多类型存储器的SLT测试系统的制作方法

本技术涉及存储颗粒测试领域，特别涉及一种多类型存储器的slt测试系统。

背景技术：

1、存储器做为当今嵌入式市场上存储设备的主流，以其低功耗、高速读写、数据安全、系统稳定等特性，广泛应用在手机、平板、汽车、工业等等方面，市场占有率越来越高，而在存储器芯片使用前都要进行性能测试。现有的内存颗粒的测试有slt(system leveltesting，系统级别测试)测试。slt测试通常是指执行系统软件程序，测试内存颗粒各个模块的功能是否正常的测试。

2、然而市面上的slt测试设备，都只能够测试单种颗粒，而不能同时测试多种类型的颗粒，导致存储器芯片的测试周期长，测试效率低。

技术实现思路

1、本实用新型的主要目的是提出一种多类型存储器的slt测试系统，旨在解决现有slt测试设备只能测试单一种类存储器的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提出一种多类型存储器的slt测试系统，该slt测试系统包括：

3、测试机，对待测芯片进行slt测试，其中待测芯片包括ddr芯片以及nand flash芯片；

4、ddr测试座，电连接所述测试机，用于承载所述ddr芯片；

5、nand flash测试座，电连接所述测试机，用于承载所述nand flash芯片；

6、上位机，电连接所述测试机，采集所述测试机对于所述待测芯片的测试数据。

7、在一些实施例中，所述上位机通过usb转串口模块连接所述测试机。

8、在一些实施例中，所述usb转串口模块包括若干个串行端口，若干个所述串行端口用于连接若干个所述测试机。

9、在一些实施例中，所述usb转串口模块通过通用异步收发传输器连接所述测试机。

10、在一些实施例中，所述测试机包括soc平台以及与所述soc平台电连接的队列串行外设接口存储器。

11、在一些实施例中，还包括：

12、供电模块，电连接所述上位机以及所述测试机，用于给所述测试机提供电能。

13、在一些实施例中，所述直流电源上设置有若干个输出端口，用以对若干台所述测试机供电。

14、本实用新型通过使用测试机连接两种不同类型的测试座，以分别测试ddr芯片以及nand flash芯片，提高了slt测试的效率，大大缩短了测试时间，无需再研发额外的测试设备，节约了研发费用。

技术特征：

1.一种多类型存储器的slt测试系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的slt测试系统，其特征在于，所述上位机通过usb转串口模块连接所述测试机。

3.根据权利要求2所述的slt测试系统，其特征在于，所述usb转串口模块包括若干个串行端口，若干个所述串行端口用于连接若干个所述测试机。

4.根据权利要求3所述的slt测试系统，其特征在于，所述usb转串口模块通过通用异步收发传输器连接所述测试机。

5.根据权利要求1所述的slt测试系统，其特征在于，所述测试机包括处理器以及与所述处理器电连接的队列串行外设接口存储器。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的slt测试系统，其特征在于，还包括：

7.根据权利要求6所述的slt测试系统，其特征在于，所述供电模块具有若干个输出端口，用以对若干台所述测试机供电。

技术总结本技术公开一种多类型存储器的SLT测试系统，包括：测试机，对待测芯片进行SLT测试，其中待测芯片包括DDR芯片以及NAND Flash芯片；DDR测试座，电连接所述测试机，用于承载所述DDR芯片；NAND FLASH测试座，电连接所述测试机，用于承载所述NAND Flash芯片；上位机，电连接所述测试机，采集所述测试机对于所述待测芯片的测试数据。本技术通过使用测试机连接两种不同类型的测试座，以分别测试DDR芯片以及NAND Flash芯片，提高了SLT测试的效率，大大缩短了测试时间，无需再研发额外的测试设备，节约了研发费用。技术研发人员：覃义平受保护的技术使用者：联和存储科技（江苏）有限公司技术研发日：20231114技术公布日：2024/6/13