用与所述存储器装置的动态随机存取存储器(dram)组件相关联的一或多个传感器来测量多个温度读数;至少部分基于所述多个温度读数来检测所述dram组件处的温度的变化率;以及至少部分基于所述温度的所述变化率满足第一阈值来停用所述存储器装置的一或多个特征。
5、描述了一种存储代码的非暂时性计算机可读媒体。所述代码可包含可由处理器执行的指令以:使用与存储器装置的动态随机存取存储器(dram)组件相关联的一或多个传感器来测量多个温度读数;在所述存储器装置处至少部分基于所述多个温度读数来检测所述dram组件处的温度的变化率;以及至少部分基于所述温度的所述变化率满足第一阈值来停用所述存储器装置的一或多个特征。
技术特征:1.一种方法,其包括:
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述一或多个传感器位于所述dram组件处,且经配置以至少部分基于所述多个温度读数来检测对所述存储器装置的攻击,且其中停用所述存储器装置的所述一或多个特征是至少部分基于检测到对所述存储器装置的所述攻击。
3.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:
4.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:
5.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:
6.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:
7.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:
8.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:
9.根据权利要求8所述的方法,其进一步包括:
10.根据权利要求8所述的方法,其进一步包括:
11.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:
12.根据权利要求1所述的方法,其中所述dram组件处的所述温度满足对应于绝对温度读数且指示正常操作条件的第二阈值。
13.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:
14.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:
15.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:
16.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:
17.一种设备,其包括:
18.根据权利要求17所述的设备,其中所述操作包括向主机装置传输指示通知的信令,所述通知指示所述温度的所述变化率满足所述阈值,锁定对所述存储器单元阵列的一或多个存取命令的执行,或释放所述存储器单元阵列的至少一部分,或其任一组合。
19.根据权利要求17所述的设备,其进一步包括:
20.一种设备,其包括:
21.根据权利要求20所述的设备,其进一步包括:
22.一种设备,其包括:
23.根据权利要求22所述的设备,其中所述一或多个传感器位于所述dram组件处,且经配置以至少部分基于所述多个温度读数来检测对所述存储器装置的攻击,且其中停用所述存储器装置的所述一或多个特征是至少部分基于检测到对所述存储器装置的所述攻击。
24.根据权利要求22所述的设备,其中所述逻辑进一步能够操作以致使所述设备:
25.根据权利要求22所述的设备,其中所述逻辑进一步能够操作以致使所述设备:
26.根据权利要求22所述的设备,其中所述逻辑进一步能够操作以致使所述设备:
27.根据权利要求22所述的设备,其中所述逻辑进一步能够操作以致使所述设备:
28.根据权利要求22所述的设备,其中所述逻辑进一步能够操作以致使所述设备:
29.根据权利要求22所述的设备,其中所述逻辑进一步能够操作以致使所述设备:
30.根据权利要求29所述的设备,其中所述逻辑进一步能够操作以致使所述设备:
31.根据权利要求29所述的设备,其中所述逻辑进一步能够操作以致使所述设备:
32.根据权利要求22所述的设备,其中所述逻辑进一步能够操作以致使所述设备:
33.根据权利要求22所述的设备,其中所述逻辑进一步能够操作以致使所述设备:
34.根据权利要求22所述的设备,其中所述逻辑进一步能够操作以致使所述设备:
35.一种存储代码的非暂时性计算机可读媒体,所述代码包括能够由处理器执行以进行以下操作的指令:
技术总结本申请案涉及用以检测攻击的温度变化测量。一种存储器装置可以测量存储器装置的动态随机存取存储器DRAM组件处的温度读数的变化率(例如,使用所述DRAM组件处的传感器)。所述存储器装置可以例如使用电路系统、存储在存储器中的阈值或两者来比较所述温度的所述变化率与阈值。如果所述存储器装置确定所述温度的所述变化率满足所述阈值,那么所述存储器装置可以停用所述存储器装置的一或多个特征以防止潜在攻击。例如,可以通过所述DRAM组件处的温度读数的变化来指示对所述存储器装置的攻击,且所述存储器装置可以基于检测到所述温度变化来执行一或多个保护性措施。技术研发人员:A·P·贝姆,D·赫尔顿,J·赫里茨,T·施米茨,M·S·沃赫拉受保护的技术使用者:美光科技公司技术研发日:技术公布日:2024/1/15本文地址:https://www.jishuxx.com/zhuanli/20240731/181834.html
版权声明:本文内容由互联网用户自发贡献,该文观点仅代表作者本人。本站仅提供信息存储空间服务,不拥有所有权,不承担相关法律责任。如发现本站有涉嫌抄袭侵权/违法违规的内容, 请发送邮件至 YYfuon@163.com 举报,一经查实,本站将立刻删除。
下一篇
返回列表