存储芯片老化测试的监控方法及系统与流程

本申请涉及芯片，尤其涉及一种存储芯片老化测试的监控方法及系统。

背景技术：

1、存储芯片作为计算机系统和电子设备的核心组件之一，承担着数据存储和读取的重要任务。随着存储芯片在各领域的广泛应用，人们对其可靠性和稳定性的需求也越来越高。存储芯片在使用过程中容易受到各种因素的影响，如电压噪声、温度变化等，从而可能导致存储芯片的性能下降，如数据丢失、读写速度变慢和存储容量变小等。因此，为确保存储芯片在正常工作中不发生错误或损坏，利用老化测试评估存储芯片在长时间使用过程中的稳定性和可靠性尤为重要。

2、目前，对于存储芯片的老化测试还仅仅停留在只对存储芯片的存储性能进行老化测试，这种老化测试方法存在测试精度低的问题。

技术实现思路

1、本申请提供一种存储芯片老化测试的监控方法及系统，以解决上述背景技术中提出的问题。

2、第一方面，本申请提供一种存储芯片老化测试的监控方法，包括：

3、在测试时间段内，通过预设的参数检测装置实时获取置于预设的老化测试环境中的存储芯片的参数信息；其中，所述参数信息包括所述存储芯片的属性参数信息和电学参数信息，所述属性参数信息包括所述存储芯片的各个属性参数在所述测试时间段内的测试值，所述电学参数信息包括所述存储芯片的各个电学参数在所述测试时间段内的测试值；

4、基于所述属性参数信息获取各个所述属性参数的受干扰系数，并基于所述电学参数信息获取各个所述电学参数的受干扰系数；

5、基于各个所述属性参数的受干扰系数和各个所述电学参数的受干扰系数计算所述属性参数信息的受干扰权重和所述电学参数信息的受干扰权重；

6、基于所述属性参数信息获取属性参数稳定性因子，并基于所述电学参数信息获取电学参数稳定性因子；

7、基于所述属性参数信息的受干扰权重、所述电学参数信息的受干扰权重、所述属性参数稳定性因子和所述电学参数稳定性因子判断所述存储芯片是否通过老化测试。

8、第二方面，本申请提供一种存储芯片老化测试的监控系统，包括：

9、第一获取模块，用于在测试时间段内，通过预设的参数检测装置实时获取置于预设的老化测试环境中的存储芯片的参数信息；其中，所述参数信息包括所述存储芯片的属性参数信息和电学参数信息，所述属性参数信息包括所述存储芯片的各个属性参数在所述测试时间段内的测试值，所述电学参数信息包括所述存储芯片的各个电学参数在所述测试时间段内的测试值；

10、第二获取模块，用于基于所述属性参数信息获取各个所述属性参数的受干扰系数，并基于所述电学参数信息获取各个所述电学参数的受干扰系数；

11、计算模块，用于基于各个所述属性参数的受干扰系数和各个所述电学参数的受干扰系数计算所述属性参数信息的受干扰权重和所述电学参数信息的受干扰权重；

12、第三获取模块，用于基于所述属性参数信息获取属性参数稳定性因子，并基于所述电学参数信息获取电学参数稳定性因子；

13、判断模块，用于基于所述属性参数信息的受干扰权重、所述电学参数信息的受干扰权重、所述属性参数稳定性因子和所述电学参数稳定性因子判断所述存储芯片是否通过老化测试。

14、本申请提供了存储芯片老化测试的监控方法及系统，所述方法包括：在测试时间段内，通过预设的参数检测装置实时获取置于预设的老化测试环境中的存储芯片的参数信息；其中，所述参数信息包括所述存储芯片的属性参数信息和电学参数信息，所述属性参数信息包括所述存储芯片的各个属性参数在所述测试时间段内的测试值，所述电学参数信息包括所述存储芯片的各个电学参数在所述测试时间段内的测试值；基于所述属性参数信息获取各个所述属性参数的受干扰系数，并基于所述电学参数信息获取各个所述电学参数的受干扰系数；

15、基于各个所述属性参数的受干扰系数和各个所述电学参数的受干扰系数计算所述属性参数信息的受干扰权重和所述电学参数信息的受干扰权重；基于所述属性参数信息获取属性参数稳定性因子，并基于所述电学参数信息获取电学参数稳定性因子；基于所述属性参数信息的受干扰权重、所述电学参数信息的受干扰权重、所述属性参数稳定性因子和所述电学参数稳定性因子判断所述存储芯片是否通过老化测试。该方法实现了在对所述存储芯片进行老化测试时，对所述老化芯片的各项参数的变化进行全面的监控，提高了存储芯片老化测试的精度。

技术特征：

1.一种存储芯片老化测试的监控方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储芯片老化测试的监控方法，其特征在于，所述基于所述属性参数信息获取各个所述属性参数的受干扰系数，包括：

3.根据权利要求2所述的存储芯片老化测试的监控方法，其特征在于，在判断所述离散型分布图能否进行曲线拟合之后，所述方法还包括：

4.根据权利要求1所述的存储芯片老化测试的监控方法，其特征在于，所述基于各个所述属性参数的受干扰系数和各个所述电学参数的受干扰系数计算所述属性参数信息的受干扰权重和所述电学参数信息的受干扰权重，包括：

5.根据权利要求1所述的存储芯片老化测试的监控方法，其特征在于，所述基于所述属性参数信息获取属性参数稳定性因子，包括：

6.根据权利要求5所述的存储芯片老化测试的监控方法，其特征在于，计算所述波动向量的波动熵，包括：

7.根据权利要求1所述的存储芯片老化测试的监控方法，其特征在于，所述基于所述属性参数信息的受干扰权重、所述电学参数信息的受干扰权重、所述属性参数稳定性因子和所述电学参数稳定性因子判断所述存储芯片是否通过老化测试，包括：

8.根据权利要求7所述的存储芯片老化测试的监控方法，其特征在于，在所述判断所述稳定性因子关联系数是否位于所述稳定性因子关联系数取值范围内之后，所述方法还包括：

9.一种存储芯片老化测试的监控系统，其特征在于，包括：

技术总结本申请涉及芯片技术领域，提供了一种存储芯片老化测试的监控方法及系统，该方法通过在测试时间段内，通过预设的参数检测装置实时获取置于预设的老化测试环境中的存储芯片的属性参数信息和电学参数信息，并基于所述属性参数信息和所述电学参数信息分析所述存储芯片是否通过老化测试。该方法实现了在对所述存储芯片进行老化测试时，对所述老化芯片的各项参数的变化进行全面的监控，提高了存储芯片老化测试的精度。技术研发人员：夏俊杰受保护的技术使用者：深圳超盈智能科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/15