一种存储器的处理系统及处理方法与流程

本发明涉及存储领域，特别涉及一种存储器的处理系统及处理方法。

背景技术：

1、内嵌式存储器（embedded multi media card，emmc）在电视机、机顶盒、平板电脑、手机等电子产品中广泛应用。emmc是由arm cpu作为控制器再加上闪存块（nand flash）构成，其中arm cpu会运行控制器软件，通常称为固件(firmware)。

2、电子产品在开机过程中，需要内嵌式存储器能够快速响应。目前的内嵌式存储器在开机过程中升速流程较慢，无法快速响应电子产品的主处理器（cpu）的指令。因此，存在待改进之处。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种存储器的处理系统及处理方法，以提升电子产品的开机速度。

2、为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：

3、本发明提供了一种存储器的处理系统，包括：

4、测试温箱，被配置为根据预设条件，调节测试的环境温度，以获取不同的环境温度范围；以及

5、测试板，位于所述测试温箱内，所述测试板被配置为与电子产品的类型相适配，并搭建对应的测试环境；

6、其中，所述测试板还被配置为对所述电子产品的待测存储器进行测试，以获取不同所述环境温度范围下的调试参数；

7、所述测试板还被配置为选取不同所述环境温度范围下的最优调试参数，生成调试文件，并将所述调试文件写入到所述待测存储器的固件闪存块内。

8、在本发明一实施例中，所述测试板包括：

9、集成电路板，被配置为通讯连接于所述待测存储器；以及

10、处理模块，被配置为控制所述集成电路板对所述待测存储器进行测试。

11、在本发明一实施例中，所述处理模块的类型与电子产品的处理器的类型相同。

12、在本发明一实施例中，所述处理模块还被配置为获取连续的所述环境温度范围，并在不同环境温度范围下分别对所述待测存储器进行测试，以获取不同所述环境温度范围下对应的多个调试参数。

13、在本发明一实施例中，所述处理模块还被配置为根据不同所述环境温度范围下的多个调试参数，获取不同所述环境温度范围下的最优调试参数与对应的系统开机时长。

14、在本发明一实施例中，所述处理模块还被配置为将不同所述最优调试参数与对应的所述系统开机时长进行整合，以生成调试文件。

15、在本发明一实施例中，所述处理模块还被配置为将所述调试文件写入到待测存储器的固件闪存块内，以生成目标存储器。

16、在本发明一实施例中，所述目标存储器被配置为响应于电子产品的处理器的开机指令，根据所述处理器的类型及环境温度，选择所述调试文件内对应的最优调试参数，以启动所述电子产品。

17、本发明还提供了一种存储器的处理方法，包括：

18、根据电子产品的类型，获取相互适配的测试板，以搭建对应的测试环境；

19、根据预设条件，调节测试的环境温度，对所述电子产品的待测存储器进行测试，以获取不同环境温度范围下的调试参数；

20、选取不同所述环境温度范围下的最优调试参数，生成调试文件，并将所述调试文件写入到所述待测存储器的固件闪存块内。

21、在本发明一实施例中，在所述根据电子产品的类型，获取相互适配的测试板，以搭建对应的测试环境的步骤后，还包括：对所述测试板进行供电，以选择对应的系统镜像文件进行烧录。

22、如上所述，本发明提供一种存储器的处理系统及处理方法，通过对存储器进行改进，能够在开机过程中跳过存储器的升速流程，显著提高了电子产品的开机速度。

23、当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

技术特征：

1.一种存储器的处理系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储器的处理系统，其特征在于，所述测试板包括：

3.根据权利要求2所述的存储器的处理系统，其特征在于，所述处理模块的类型与电子产品的处理器的类型相同。

4.根据权利要求2所述的存储器的处理系统，其特征在于，所述处理模块还被配置为获取连续的环境温度范围，并在不同所述环境温度范围下分别对所述待测存储器进行测试，以获取不同所述环境温度范围下对应的多个调试参数。

5.根据权利要求4所述的存储器的处理系统，其特征在于，所述处理模块还被配置为根据不同所述环境温度范围下的多个调试参数，获取不同所述环境温度范围下的最优调试参数与对应的系统开机时长。

6.根据权利要求5所述的存储器的处理系统，其特征在于，所述处理模块还被配置为将不同所述最优调试参数与对应的所述系统开机时长进行整合，以生成调试文件。

7.根据权利要求6所述的存储器的处理系统，其特征在于，所述处理模块还被配置为将所述调试文件写入到待测存储器的固件闪存块内，以生成目标存储器。

8.根据权利要求7所述的存储器的处理系统，其特征在于，所述目标存储器被配置为响应于电子产品的处理器的开机指令，根据所述处理器的类型及环境温度，选择所述调试文件内对应的最优调试参数，以启动所述电子产品。

9.一种存储器的处理方法，其特征在于，包括：

10.根据权利要求9所述的存储器的处理方法，其特征在于，在所述根据电子产品的类型，获取相互适配的测试板，以搭建对应的测试环境的步骤后，还包括：对所述测试板进行供电，以选择对应的系统镜像文件进行烧录。

技术总结本发明提供了一种存储器的处理系统及处理方法，包括：测试温箱，被配置为根据预设条件，调节测试的环境温度，以获取不同的环境温度范围；以及测试板，位于所述测试温箱内，所述测试板被配置为与电子产品的类型相适配，并搭建对应的测试环境；其中，所述测试板还被配置为对所述电子产品的待测存储器进行测试，以获取不同所述环境温度范围下的调试参数；所述测试板还被配置为选取不同所述环境温度范围下的最优调试参数，生成调试文件，并将所述调试文件写入到所述待测存储器的固件闪存块内。通过本发明提供的一种存储器的处理系统及处理方法，能够提升电子产品的开机速度。技术研发人员：余玉,许展榕受保护的技术使用者：合肥康芯威存储技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/15