一种存储颗粒测试工装的制作方法

本技术涉及存储器测试设备，具体为一种存储颗粒测试工装。

背景技术：

1、ddr(双倍数据速率存储器)生产质检环节中，需要使用测试治具对其读取和写的速度进行测试，测试工装是一种进行测试定位的支撑设备，在进行产品测试的时候，首先需要对产品或产品检测座的位置进行固定，固定完毕后开始进行检测操作，随着科技的不断发展，人们对于测试工装的制造工艺要求也越来越高。

2、授权号为cn216528044u所提供的一种用于flash存储器的测试装置，通过存储器测试座，可实现在测试过程中，将flash存储器定位，避免其在测试过程中发生移位；且测试电路板可以对多种spi flash(串行通信接口的存储芯片)存储器进行检测，在检测完成后，可自动将测试数据通过通信线缆接口传输到测试电脑。

3、而上述专利在进行测试时，检测完成后，再将ddr取出，再放置下一个ddr，使得测试治具存在较长的空歇周期，降低了检测效率。

技术实现思路

1、针对现有技术中存在的问题，本实用新型的目的在于提供一种存储颗粒测试工装，以解决上述背景技术中提出的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种存储颗粒测试工装，包括加工箱，所述加工箱内腔的底部固定连接有凹型架，所述凹型架内腔的两侧均滑动连接有工作板，所述工作板顶部的两侧均开设有凹槽，所述凹槽内腔的底部固定连接有第一电动推杆，所述第一电动推杆的伸缩端固定连接有活动板，所述活动板的顶部放置有放置板，所述放置板的顶部开设有放置槽，所述加工箱内腔的顶部固定连接有第二电动推杆，所述第二电动推杆的伸缩端固定连接有升降板，所述升降板底部的两侧均固定连接有测试板，所述测试板的底部设有多个测试触点。

3、优选的，所述升降板顶部的两侧均设置有配合多个测试触点使用的多个警示灯。

4、优选的，所述加工箱内腔顶部和底部的两侧均固定连接有滑杆，所述升降板顶部的两侧均开设有滑孔，所述滑杆位于滑孔的内腔且滑动连接，两个所述滑杆的表面均套设有复位弹簧。

5、优选的，所述凹型架内腔的两侧均开设有凹型滑槽，所述凹型滑槽的内腔滑动连接有凸型滑块，所述凸型滑块远离凹型滑槽的一侧与工作板固定连接。

6、优选的，所述加工箱的表面设置有箱门，所述箱门的表面设置有把手。

7、优选的，所述工作板的表面固定连接有拉把。

8、与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

9、本实用新型通过将待测件放置在放置槽内，然后启动第二电动推杆推动测试板向下移动，这时测试板的底部设置的测试触点与待测件接触后完成功能性检测，通过测试板上的状态警示灯的工作状态判断待测件的功能性是否完整可以合格达标，如有个别警示灯不亮则表示待测件不合格，待测试完毕后，这时再启动第一电动推杆推动活动板向上移动，活动板能够将放置板从凹槽内移出，这时即可将放置在放置板内的待测件取出，可以便于上下料，可缩短了检测间隔周期，提升检测效率。

技术特征：

1.一种存储颗粒测试工装，包括加工箱(1)，其特征在于：所述加工箱(1)内腔的底部固定连接有凹型架(2)，所述凹型架(2)内腔的两侧均滑动连接有工作板(3)，所述工作板(3)顶部的两侧均开设有凹槽(4)，所述凹槽(4)内腔的底部固定连接有第一电动推杆(5)，所述第一电动推杆(5)的伸缩端固定连接有活动板(6)，所述活动板(6)的顶部放置有放置板(7)，所述放置板(7)的顶部开设有放置槽(8)，所述加工箱(1)内腔的顶部固定连接有第二电动推杆(20)，所述第二电动推杆(20)的伸缩端固定连接有升降板(9)，所述升降板(9)底部的两侧均固定连接有测试板(10)，所述测试板(10)的底部设有多个测试触点(11)。

2.根据权利要求1所述的一种存储颗粒测试工装，其特征在于：所述升降板(9)顶部的两侧均设置有配合多个测试触点(11)使用的多个警示灯(12)。

3.根据权利要求1所述的一种存储颗粒测试工装，其特征在于：所述加工箱(1)内腔顶部和底部的两侧均固定连接有滑杆(13)，所述升降板(9)顶部的两侧均开设有滑孔(14)，所述滑杆(13)位于滑孔(14)的内腔且滑动连接，两个所述滑杆(13)的表面均套设有复位弹簧(15)。

4.根据权利要求1所述的一种存储颗粒测试工装，其特征在于：所述凹型架(2)内腔的两侧均开设有凹型滑槽(16)，所述凹型滑槽(16)的内腔滑动连接有凸型滑块(17)，所述凸型滑块(17)远离凹型滑槽(16)的一侧与工作板(3)固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种存储颗粒测试工装，其特征在于：所述加工箱(1)的表面设置有箱门(18)，所述箱门(18)的表面设置有把手。

6.根据权利要求1所述的一种存储颗粒测试工装，其特征在于：所述工作板(3)的表面固定连接有拉把(19)。

技术总结本技术公开了一种存储颗粒测试工装，包括加工箱，所述加工箱内腔的底部固定连接有凹型架，所述凹型架内腔的两侧均滑动连接有工作板，所述工作板顶部的两侧均开设有凹槽。本技术通过将待测件放置在放置槽内，然后启动第二电动推杆推动测试板向下移动，这时测试板的底部设置的测试触点与待测件接触后完成功能性检测，通过测试板上的状态警示灯的工作状态判断待测件的功能性是否完整可以合格达标，如有个别警示灯不亮则表示待测件不合格，待测试完毕后，这时再启动第一电动推杆推动活动板向上移动，活动板能够将放置板从凹槽内移出，这时即可将放置在放置板内的待测件取出，可以便于上下料，可缩短了检测间隔周期，提升检测效率。技术研发人员：陈宗廷,朱放中受保护的技术使用者：深圳市大为创芯微电子科技有限公司技术研发日：20230817技术公布日：2024/3/27