变更可靠性应急测试时长的方法及其系统与流程

本发明涉及可靠性测试，尤其涉及一种变更可靠性应急测试时长的方法及其系统、非瞬时计算机可读取记录媒体。

背景技术：

1、产品例如芯片在进入量产时不仅需经过严格的验证测试流程，例如特性验证测试、可靠性验证测试等，而且需事先准备高效可靠的测试方案，一般而言，对芯片进行标准可靠性测试的测试时长最短为7天，最长需3个月。

2、在实际生产中，在对芯片进行标准可靠性测试时，倘若在测试即将完成前(例如在芯片进行标准可靠性测试第6天时)芯片出现质量异常或测试失败，此时由于时间及成本关系无法再重新对产品进行抽样、标准可靠性测试等一系列操作，从而急需一种可有效缩短测试时长、可对产品进行快速的可靠性测试，且可及时预判产品质量稳定性的测试方式，以避免在量产时产品出现大批量异常爆发。

技术实现思路

1、本发明提供一种变更可靠性应急测试时长的方法及其系统、非瞬时计算机可读取记录媒体，可有效缩短测试时长、对产品进行快速的可靠性应急测试。

2、本发明的一种变更可靠性应急测试时长的方法，包括：将标准可靠性测试中的使用条件进行变更，以获取测试条件，依据测试条件及加速老化测试模型获取加速因子，依据加速因子以及产品需达到的使用寿命获取测试时长，在测试条件下依据测试时长对测试样品进行可靠性应急测试；以及对经可靠性应急测试后的测试样品进行下机电测测试测试样品。

3、在本发明的一实施例中，上述的方法，其中依据测试条件及加速老化测试模型获取加速因子的步骤还包括依据测试条件及公式(1)获取加速因子，af＝(rht/rhu)^3＊exp{(ea/k)＊[1/tu-1/tt]}...公式(1)

4、其中af为加速因子，rht为测试条件下的相对湿度值，rhu为使用条件下的相对湿度值，ea为激活能且测试样品的激活能的值为0.67，k为玻尔兹曼常数且k＝8.617385mt5，tu为使用条件下的温度值，tt为测试条件下的温度值。

5、在本发明的一实施例中，上述的方法，其中该方法还包括判定是否对测试样品进行可靠性应急测试；倘若判定对测试样品进行可靠性应急测试，则通过上位机发出指令以对测试样品进行可靠性应急测试；以及响应于指令，在测试条件下依据测试时长对测试样品进行可靠性应急测试。

6、在本发明的一实施例中，上述的方法，其中该方法还包括倘若判定不对测试样品进行可靠性应急测试，则对测试样品进行标准可靠性测试；以及对经标准可靠性测试后的测试样品进行下机电测测试测试样品。

7、在本发明的一实施例中，上述的方法，其中判定是否对测试样品进行可靠性应急测试的步骤还包括依据抽样规范对产品进行分散抽样，以获取测试样品；对测试样品进行标准可靠性测试；以及对经标准可靠性测试后的测试样品进行下机电测测试测试样品。

8、本发明的一种变更可靠性应急测试时长的方法，包括判定是否对测试样品进行可靠性应急测试；倘若判定对测试样品进行可靠性应急测试，则通过上位机发出指令以对测试样品进行可靠性应急测试；响应于指令，将标准可靠性测试中的使用条件进行变更，以获取测试条件，依据测试条件及加速老化测试模型获取加速因子，依据加速因子以及产品需达到的使用寿命获取测试时长，在测试条件下依据测试时长对测试样品进行可靠性应急测试；以及对经可靠性应急测试后的测试样品进行下机电测测试测试样品。

9、在本发明的一实施例中，上述的方法，其中依据测试条件及加速老化测试模型获取加速因子的步骤还包括依据测试条件及公式(1)获取加速因子，af＝(rht/rhu)^3＊exp{(ea/k)＊[1/tu-1/tt]}...公式(1)

10、其中af为加速因子，rht为测试条件下的相对湿度值，rhu为使用条件下的相对湿度值，ea为激活能且测试样品的激活能的值为0.67，k为玻尔兹曼常数且k＝8.617385mt5，tu为使用条件下的温度值，tt为测试条件下的温度值。

11、在本发明的一实施例中，上述的方法，其中该方法还包括倘若判定不对测试样品进行可靠性应急测试，则对测试样品进行标准可靠性测试；以及对经标准可靠性测试后的测试样品进行下机电测测试测试样品。

12、在本发明的一实施例中，上述的方法，其中判定是否对测试样品进行可靠性应急测试的步骤还包括依据抽样规范对产品进行分散抽样，以获取测试样品；对测试样品进行标准可靠性测试；以及对经标准可靠性测试后的测试样品进行下机电测测试测试样品。

13、本发明的一种变更可靠性应急测试时长的系统，包括存储装置以及处理器处理器，电性连接所述存储装置，经配置以执行所述存储装置中的指令以执行如前所述的变更可靠性应急测试时长的方法。

14、本发明的一种非瞬时计算机可读取记录媒体，非瞬时计算机可读取记录媒体存储有指令，经由电子装置加载以执行如前所述的变更可靠性应急测试时长的方法。

15、基于上述，本发明提供一种变更可靠性应急测试时长的方法及其系统、非瞬时计算机可读取记录媒体，可有效缩短测试时长、对产品进行快速的可靠性应急测试，不仅及时预判产品质量稳定性，而且可依据测试结果确认该批次测试样品的稳定性，供后续量产前预判风险，从而避免在量产时产品出现大批量异常爆发。

16、为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

技术特征：

1.一种变更可靠性应急测试时长的方法，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述依据所述测试条件及所述加速老化测试模型获取所述加速因子的步骤还包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，判定是否对所述测试样品进行所述可靠性应急测试的步骤还包括：

6.一种变更可靠性应急测试时长的方法，其特征在于，包括：

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述依据所述测试条件及所述加速老化测试模型获取所述加速因子的步骤还包括：

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

9.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述判定是否对所述测试样品进行所述可靠性应急测试的步骤还包括：

10.一种变更可靠性应急测试时长的系统，其特征在于，包括：

11.一种非瞬时计算机可读取记录媒体，所述非瞬时计算机可读取记录媒体存储有指令，经由电子装置加载以执行如权利要求1至9中任一项所述的方法。

技术总结本发明提供一种变更可靠性应急测试时长的方法及其系统、非瞬时计算机可读取记录媒体，该方法包括判定是否对测试样品进行可靠性应急测试；倘若判定对测试样品进行可靠性应急测试，则通过上位机发出指令以对测试样品进行可靠性应急测试；响应于指令，将标准可靠性测试中的使用条件进行变更，以获取测试条件，依据测试条件及加速老化测试模型获取加速因子，依据加速因子以及产品需达到的使用寿命获取测试时长，在测试条件下依据测试时长对测试样品进行可靠性应急测试；以及对经可靠性应急测试后的测试样品进行下机电测测试测试样品。技术研发人员：王智麟,朱启傲,饶东升受保护的技术使用者：合肥兆芯电子有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/15