存储器检测方法、集成电路装置、存储介质及激光雷达与流程

本申请涉及集成电路，尤其涉及一种存储器检测方法、集成电路装置、存储介质及激光雷达。

背景技术：

1、激光雷达芯片是激光雷达的核心组件，其负责所有激光雷达信息的采集和处理和传输，因此保证激光雷达芯片在整个生命周期中和使用过程中的功能安全性是非常重要的。激光雷达芯片包括存储器，激光雷达的实时工作使得存储器经常发生数据访问；为保证数据访问能够顺利进行，则需要保证存储器的存储区域是有效的，因此需要对存储器的有效性进行检测。

2、在相关技术方案采用mbist(memory build in self test，存储器内建自测)技术对激光雷控芯片的存储器进行检测。具体地，在存储器内部的存储器电路外围增加bist单元电路，通过bist单元电路产生对存储器的测试激励指令，并根据测试结果确定存储器是否存在失效的区域。在对存储器所有区域连续检测并确定有效之后，再进行存储器的数据访问；然而，这种技术方案使激光雷达芯片存储器持续不能进行访问的时间较长，激光雷达芯片的性能受到影响，会影响到激光雷达的正常工作。

技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种集成电路装置、存储器检测方法、存储介质及激光雷达，以改善当前存储器持续不能进行访问的时间较长，而使得芯片的性能受到影响的现状。所述技术方案如下：

2、第一方面，本申请实施例提供了一种存储器检测方法，应用于集成电路装置，所述集成电路装置包括存储器，所述存储器包括多个预设的存储分区，所述方法包括：

3、确定当前检测分区，其中，所述当前检测分区为所述多个预设的存储分区中的一个存储分区；

4、接收访问端发起的针对所述存储器的访问命令；

5、若所述访问命令为针对所述当前检测分区的访问命令，则对所述访问命令进行拦截；

6、若所述访问命令为针对所述存储器的所述当前检测分区之外的区域的访问命令，则将所述访问命令发送至所述存储器；

7、对所述当前检测分区进行检测。

8、第二方面，本申请实施例提供了一种集成电路装置，所述集成电路装置包括存储器，所述存储器包括多个预设的存储分区，所述集成电路装置还包括：

9、当前检测分区确定单元，用于确定当前检测分区，其中，所述当前检测分区为所述多个预设的存储分区中的一个存储分区；

10、第一命令阻拦单元，与所述当前检测分区确定单元连接，用于接收访问端发起的针对所述存储器的访问命令，并在所述访问命令为针对所述当前检测分区的访问命令时，对所述访问命令进行拦截，在所述访问命令为针对所述存储器的所述当前检测分区之外的区域的访问命令时，将所述访问命令发送至所述存储器；

11、mbist单元，用于对所述当前检测分区进行检测。

12、第三方面，本申请实施例提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行上述的方法的步骤。

13、第四方面，本申请实施例提供一种激光雷达，可包括：处理器和存储器，所述存储器包括多个预设的存储分区；其中，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行上述的方法的步骤。

14、本申请一些实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：

15、本申请实施例将存储器的存储空间分为多个存储分区，以在其中一个存储分区，即当前检测分区，从开始检测到检测结束的过程中，对针对当前检测分区的访问命令进行阻拦，存储器的其他存储分区还能够进行访问。考虑到存储器的规格形式不同，访问命令与测试命令可以是同时刻进行，也可以是按照前后穿插的方式不同时刻进行。

16、与相关技术中先对存储器进行检测，然后在存储器检测结束之后再进行访问的方式相比，本申请实施例提供的存储器检测方法在检测起始至检测结束之间，是可以对存储器在当前检测分区之外的区域进行访问的；因此，本申请可以改善当前存储器持续不能进行访问的时间较长，而使得芯片的性能受到影响的现状。

技术特征：

1.一种存储器检测方法，其特征在于，应用于集成电路装置，所述集成电路装置包括存储器，所述存储器包括多个预设的存储分区，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述集成电路装置包括存储有每个所述存储分区分别对应的一段地址信息的预设存储单元；

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述从所述预设存储单元获取一段地址信息，包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据各所述存储分区受访问的频次，从所述预设存储单元获取一段地址信息，包括：

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对当前检测分区进行检测，包括：

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述确定所述存储器是否处于空闲状态，包括：

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述当前检测分区进行检测的步骤之后，所述方法还包括：

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

9.一种集成电路装置，其特征在于，所述集成电路装置包括存储器，所述存储器包括多个预设的存储分区，所述集成电路装置还包括：

10.根据权利要求9所述的集成电路装置，其特征在于，还包括预设存储单元，所述预设存储单元存储有每个所述存储分区分别对应的一段地址信息；

11.根据权利要求10所述的集成电路装置，其特征在于，还包括访问频度统计单元，所述访问频度统计单元与所述预设存储单元连接；

12.根据权利要求9所述的集成电路装置，其特征在于，还包括所述空闲状态判断单元；

13.根据权利要求9所述的集成电路装置，其特征在于，所述访问命令接收单元被配置为，在所述mbist单元对所述当前检测分区检测完成之后，停止对所述访问端的针对所述当前检测分区的访问命令的拦截；

14.一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行如权利要求1～8任一项所述方法的步骤。

15.一种激光雷达，包括：处理器和存储器，所述存储器包括多个预设的存储分区；其中，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行如权利要求1～8任一项所述方法的步骤。

16.一种激光雷达，其特征在于，包括如权利要求9～13中任一项所述的集成电路装置。

技术总结本申请实施例公开了一种存储器检测方法、集成电路装置、存储介质及激光雷达，涉及集成电路技术领域。该方法包括：确定当前检测分区，当前检测分区为多个预设的存储分区中的一个存储分区；接收访问端发起的针对存储器的访问命令；若访问命令为针对当前检测分区的访问命令，则对访问命令进行拦截；若访问命令为针对存储器的当前检测分区之外的区域的访问命令，则将访问命令发送至存储器；对当前检测分区进行检测。根据本申请实施例的技术方案，能够改善当前存储器持续不能进行访问的时间较长，而使得芯片的性能受到影响的现状。技术研发人员：廖裕民受保护的技术使用者：深圳市速腾聚创科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/5/27