一种存储芯片稳定性的测试装置、方法及介质与流程

本发明涉及芯片，特别是涉及一种存储芯片稳定性的测试装置、方法及介质。

背景技术：

1、存储芯片是由arm cpu控制器和nand闪存芯片构成。其中，arm cpu运行控制器软件，通常称为固件(firmware)。固件的主要功能是负责nand闪存的坏块管理，gc(garbagecollection，垃圾回收)，预警，提升性能及寿命，确保nand闪存的可靠使用。nand flash是一种高密度低成本的存储体，在各种设备中被广泛使用。nand芯片的内部结构是按照块/页进行组织的，一个nand芯片包含若干个块，块内有页组成。每个页也包含data区和spare区。由于制作工艺和成本的原因，存储芯片在出厂的时候，nand的spare区会存在坏块，在使用过程中也会产生坏块。坏块的特性是：当编程/擦除这个块时，会造成page program和blockerase操作时的错误，因此需测试存储芯片的单元稳定性。

2、目前，存储芯片稳定性测试存在时间周期长，自动化程度低，nand flash坏块的分布精细度数据不充足等问题，且现有技术无法实时监控存储颗粒在温度循环变化的情况下存储单元稳定性的变化。因此，存在待改进之处。

技术实现思路

1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种存储芯片稳定性的测试装置、方法及介质，用于解决现有技术中存储芯片稳定性测试时间周期长，自动化程度低，nand flash坏块的分布精细度数据不充足的技术问题。

2、为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种存储芯片稳定性的测试装置，包括：

3、信号测试板，通信连接待测试的存储芯片，用以向所述存储芯片输入测试信号，并采集所述存储芯片对所述测试信号的响应信号，以及采集环境温度数据；以及

4、主机，通信连接所述信号测试板，用以获取所述响应信号和所述环境温度数据，并将所述响应信号、所述环境温度数据同预设标准值进行比较，以生成所述存储芯片的测试结果。

5、在本发明一实施例中，所述主机还用于判断所述测试结果是否满足预设标准值；

6、若所述测试结果不在预设标准值内，则优化所述存储芯片的信号参数；以及

7、若所述测试结果在预设标准值内，则进行下一次循环测试直至结束。

8、在本发明一实施例中，在所述优化所述存储芯片的信号参数的过程中，所述主机用以根据所述存储芯片当前的工作电压和传输速率获取对应的预设指令，并通过所述信号测试板传输至所述存储芯片，以配置所述存储芯片的信号寄存器；

9、重新测试配置后的所述存储芯片，并判断所述测试结果是否满足预设标准值；

10、其中，所述信号寄存器用以调整所述存储芯片的驱动强度值和延迟时间值。

11、在本发明一实施例中，所述信号测试板包括：

12、多个芯片测试座，用以安装所述存储芯片；

13、处理模块，用以输出所述测试信号；

14、信号采集模块，用以采集所述存储芯片对所述测试信号的响应信号，并将所述响应信号反馈给所述处理模块；

15、信号补偿模块，用以对所述存储芯片进行信号补偿处理；以及

16、温度传感模块，用以采集环境温度数据。

17、在本发明一实施例中，所述测试装置还包括温箱，所述信号测试板设置于所述温箱内，所述温箱与所述信号测试板通信连接。

18、在本发明一实施例中，所述信号采集模块与每个所述芯片测试座之间连接有多个信号线，所述信号采集模块用以采集每个信号线的信号值。

19、在本发明一实施例中，所述信号测试板包括：

20、存储模块，用以存储所述主机写入的测试系统镜像文件；以及

21、内存模块，用以运行所述测试系统镜像文件中的测试程序。

22、本发明还提供一种存储芯片稳定性的测试方法，包括：

23、将待测试的存储芯片安装于信号测试板上；

24、通过所述信号测试板向所述存储芯片输入测试信号，并采集所述存储芯片对所述测试信号的响应信号，以及采集环境温度数据；以及

25、通过主机获取所述响应信号和所述环境温度数据，并将所述响应信号、所述环境温度数据与预设标准值进行比较，以生成所述存储芯片的测试结果。

26、在本发明一实施例中，所述通过所述信号测试板向所述存储芯片输入测试信号，并采集所述存储芯片对所述测试信号的响应信号，以及采集环境温度数据的步骤，包括：

27、通过所述信号测试板将系统映像文件烧录至所述存储芯片中，并对所述存储芯片进行读写测试；

28、通过所述信号测试板采集所述存储芯片测试时产生的响应信号；以及

29、通过所述信号测试板采集所述存储芯片测试时的环境温度数据。

30、本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被计算机的处理器执行时，使计算机执行如上述任一项所述的存储芯片稳定性的测试方法。

31、如上所述，本发明的一种存储芯片稳定性的测试装置、方法及介质，具有以下有益效果：本发明提供多通道测试方案，可以在相同的测试条件下，对多种型号或多个批次的nand flash进行对照测试，便于筛选区分优劣。本发明可提高测量效率，缩短测试周期，可全面监控nand整体状态的问题。本发明还可实现存储颗粒单元在温度变化的条件下，及时抓取特定温度节点的存储特性指标并进行补偿。

32、当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

技术特征：

1.一种存储芯片稳定性的测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储芯片稳定性的测试装置，其特征在于，所述主机还用于判断所述测试结果是否满足预设标准值；

3.根据权利要求2所述的存储芯片稳定性的测试装置，其特征在于，在所述优化所述存储芯片的信号参数的过程中，所述主机用以根据所述存储芯片当前的工作电压和传输速率获取对应的预设指令，并通过所述信号测试板传输至所述存储芯片，以配置所述存储芯片的信号寄存器；

4.根据权利要求1所述的存储芯片稳定性的测试装置，其特征在于，所述信号测试板包括：

5.根据权利要求1所述的存储芯片稳定性的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括温箱，所述信号测试板设置于所述温箱内，所述温箱与所述信号测试板通信连接。

6.据权利要求4所述的存储芯片稳定性的测试装置，其特征在于，所述信号采集模块与每个所述芯片测试座之间连接有多个信号线，所述信号采集模块用以采集每个信号线的信号值。

7.根据权利要求1所述的存储芯片稳定性的测试装置，其特征在于，所述信号测试板包括：

8.一种存储芯片稳定性的测试方法，其特征在于，包括：

9.根据权利要求8所述的存储芯片稳定性的测试方法，其特征在于，所述通过所述信号测试板向所述存储芯片输入测试信号，并采集所述存储芯片对所述测试信号的响应信号，以及采集环境温度数据的步骤，包括：

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，该计算机程序被计算机的处理器执行时，使计算机执行权利要求8-9任一项所述的存储芯片稳定性的测试方法。

技术总结本发明提供一种存储芯片稳定性的测试装置、方法及介质，涉及芯片技术领域，所述存储芯片稳定性的测试装置包括：信号测试板，通信连接待测试的存储芯片，用以向所述存储芯片输入测试信号，并采集所述存储芯片对所述测试信号的响应信号，以及采集环境温度数据；主机，通信连接所述信号测试板，用以获取所述响应信号和所述环境温度数据，并将所述响应信号、所述环境温度数据同预设标准值进行比较，以生成所述存储芯片的测试结果。本发明提供多通道测试方案，可以在相同的测试条件下，对多种型号或多个批次的NAND Flash进行对照测试，便于筛选区分优劣。技术研发人员：余玉,许展榕受保护的技术使用者：合肥康芯威存储技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/5/29