成像装置和方法与流程

本公开总体上涉及一种成像装置和方法。

背景技术：

1、已知类型的数字图像传感器是电荷耦合器件(ccd)和互补金属氧化物半导体(cmos)有源像素传感器。

2、最近，出现了包括基于单光子雪崩二极管(spad)的光敏元件阵列的图像传感器。

3、在光敏元件的spad中，由单个光子注入的单个自由电荷载流子可引起自由电荷载流子的雪崩，从而使得该单光子是可检测的。

4、光敏元件的计数器对雪崩计数，并且因此能够提供检测到的光子的数量。

5、尽管存在用于成像装置的技术，但通常还是希望提供改进的成像装置和改进的方法。

技术实现思路

1、根据第一方面，本公开提供了一种成像装置，包括：光敏元件阵列；以及第一计数器，用于对从第一组光敏元件接收的光子检测事件进行计数，其中，在第一操作模式中，第一计数器连接至第一组光敏元件的第一子组，并且其中，在第二操作模式中，第一计数器连接至第一组光敏元件的第二子组。

2、根据第二方面，本公开提供一种用于操作成像装置的方法，该方法包括：利用第一计数器对从光敏元件阵列的第一组光敏元件接收的光子检测事件进行计数；在第一操作模式中，将第一计数器连接至第一组光敏元件的第一子组；在第二操作模式中，将第一计数器连接至第一组光敏元件的第二子组。

3、在从属权利要求、附图和以下描述中阐述了更多方面。

技术特征：

1.一种成像装置，包括：

2.根据权利要求1所述的成像装置，

3.根据权利要求2所述的成像装置，

4.根据权利要求1所述的成像装置，

5.根据权利要求1所述的成像装置，还包括图像数据生成单元，所述图像数据生成单元被配置为生成图像数据，

6.根据权利要求1所述的成像装置，还包括第二计数器，所述第二计数器用于对从所述光敏元件阵列的第二组光敏元件接收的光子检测事件进行计数；

7.根据权利要求1所述的成像装置，

8.根据权利要求1所述的成像装置，

9.根据权利要求1所述的成像装置，

10.根据权利要求9所述的成像装置，

11.一种用于操作成像装置的方法，包括：

12.根据权利要求11所述的方法，

13.根据权利要求11所述的方法，其中，对光子检测事件进行计数包括：

14.根据权利要求11所述的方法，还包括生成图像数据，

15.根据权利要求11所述的方法，还包括：

16.根据权利要求15所述的方法，其中，对光子检测事件进行计数包括：

17.根据权利要求11所述的方法，其中，对光子检测事件进行计数包括：

18.根据权利要求11所述的方法，还包括：

19.根据权利要求18所述的方法，还包括：

20.根据权利要求19所述的方法，包括：

技术总结本公开提供了一种成像装置，该成像装置包括光敏元件阵列和第一计数器，该第一计数器用于对从第一组光敏元件接收的光子检测事件进行计数；其中，在第一操作模式中，第一计数器连接至第一组光敏元件的第一子组，并且其中，在第二操作模式中，第一计数器连接至第一组光敏元件的第二子组。技术研发人员：石井広康受保护的技术使用者：索尼半导体解决方案公司技术研发日：技术公布日：2024/9/9