用于SSD硬盘的高温测试方法与流程

本发明涉及高温测试，特别是涉及一种用于ssd硬盘的高温测试方法。

背景技术：

1、电子元器件高温测试是指在高温环境下对电子元器件进行的测试，以检验其性能和稳定性。在进行高温测试时，需要将电子元器件置于高温环境中，并监测其温度和性能变化，以确保其能够在高温环境下正常工作。对ssd硬盘进行高温测试通常是为了评估其在高温环境下的性能和稳定性。高温测试可以模拟实际使用中可能遇到的高温环境。

2、现有的高温测试都是通过常规的开放式测试环境进行测试，导致测试温度很难保持一致和控制，因此影响了测试效果和和稳定性。进而需要针对现有的ssd硬盘高温测试做进一步改进。

技术实现思路

1、为解决上述问题，本发明通过设置在测试位的密封罩，将测试室与外部环境完全隔离，形成了一个密闭的测试空间，确保了测试环境的稳定性的用于ssd硬盘的高温测试方法。

2、本发明所采用的技术方案是：一种用于ssd硬盘的高温测试方法，包括机箱以及高温产生机构，所述机箱包括主机位、操作位以及测试位，所述测试位与操作位和主机位由上至下依次设置，所述测试位设置有测试室，所述测试室内设置有多个被测试ssd硬盘；所述高温产生机构包括可开合设置在测试室的密封罩、设置在密封罩并朝向被测试ssd硬盘侧面吹风的第一吹风装置、设置在密封罩并朝向被测试ssd硬盘上端吹风的第二吹风装置以及位于测试室一侧并与第一吹风装置相对的排风装置；所述密封罩用于将测试室密封，以对测试室形成密闭的测试空间，所述第一吹风装置和/或第二吹风装置朝向被测试ssd硬盘吹出热风，以对测试空间形成高温环境，使得被测试ssd硬盘在高温环境内进行工作测试。

3、对上述方案的进一步改进为，所述主机位设置有多个测试主机，多个所述测试主机与被测试ssd硬盘连接，以使得被测试ssd硬盘在工作过程中进行测试。

4、对上述方案的进一步改进为，所述主机位设置多个主机支架，所述测试主机安装在主机支架上；所述主机位对应各个主机支架设置有散热风扇，以对测试主机散热。

5、对上述方案的进一步改进为，所述操作位设置有操作支架，所述操作支架上设置有操作面板，所述操作面板用于操作控制用于ssd硬盘的高温测试方法；所述测试室安装在操作支架上。

6、对上述方案的进一步改进为，所述测试位的上端面设置有第一测试密封垫，所述密封罩的下端面设置有第二测试密封垫，当密封罩关闭时，第一测试密封垫与第二测试密封垫接触，以将测试室密封，形成密闭测试环境；所述测试室内设置有温度传感器，以感应测试空间内的温度。

7、对上述方案的进一步改进为，所述密封罩包括内罩体、外罩体、铰链、开合导杆以及开合固定元件，所述外罩体设置在内罩体的外部，所述铰链用于将外罩体与测试位的一侧连接，所述开合导杆用于外罩体与测试位的一侧连接、并用于密封罩开合时导向，所述开合固定元件用于密封罩闭合后固定。

8、对上述方案的进一步改进为，所述第一吹风装置包括第一风扇、连接于第一风扇的第一风管以及设置在密封罩并与第一风管连接的第一导风槽，所述第一导风槽的出风口朝向被测试ssd硬盘的侧面。

9、对上述方案的进一步改进为，所述排风装置包括排风扇、连接于排风扇的第二风管以及设置在测试室内的第二导风槽，所述第二导风槽与第一导风槽相对设置，所述排风扇用于将测试室内的通过第二导风槽进入第二风管后排出。

10、对上述方案的进一步改进为，所述第一风管内设置有第一风阀，所述第二风管内设置有第二风阀。

11、对上述方案的进一步改进为，所述第二吹风装置包括安装在密封罩内的吹风支架、安装在吹风支架上的第二风扇以及设置在吹风支架的发热元件，所述第二风扇朝向发热元件吹风，以形成热风朝向被测试ssd硬盘的上端面吹送。

12、对上述方案的进一步改进为，所述吹风支架的外侧设置有进风槽，所述进风槽用于将测试室内的风朝向第二风扇引导，以对测试室内形成热风循环。

13、对上述方案的进一步改进为，所述测试室内设置有测试支架，所述测试支架上安装有测试载具，所述测试载具上设置有测试插接面板，所述测试插接面板用于插入被测试ssd硬盘，所述测试支架的一侧设置有测试板，所述测试板上安装有测试芯片，所述测试支架的两侧设置有涡轮风扇，所述涡轮风扇用于测试板上的测试芯片散热。

14、测试方法包括如下步骤：

15、步骤s1，装入被测试ssd硬盘：将被测试ssd硬盘插入到测试插接面板；

16、步骤s2，形成密闭的测试室：将密封罩合并，通过密封罩将测试室密封，密封后使得测试室形成测试空间；

17、步骤s3，制造高温环境：第一吹风装置朝向被测试ssd硬盘吹出热风，以对测试空间形成高温环境；

18、步骤s4，搅散高温环境：第二风扇朝向发热元件吹风，以形成热风朝向被测试ssd硬盘的上端面吹送，同时将第一吹风装置所吹出的热风搅散，使得测试空间充分处于高温状态；

19、步骤s5，高温控制：通过温度传感器对环境内温度进行检测，检测温度在150℃～200℃时，将第一吹风装置和排风装置关闭，以将测试空间封闭，形成高温环境，持续对被测试ssd硬盘进行高温测试；直至测试结束。

20、本发明有益效果是：

21、相比现有的高温测试，本发明用于电子产品在高温环境下工作测试，测试过程中，将被测试ssd硬盘设置在测试室内，并连接主机位的主机进行模拟工作，在工作过程中，通过高温产生机构对测试室内进行测试。测试过程通过密封罩将测试室进行封闭，封闭后通过第一吹风装置对侧面吹风，第二吹风装置对被测试ssd硬盘的顶端吹风，以对被测试ssd硬盘在高温封闭环境下进行测试。具体是密封罩用于将测试室密封，以对测试室形成密闭的测试空间，第一吹风装置和/或第二吹风装置朝向被测试ssd硬盘吹出热风，以对测试空间形成高温环境，使得被测试ssd硬盘在高温环境内进行工作测试。实现对被测试ssd硬盘高温测试。

22、该用于ssd硬盘的高温测试方法对ssd硬盘的测试效果显著。首先，该设备通过设置在测试位的密封罩，将测试室与外部环境完全隔离，形成了一个密闭的测试空间，确保了测试环境的稳定性和一致性。设备配备了第一吹风装置和第二吹风装置，这两个装置分别向被测试ssd硬盘的侧面和上端吹出热风，有效地将测试室内的空气加热到所需的高温环境，为ssd硬盘提供了适宜的工作温度。同时，设备还配备了排风装置，及时将高温环境下产生的热空气排出测试室，保持了测试空间的温度稳定。该设备还具有较高的自动化程度，可以快速、准确地完成对ssd硬盘的各项测试。在高温环境下，ssd硬盘的性能和稳定性可以得到充分展示，设备能够检测出硬盘在高温环境下的性能变化和潜在问题，从而提高产品质量。

23、测试方法包括如下步骤：步骤s1，装入被测试ssd硬盘：将被测试ssd硬盘插入到测试插接面板；步骤s2，形成密闭的测试室：将密封罩合并，通过密封罩将测试室密封，密封后使得测试室形成测试空间；步骤s3，制造高温环境：第一吹风装置朝向被测试ssd硬盘吹出热风，以对测试空间形成高温环境；步骤s4，搅散高温环境：第二风扇朝向发热元件吹风，以形成热风朝向被测试ssd硬盘的上端面吹送，同时将第一吹风装置所吹出的热风搅散，使得测试空间充分处于高温状态；步骤s5，高温控制：通过温度传感器对环境内温度进行检测，检测温度在150℃～200℃时，将第一吹风装置和排风装置关闭，以将测试空间封闭，形成高温环境，持续对被测试ssd硬盘进行高温测试；直至测试结束。该测试方法通过设置两个吹风装置(第一吹风装置和第二风扇)分别朝向被测试ssd硬盘吹出热风和搅散热风，以及通过温度传感器实时检测环境温度，可以精确控制测试空间内的温度在150℃～200℃之间，这对于高温测试至关重要。在这个温度范围内，ssd硬盘能够处于最佳的工作状态，从而确保测试结果的准确性。

24、该测试方法能够实现密闭测试空间，防止外部环境对测试结果的影响。通过将密封罩合并并密封测试室，可以有效地防止外部环境中的灰尘、湿气等对ssd硬盘的干扰，从而保证测试结果的可靠性。同时，封闭的测试空间还可以防止空气流动对温度的影响，确保温度的稳定性和均匀性，这对于高温测试尤为重要。

25、该测试方法能够实现对ssd硬盘的高温持续测试。高温测试是评估ssd硬盘性能和稳定性的重要手段之一。通过关闭第一吹风装置和排风装置，将测试空间封闭并持续对被测试ssd硬盘进行高温测试，直至测试结束。这种持续的高温测试能够模拟ssd硬盘在高负载工作条件下的温度变化，从而评估其性能和稳定性的表现。