固态硬盘的时延退化分析方法、装置、设备及介质与流程

本发明涉及固态硬盘的时延退化分析，尤其是指固态硬盘的时延退化分析方法、装置、设备及介质。

背景技术：

1、固态硬盘的存储介质主流都是nand介质，其中数据保持能力是nand介质可靠性要考虑的重中之重。其数据保持能力不佳可能导致不可纠正的错误码、时延超时、性能下降等，而数据保持能力试验通常是采用温度加速寿命试验的方法来表征；对于数据保持能力的判据，业界公认是不允许存在不可纠正的错误码，但是对时延，业界还没有公认的要求，对于时延的量化要求更没有提及，导致无法满足生产需求。

技术实现思路

1、本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供固态硬盘的时延退化分析方法、装置、设备及介质。

2、为了解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：

3、第一方面，本实施例提供了一种固态硬盘的时延退化分析方法，包括以下步骤：

4、对固态硬盘组进行温度加速计算，以得到四组试验时间t1、t2、t3、t4；

5、对固态硬盘组进行顺序写和顺序读测试，以得到测试结果，再对固态硬盘组烘烤t1时间，然后对固态硬盘组进行只读测试，以记录t1对应的时延数据；

6、对固态硬盘组进行顺序写和顺序读测试，以得到测试结果，再对固态硬盘组烘烤t2时间，然后对固态硬盘组进行只读测试，以记录t2对应的时延数据；

7、对固态硬盘组进行顺序写和顺序读测试，以得到测试结果，再对固态硬盘组烘烤t3时间，然后对固态硬盘组进行只读测试，以记录t3对应的时延数据；

8、对固态硬盘组进行顺序写和顺序读测试，以得到测试结果，再对固态硬盘组烘烤t4时间，然后对固态硬盘组进行只读测试，以记录t4对应的时延数据；

9、对t1对应的时延数据、t2对应的时延数据、t3对应的时延数据及t4对应的时延数据进行退化分析，并建立退化方程；

10、根据退化方程，对固态硬盘组中的每个固态硬盘样品进行退化计算，以得到每个固态硬盘样品对应的退化寿命值；

11、对所有的退化寿命值进行分析处理，以得到分析结果。

12、其进一步技术方案为：所述固态硬盘组进行温度加速计算，以得到四组试验时间t1、t2、t3、t4步骤中，采用试验加速因子at进行温度加速计算，以得到四组试验时间t1、t2、t3、t4；其中，ttest为试验温度，tfield为外场温度，ea为激活能，k为玻尔兹曼常数。

13、其进一步技术方案为：所述对固态硬盘组进行顺序写和顺序读测试，以得到测试结果，再对固态硬盘组烘烤t1时间，然后对固态硬盘组进行只读测试，以记录t1对应的时延数据步骤中，顺序写、顺序读测试与只读测试的参数设置保持一致。

14、其进一步技术方案为：所述对所有的退化寿命值进行分析处理，以得到分析结果步骤中，分析结果指的是数据保持能力中时延参数的可靠度。

15、第二方面，本实施例提供了一种固态硬盘的时延退化分析装置，包括：第一计算单元、第一测试烘烤记录单元、第二测试烘烤记录单元、第三测试烘烤记录单元、第四测试烘烤记录单元、分析建立单元、第二计算单元及分析单元；

16、所述第一计算单元，用于对固态硬盘组进行温度加速计算，以得到四组试验时间t1、t2、t3、t4；

17、所述第一测试烘烤记录单元，用于对固态硬盘组进行顺序写和顺序读测试，以得到测试结果，再对固态硬盘组烘烤t1时间，然后对固态硬盘组进行只读测试，以记录t1对应的时延数据；

18、所述第二测试烘烤记录单元，用于对固态硬盘组进行顺序写和顺序读测试，以得到测试结果，再对固态硬盘组烘烤t2时间，然后对固态硬盘组进行只读测试，以记录t2对应的时延数据；

19、所述第三测试烘烤记录单元，用于对固态硬盘组进行顺序写和顺序读测试，以得到测试结果，再对固态硬盘组烘烤t3时间，然后对固态硬盘组进行只读测试，以记录t3对应的时延数据；

20、所述第四测试烘烤记录单元，用于对固态硬盘组进行顺序写和顺序读测试，以得到测试结果，再对固态硬盘组烘烤t4时间，然后对固态硬盘组进行只读测试，以记录t4对应的时延数据；

21、所述分析建立单元，用于对t1对应的时延数据、t2对应的时延数据、t3对应的时延数据及t4对应的时延数据进行退化分析，并建立退化方程；

22、所述第二计算单元，用于根据退化方程，对固态硬盘组中的每个固态硬盘样品进行退化计算，以得到每个固态硬盘样品对应的退化寿命值；

23、所述分析单元，用于对所有的退化寿命值进行分析处理，以得到分析结果。

24、其进一步技术方案为：所述第一计算单元中，采用试验加速因子at进行温度加速计算，以得到四组试验时间t1、t2、t3、t4；其中，ttest为试验温度，tfield为外场温度，ea为激活能，k为玻尔兹曼常数。

25、其进一步技术方案为：所述第一测试烘烤记录单元中，顺序写、顺序读测试与只读测试的参数设置保持一致。

26、其进一步技术方案为：所述分析单元中，分析结果指的是数据保持能力中时延参数的可靠度。

27、第三方面，本实施例提供了一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述所述的固态硬盘的时延退化分析方法。

28、第四方面，本实施例提供了一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现如上述所述的固态硬盘的时延退化分析方法。

29、本发明与现有技术相比的有益效果是：通过设计四组传统的高温加速试验，验证时延随时间线性增加的特性，然后对每个试验样品建立退化方程，从而求解出每个样品的退化寿命，对这组退化寿命进行分析，准确评估了该产品数据保持能力的时延衰退的可靠性，以满足产品的生产需求。

30、下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步描述。

技术特征：

1.固态硬盘的时延退化分析方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的固态硬盘的时延退化分析方法，其特征在于，所述固态硬盘组进行温度加速计算，以得到四组试验时间t1、t2、t3、t4步骤中，采用试验加速因子at进行温度加速计算，以得到四组试验时间t1、t2、t3、t4；其中，ttest为试验温度，tfield为外场温度，ea为激活能，k为玻尔兹曼常数。

3.根据权利要求1所述的固态硬盘的时延退化分析方法，其特征在于，所述对固态硬盘组进行顺序写和顺序读测试，以得到测试结果，再对固态硬盘组烘烤t1时间，然后对固态硬盘组进行只读测试，以记录t1对应的时延数据步骤中，顺序写、顺序读测试与只读测试的参数设置保持一致。

4.根据权利要求1所述的固态硬盘的时延退化分析方法，其特征在于，所述对所有的退化寿命值进行分析处理，以得到分析结果步骤中，分析结果指的是数据保持能力中时延参数的可靠度。

5.固态硬盘的时延退化分析装置，其特征在于，包括：第一计算单元、第一测试烘烤记录单元、第二测试烘烤记录单元、第三测试烘烤记录单元、第四测试烘烤记录单元、分析建立单元、第二计算单元及分析单元；

6.根据权利要求5所述的固态硬盘的时延退化分析装置，其特征在于，所述第一计算单元中，采用试验加速因子at进行温度加速计算，以得到四组试验时间t1、t2、t3、t4；其中，ttest为试验温度，tfield为外场温度，ea为激活能，k为玻尔兹曼常数。

7.根据权利要求5所述的固态硬盘的时延退化分析装置，其特征在于，所述第一测试烘烤记录单元中，顺序写、顺序读测试与只读测试的参数设置保持一致。

8.根据权利要求5所述的固态硬盘的时延退化分析装置，其特征在于，所述分析单元中，分析结果指的是数据保持能力中时延参数的可靠度。

9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-4中任一项所述的固态硬盘的时延退化分析方法。

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现如权利要求1-4中任一项所述的固态硬盘的时延退化分析方法。

技术总结本发明涉及固态硬盘的时延退化分析方法、装置、设备及介质，该方法，包括：对固态硬盘组温度加速计算，以得到四组试验时间t1、t2、t3、t4；对固态硬盘组顺序写和顺序读测试，以得到测试结果，再烘烤t1、t2、t3、或t4时间，然后进行只读测试，以记录t1、t2、t3、或t4对应的时延数据；对时延数据进行退化分析，并建立退化方程；对固态硬盘组中的每个固态硬盘样品进行退化计算，以得到退化寿命值；对退化寿命值分析处理，以得到分析结果。本发明通过设计四组高温加速试验，验证时延随时间线性增加的特性，然后建立退化方程，从而求解出每个样品的退化寿命并分析，准确产品数据保持能力的时延衰退的可靠性。技术研发人员：谢奉洋,孙克庆,张华受保护的技术使用者：东莞忆联信息系统有限公司技术研发日：技术公布日：2024/6/30