一种PLCC发光管用推拉力测试装置的制作方法

本技术涉及plcc发光管检测设备的领域，尤其是涉及一种plcc发光管用推拉力测试装置。

背景技术：

1、目前，plcc led是一种采用plcc封装结构的led发光器件。它与传统的led相比，具有更好的热散性能和机械强度，适用于表面贴装技术。plcc led的封装结构采用塑料材料封装，并通过引线与电路板焊接连接。它通常有多个引脚，其中包括用于电源供应以及用于控制led的亮度和颜色的引脚。plcc led广泛应用于各种照明和显示领域，包括室内和室外照明、汽车灯光、电子显示屏等。它具有高亮度、长寿命、低能耗等优势，被认为是一种高效、可靠的照明和显示解决方案。

2、申请号为cn202321676615.7的中国实用新型公开了一种高功率plcc-4表面贴装型led，包括基座，在基座上焊接有焊盘，所述的焊盘上通过固晶胶固定有plcc封装芯片，所述的plcc封装芯片通过对应的金线连接在焊盘上，所述的焊盘上方固定有环托，且plcc封装芯片设在环托内下方。

3、plcc发光管在生产过程中，需要对plcc发光管抽检，抽检时需要对plcc发光管上的金线与金球进行检测。一般的，推拉力测试机包括机架、拉针模块与推刀模块，拉针模块与推刀模块可拆卸连接在机架上，对金线检测时，需要使用拉针，对金球检测时，需要使用推刀，以此需要拆卸更换拉针模块与推刀模块，导致检测效率较低。

技术实现思路

1、为了提高对金线、金球的检测效率，本技术提供一种plcc发光管用推拉力测试装置。

2、本技术提供的一种plcc发光管用推拉力测试装置，采用如下的技术方案：

3、一种plcc发光管用推拉力测试装置，包括机架、转动块、拉针与推刀，所述拉针连接于所述转动块一端，所述推刀连接于所述转动块另一端，所述机架连接有驱动组件，所述驱动组件用于沿x、y、z轴方向移动所述转动块，所述转动块通过转动件与所述驱动组件连接。

4、通过采用上述技术方案，当工作人员需要对金线进行检测时，转动件可转动转动块，以使拉针朝向plcc发光管，驱动组件移动转动块，使拉针一端位于金线下方，驱动组件沿z轴方向移动转动块，可使拉针拉断金线，以此完成对金线的检测，当需要对金球进行检测时，转动件可转动转动块，以使推刀朝向plcc发光管，驱动组件移动转动块，以使推刀位于金球的一侧，驱动组件继续移动转动块，可使推刀推掉金球，以此完成对金球的检测，在对金线、金球检测时可通过转动件转动转动块以切换拉针与推刀，无需工作人员拆卸更换拉针与推刀对应的模块，可提高对金线、金球的检测效率。

5、优选的，所述机架设置有承载台，所述承载台位于所述转动块下方，所述承载台顶部设置有用于固定plcc发光管的夹具，所述夹具连接有刮板，所述刮板开设有吸风孔，所述吸风孔连通有负压源，所述推刀一侧呈竖直平面状。

6、通过采用上述技术方案，plcc发光管可固定在夹具上，推刀在退掉金球后，刮板可对推刀一侧刮杂，负压源对吸风孔吸风，杂质可通过负压源吸除，以此可清理推刀，可尽量避免推刀再次对金球检测时杂质对检测结果的影响，可提高对金球检测结果的准确性。

7、优选的，所述刮板由透明材质制成，所述夹具顶部开设有滑移槽，所述滑移槽长度方向与所述夹具长度方向一致，所述刮板底部位于所述滑移槽中，所述刮板沿所述滑移槽长度方向与所述夹具滑移连接，所述负压源包括波纹管与真空泵，所述波纹管一端与所述吸风孔连通，所述波纹管另一端与所述真空泵连通。

8、通过采用上述技术方案，推刀在对金球检测完后，移动刮板，使刮板位于推刀的一侧，驱动组件移动转动块，以使推刀与刮板接触，驱动组件继续移动转动块，可使刮板对推刀刮杂，真空泵通过波纹管对吸风孔吸风，以此可使杂质与推刀脱离时被吸除。

9、优选的，所述滑移槽中设置有圆杆，所述圆杆长度方向与所述滑移槽长度方向一致，所述刮板底部滑移套设于所述圆杆，所述刮板通过扭簧与所述圆杆转动连接，所述滑移槽顶部开口宽度大于所述滑移槽底部宽度，且所述滑移槽截面呈v型，所述刮板通过所述扭簧靠近所述推刀竖直平面状的一侧抵接于所述滑移槽内侧壁。

10、通过采用上述技术方案，刮板可以圆杆为转动中心在滑移槽中转动，刮板在对推刀刮杂时可通过扭簧抵在推刀上，推刀沿z轴方向移动时，刮板可对推刀刮杂，以此可清理推刀上的杂质，且未被负压源吸除的杂质可掉落至滑移槽中收集。

11、优选的，所述波纹管一端连接有第一磁环，所述吸风孔内壁嵌设有第二磁环，所述第一磁环靠近所述第二磁环时，两者相互吸引，所述滑移槽沿长度方向的端部侧壁开设有排渣孔，所述排渣孔贯穿所述夹具端部，所述夹具端部嵌设有第三磁环，所述排渣孔位于所述第三磁环中，所述第一磁环靠近所述第三磁环时，两者相互吸引。

12、通过采用上述技术方案，波纹管一端可通过第一磁环吸附在第二磁环上，以此可使波纹管与刮板可拆卸连接，波纹管一端与刮板拆卸后通过第一磁环吸附在第三磁环上，波纹管以此可对排渣孔吸风，可吸除滑移槽中的杂质。

13、优选的，所述驱动组件包括第一电缸、第二电缸、丝杆、导杆以及滑块，所述丝杆、所述导杆均沿x轴方向设置于所述机架，所述丝杆端部连接有伺服电机，所述滑块一端滑动套设于所述导杆，所述滑块另一端螺纹套设于所述丝杆，所述第二电缸与所述滑块连接且所述第二电缸的活塞杆沿y轴方向设置，所述第一电缸与所述第二电缸的活塞杆连接，所述第一电缸的活塞杆沿z轴方向设置，所述转动件与所述第一电缸的活塞杆连接。

14、通过采用上述技术方案，伺服电机可驱动丝杆转动，以此可带动滑块在导杆上移动，滑块可带动第二电缸移动，第二电缸可驱动第一电缸移动，第一电缸可驱动转动件移动，转动件驱动转动块转动，以此可移动转动块以及转动转动块。

15、优选的，所述夹具包括底座与压紧片，所述底座顶部开设有用于放置plcc发光管的放置槽，所述压紧片位于所述底座上方且水平设置，所述压紧片开设有检测口，所述检测口位于所述放置槽正上方，所述检测口内壁设置有多个灯珠。

16、通过采用上述技术方案，plcc发光管可放置在放置槽中，压紧片可压紧plcc发光管，以此可提高plcc发光管的稳定性，各灯珠发光，可对plcc发光管照明，拉针与推刀通过检测口对plcc发光管检测，以便拉针对金线检测以及推刀对金球检测。

17、优选的，所述压紧片一端连接有升降件，所述升降件用于沿竖直方向移动所述压紧片，所述升降件沿所述底座长度方向与所述底座滑移连接。

18、通过采用上述技术方案，升降件沿底座长度方向移动以使压紧片位于放置槽正上方后，升降件可沿竖直方向升降压紧片，以便将plcc发光管压紧在底座顶部。

19、优选的，所述放置槽底部沿宽度方向的两侧均开设有落料槽，所述落料槽长度方向与所述放置槽长度方向一致，所述落料槽沿长度方向的两端均贯穿所述底座端部，靠近所述滑移槽的落料槽与所述滑移槽连通，所述压紧片底部沿放置槽宽度方向的一端连接有限位片，当所述升降件下降所述压紧片后，所述限位片底端插入与所述滑移槽连通的所述落料槽中并与所述落料槽底部接触。

20、通过采用上述技术方案，升降件沿竖直方向下降压紧片压紧plcc发光管后，限位片插入落料槽中，可提高压紧片的稳定性，推刀推落金球后，杂质可掉入放置槽中，杂质再由放置槽中掉落至落料槽中，其中一个落料槽中的杂质可进入滑移槽中，负压源可吸除滑移槽中的杂质，另一个落料槽中的杂质可通过其端部从底座排出，以此可对底座排杂。

21、优选的，所述承载台顶部开设有废料槽，所述废料槽顶部盖设有支撑网，所述支撑网顶部与所述承载台顶部齐平且可拆卸连接，所述底座位于所述支撑网顶部。

22、通过采用上述技术方案，底座位于支撑网顶部后，底座中排出的杂质可通过支撑网进入废料槽中，以此可收集杂质，拆卸支撑网后，可便于对废料槽中的杂质进行清理。

23、综上所述，本技术包括以下至少一种有益技术效果：

24、1.当工作人员需要对金线进行检测时，转动件可转动转动块，以使拉针朝向plcc发光管，驱动组件移动转动块，使拉针一端位于金线下方，驱动组件沿z轴方向移动转动块，可使拉针拉断金线，以此完成对金线的检测，当需要对金球进行检测时，转动件可转动转动块，以使推刀朝向plcc发光管，驱动组件移动转动块，以使推刀位于金球的一侧，驱动组件继续移动转动块，可使推刀推掉金球，以此完成对金球的检测，在对金线、金球检测时可通过转动件转动转动块以切换拉针与推刀，无需工作人员拆卸更换拉针与推刀对应的模块，可提高对金线、金球的检测效率；

25、2.刮板可以圆杆为转动中心在滑移槽中转动，刮板在对推刀刮杂时可通过扭簧抵在推刀上，推刀沿z轴方向移动时，刮板可对推刀刮杂，以此可清理推刀上的杂质，且未被负压源吸除的杂质可掉落至滑移槽中收集；

26、3.升降件沿竖直方向下降压紧片压紧plcc发光管后，限位片插入落料槽中，可提高压紧片的稳定性，推刀推落金球后，杂质可掉入放置槽中，杂质再由放置槽中掉落至落料槽中，其中一个落料槽中的杂质可进入滑移槽中，负压源可吸除滑移槽中的杂质，另一个落料槽中的杂质可通过其端部从底座排出，以此可对底座排杂。