LPDDR的DBI功能测试方法、装置、设备及介质与流程

本发明涉及dram芯片测试，尤其涉及一种lpddr的dbi功能测试方法、装置、设备及介质。

背景技术：

1、动态随机存取存储器(dynamic random access memory，dram)是一种计算机主存储器类型，用于暂时存储数据以供中央处理器(central processing unit，cpu)和其他硬件组件使用。lpddr(low power double data rate)是一种用于移动设备和嵌入式系统的动态随机存取存储器。相对于传统的ddr(double data rate)芯片具有更低功耗，主要应用于移动设备、嵌入式系统和其他对功耗和空间要求较高的场景，如智能手机、平板电脑等。随着lpddr技术的不断发展，对其内部组件的功能进行有效验证变得至关重要，以确保在各种应用场景下能够稳定可靠地运行。

2、dbi(data bus inversion)功能对lpddr的数据处理与降低数据传输功耗具有重要作用，dbi是一种数据总线反转技术，通过减少总线的翻转次数，从而降低总线功耗，使能后的写操作将总线上的数据进行翻转后再传入芯片，而读的翻转操作是根据功耗大小对芯片读出的数据进行翻转。现有的dbi功能测试方法验证复杂度低，导致验证结果准确率低。

技术实现思路

1、有鉴于此，本发明的目的是为了克服现有技术中的不足，提供一种lpddr的dbi功能测试方法、装置、设备及介质。

2、本发明提供如下技术方案：

3、第一方面，本公开实施例中提供了一种lpddr的dbi功能测试方法，所述方法包括:

4、获取突发数据，通过突发写操作将所述突发数据写入lpddr芯片，得到背景数据；

5、通过使能信号与模式寄存器，开启所述lpddr芯片的dbi功能，其中，所述dbi功能包括wdbi功能和rdbi功能；

6、对所述背景数据进行改写，并对所述背景数据的翻转信号进行翻转，得到第一读出数据，根据所述背景数据与所述第一读出数据确定所述wdbi功能的测试结果；

7、根据所述lpddr芯片的内部数据确定第二读出数据，根据所述第二读出数据设置期望数据，根据所述期望数据与所述第二读出数据确定所述rdbi功能的测试结果。

8、进一步地，所述背景数据包括第一突发子数据、第二突发子数据、对应于所述第一突发子数据的第一翻转信号和对应于所述第二突发子数据的第二翻转信号。

9、进一步地，所述通过使能信号与模式寄存器，开启所述lpddr芯片的dbi功能，包括：

10、通过所述使能信号将所述lpddr芯片的dmi管脚置高；

11、给所述lpddr芯片下发模式寄存器写命令，其中，所述模式寄存器写命令包括第一写命令和第二写命令，所述第一写命令用于向所述lpddr芯片传入所述模式寄存器的地址，所述第二写命令用于向所述lpddr芯片传入所述模式寄存器的赋值数据。

12、进一步地，所述对所述背景数据进行改写，并对所述背景数据的翻转信号进行翻转，得到第一读出数据，包括：

13、分别对所述第一突发子数据和所述第二突发子数据的值进行改写；

14、对改写后的第一突发子数据和第二突发子数据进行逐行遍历，利用所述第一翻转信号和所述第二翻转信号将改写后的第一突发子数据和第二突发子数据进行翻转，得到所述第一读出数据。

15、进一步地，所述根据所述背景数据与所述第一读出数据确定所述wdbi功能的测试结果，包括：

16、判断所述背景数据与所述第一读出数据是否相反；

17、若所述背景数据与所述第一读出数据相反，则确定所述wdbi功能的测试结果为正常；

18、若所述背景数据与所述第一读出数据一致，则确定所述wdbi功能的测试结果为异常。

19、进一步地，所述根据所述lpddr芯片的内部数据确定第二读出数据，根据所述第二读出数据设置期望数据，包括：

20、当所述lpddr芯片的内部数据为第一预设十六进制数值时，读出初始数据，将所述初始数据作为所述第二读出数据；

21、当所述lpddr芯片的内部数据为第二预设十六进制数值时，读出所述初始数据，将所述初始数据按位翻转，将按位翻转后的初始数据作为所述第二读出数据；

22、获取所述第二读出数据中第一数值和第二数值的数量，根据所述第一数值和所述第二数值的数量确定所述期望数据。

23、进一步地，所述根据所述期望数据与所述第二读出数据确定所述rdbi功能的测试结果，包括：

24、判断所述期望数据与所述第二读出数据是否相反；

25、若所述期望数据与所述第一读出数据相反，则确定所述rdbi功能的测试结果为异常；

26、若所述期望数据与所述第二读出数据一致，则确定所述rdbi功能的测试结果为正常。

27、第二方面，本公开实施例中提供了一种lpddr的dbi功能测试装置，所述装置包括：

28、写入模块，用于获取突发数据，通过突发写操作将所述突发数据写入lpddr芯片，得到背景数据；

29、开启模块，用于通过使能信号与模式寄存器，开启所述lpddr芯片的dbi功能，其中，所述dbi功能包括wdbi功能和rdbi功能；

30、第一验证模块，用于对所述背景数据进行改写，并对所述背景数据的翻转信号进行翻转，得到第一读出数据，根据所述背景数据与所述第一读出数据确定所述wdbi功能的测试结果；

31、第二验证模块，用于根据所述lpddr芯片的内部数据确定第二读出数据，根据所述第二读出数据设置期望数据，根据所述期望数据与所述第二读出数据确定所述rdbi功能的测试结果。

32、第三方面，本公开实施例中提供了一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现第一方面中所述的lpddr的dbi功能测试方法的步骤。

33、第四方面，本公开实施例中提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现第一方面中所述的lpddr的dbi功能测试方法的步骤。

34、本技术的有益效果：

35、本技术实施例提供的lpddr的dbi功能测试方法，方法包括：获取突发数据，通过突发写操作将所述突发数据写入lpddr芯片，得到背景数据；通过使能信号与模式寄存器，开启所述lpddr芯片的dbi功能，其中，所述dbi功能包括wdbi功能和rdbi功能；对所述背景数据进行改写，并对所述背景数据的翻转信号进行翻转，得到第一读出数据，根据所述背景数据与所述第一读出数据确定所述wdbi功能的测试结果；根据所述lpddr芯片的内部数据确定第二读出数据，根据所述第二读出数据设置期望数据，根据所述期望数据与所述第二读出数据确定所述rdbi功能的测试结果。本技术可以确保lpddr内存系统在功耗、性能和可靠性等方面的预期行为。本技术可以确保lpddr内存系统在功耗、性能和可靠性等方面的预期行为。

36、为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显和易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，做详细说明如下。