一种存储器缺陷的定位方法、装置、计算设备及存储介质与流程

本说明书涉及计算机应用，具体地说，涉及计算机应用下的存储器测试技术，更具体地说，涉及一种存储器缺陷的定位方法、装置、计算设备及存储介质。

背景技术：

1、存储器通常用于提供数据的存储空间，可以提供数据读取和存储的功能。存储器是片上系统(system on chip，soc)等具有运算能力的系统的重要组成部分，在片上系统等各类系统中，存储器是存储指令和相关数据的关键组成部分，因此，检测存储器是否处于正常的工作状态对于系统正常运行具有重要意义，有必要提供一种存储器缺陷的定位方法，实现对存储器进行测试的目的。

技术实现思路

1、本说明书实施例提供了一种存储器缺陷的定位方法、装置、计算设备及存储介质，以实现对存储器进行测试的目的。

2、为实现上述技术目的，本说明书实施例提供了如下技术方案：

3、第一方面，本说明书的一个实施方式提供一种存储器缺陷的定位方法，应用于外部控制器，所述外部控制器与待测系统建立有通信连接，所述待测系统包括微控制器和与所述微控制器建立有通信连接的存储器，所述存储器缺陷的定位方法包括：

4、响应于测试操作，向所述微控制器发送携带有测试数据的配置指令；所述配置指令，用于配置所述微控制器处于调试模式，指示所述微控制器将所述测试数据写入所述存储器，并读取所述存储器中写入的所述测试数据，作为读取数据；

5、根据所述读取数据和所述测试数据，获取所述存储器的测试结果，所述测试结果包括所述存储器的缺陷所在位置。

6、在本实施方式中，通过外部控制器向被测系统的微控制器发送配置指令，指示微控制器将测试数据写入存储器，并读取所述存储器中接入的所述测试数据作为读取数据，最后根据读取数据和测试数据获取存储器的测试结果的方式，实现了对存储器的测试。通过这种方式获取的测试结果可以包括存储器的缺陷所在位置，实现缺陷的精准定位。

7、在一些实施方式中，所述根据所述读取数据和所述测试数据，获取所述存储器的测试结果包括：

8、若所述读取数据与所述测试数据不一致，则根据目标数据确定所述存储器的缺陷所在位置，所述目标数据包括所述读取数据中与所述测试数据对应位置的数据不一致的数据，或，所述测试数据中与所述读取数据对应位置的数据不一致的数据。

9、通过上述方法，可以方便快捷地确定出所述存储器中的缺陷所在位置，有利于提高所述存储器缺陷的定位方法的执行效率。

10、在一些实施方式中，所述根据目标数据确定所述存储器的缺陷所在位置包括：

11、对比所述读取数据和所述测试数据中对应位置处的数据，以获得所述目标数据；

12、根据所述目标数据在所述读取数据或所述测试数据中的位置，确定所述存储器的缺陷所在位置。

13、通过对比所述读取数据和所述测试数据中对应位置处的数据，可以准确且快速地获取到所述目标数据。

14、在一些实施方式中，所述微控制器的数量为多个；各所述微控制器与至少一个所述存储器建立有通信连接；

15、所述向所述微控制器发送携带有测试数据的配置指令包括：

16、向多个所述微控制器发送携带有所述测试数据的配置指令。

17、外部控制器可以通过向多个所述微控制器发送携带有所述测试数据的配置指令的方式，控制多个所述微控制器对与多个所述微控制器建立有通信连接的存储器同时进行测试，有利于提高测试效率。

18、在一些实施方式中，所述微控制器与多个所述存储器连接；

19、所述配置指令指示所述微控制器将所述测试数据写入所述存储器，并读取所述存储器中写入的所述测试数据具体用于：

20、指示所述微控制器将所述测试数据写入多个所述存储器，并读取多个所述存储器中写入的所述测试数据。

21、微控制器通过内存控制器与多个存储器建立有通信连接，如此，通过所述配置指令可以指示所述微控制器同时对多个所述存储器进行测试数据的存储和读取数据的读取操作，有利于提高对多个存储器的测试效率。

22、在一些实施方式中，所述配置指令还携带有数据写入个数和地址信息，所述数据写入个数用于指示写入所述存储器中的数据个数，所述地址信息用于指示所述测试数据在所述存储器中的目标存储地址；

23、所述配置指令指示所述微控制器将所述测试数据写入所述存储器具体用于：

24、将所述地址信息写入内存控制器的控制寄存器，将所述测试数据写入所述内存控制器的缓存寄存器；

25、配置所述微控制器的读写控制寄存器为写入模式，并将所述数据写入个数写入所述读写控制寄存器，以指示所述读写控制寄存器根据所述数据写入个数和所述地址信息将所述缓存寄存器中的测试数据写入所述存储器中。

26、通过数据写入个数配置可以实现对写入存储器中的数据个数的控制，使得整个测试过程更加可控，便于测试人员对存储器中重点位置的重点测试。此外，微控制器中的读写控制寄存器根据所述数据写入个数和所述地址信息将所述缓存寄存器中的测试数据写入所述存储器中，实现通过数据写入个数和地址信息控制测试数据在存储器中的写入数量控制的目的，有利于提高测试的灵活性。

27、在一些实施方式中，所述配置指令还携带有数据读取个数和地址信息，所述数据读取个数用于指示从所述存储器中读取的数据个数，所述地址信息用于指示所述测试数据在所述存储器中的目标存储地址；

28、所述配置指令指示所述微控制器读取所述存储器中写入的所述测试数据具体用于：

29、配置所述微控制器的读写控制寄存器为读取模式，将所述数据读取个数写入所述读写控制寄存器，以指示所述读写控制寄存器根据所述数据读取个数从所述存储器中读取依据所述地址信息存储的所述测试数据。

30、在本实施方式中，通过配置微控制器的读写控制寄存器的模式以及写入读写控制寄存器的数据读取个数，可以实现对存储于存储器中的测试数据的可控读取，有利于提高测试的灵活性。

31、第二方面，本说明书的一个实施方式提供一种存储器缺陷的定位装置，应用于外部控制器，所述外部控制器与待测系统建立有通信连接，所述待测系统包括微控制器和与所述微控制器建立有通信连接的存储器，所述存储器缺陷的定位装置包括：

32、测试配置模块，用于响应于测试操作，向所述微控制器发送携带有测试数据的配置指令；所述配置指令，用于配置所述微控制器处于调试模式，指示所述微控制器将所述测试数据写入所述存储器，并读取所述存储器中写入的所述测试数据，作为读取数据；

33、测试判断模块，用于根据所述读取数据和所述测试数据，获取所述存储器的测试结果，所述测试结果包括所述存储器的缺陷所在位置。

34、第三方面，本说明书实施例提供了一种计算设备，包括：外部控制器和与所述外部控制器建立有通信连接的待测系统；所述待测系统包括微控制器和与所述微控制器建立有通信连接的存储器；其中，

35、所述外部控制器被配置为：响应于测试操作，向所述微控制器发送携带有测试数据的配置指令；所述配置指令，用于配置所述微控制器处于调试模式，指示所述微控制器将所述测试数据写入所述存储器，并读取所述存储器中写入的所述测试数据，作为读取数据；

36、根据所述读取数据和所述测试数据，获取所述存储器的测试结果，所述测试结果包括所述存储器的缺陷所在位置。

37、在一些实施方式中，所述外部控制器根据所述读取数据和所述测试数据，获取所述存储器的测试结果具体用于：

38、若所述读取数据与所述测试数据不一致，则根据目标数据确定所述存储器的缺陷所在位置，所述目标数据包括所述读取数据中与所述测试数据对应位置的数据不一致的数据，或，所述测试数据中与所述读取数据对应位置的数据不一致的数据。

39、在一些实施方式中，所述外部控制器根据所述读取数据和所述测试数据，获取所述存储器的测试结果具体用于：

40、对比所述读取数据和所述测试数据中对应位置处的数据，以获得所述目标数据；

41、根据所述目标数据在所述读取数据或所述测试数据中的位置，确定所述存储器的缺陷所在位置。

42、第四方面，本说明书实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时，实现如上述的存储器缺陷的定位方法。

43、第五方面，本说明书实施例提供了一种计算机程序产品或计算机程序，所述计算机程序产品包括计算机程序，所述计算机程序存储在计算机可读存储介质中；所述计算机设备的处理器从所述计算机可读存储介质读取所述计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述的存储器缺陷的定位方法的步骤。

44、从上述技术方案可以看出，本说明书实施例提供的存储器缺陷的定位方法，通过外部控制器向被测系统的微控制器发送配置指令，指示微控制器将测试数据写入存储器，并读取所述存储器中接入的所述测试数据作为读取数据，最后根据读取数据和测试数据获取存储器的测试结果的方式，实现了对存储器的测试。通过这种方式获取的测试结果可以包括存储器的缺陷所在位置，实现缺陷的精准定位。