纵长状的光学层叠体的外观检查方法和外观检查装置与流程

本发明涉及纵长状的光学层叠体的外观检查方法和外观检查装置。

背景技术：

1、在移动电话、笔记本型个人计算机(pc)等的图像显示装置中，存在搭载有照相机等内部电子元器件的图像显示装置。在这样的图像显示装置中，在很多的情况下，使用在局部形成有非光学功能部的光学薄膜。作为这样的光学薄膜，例如，可列举出在局部形成有非偏光部的偏振片、在局部形成有非防眩部的防眩薄膜。非偏光部、非防眩部那样的非光学功能部代表性的是可为透明部。另外，光学薄膜通常能够在将原料薄膜卷供于外观检查之后裁切为规定尺寸(与所应用的图像显示装置对应的尺寸)的薄膜片而制作。但是，在局部形成有非光学功能部的光学薄膜的情况下，在该外观检查中有时会误将非光学功能部(代表性的是透明部)检测为缺陷。其结果是，有时产生品质管理变得不充分、成品率降低、制造效率降低等问题。

2、现有技术文献

3、专利文献

4、专利文献1：日本特许第6784540号

技术实现思路

1、发明要解决的问题

2、本发明是为了解决上述课题而做成的，其主要的目的在于提供一种较佳地检查纵长状的光学层叠体的外观的方法，该纵长状的光学层叠体具有雾度较小的纵长状的防反射层、以规定图案形成于防反射层的雾度较大的防眩层、以及形成于防眩层的规定位置的非防眩部。

3、用于解决问题的方案

4、[1]根据本发明的实施方式，提供一种光学层叠体的检查方法。在该检查方法中，将纵长状的光学层叠体一边沿长度方向输送一边检查其外观，该光学层叠体具有雾度小于1.0％的纵长状的防反射层、以规定图案形成于该防反射层的雾度为5.0％以上的防眩层、以及形成于该防眩层的规定位置的非防眩部。该检查方法包含：对该光学层叠体进行拍摄并获取图像数据的工序；基于该图像数据来检测该防眩层的端部的工序；在向内侧离开该端部规定距离的位置设定边界，将该边界的内侧设定为检查区域并将该边界的外侧设定为非检查区域的工序；对该图像数据进行分析并提取检查区域中的缺陷候补部的工序；判断缺陷候补部是否具有基准值以下的尺寸的工序；根据缺陷候补部的尺寸来检测缺陷的工序。

5、[2]在上述[1]中，上述根据缺陷候补部的尺寸来检测缺陷的工序包含：仅针对具有超过基准值的尺寸的缺陷候补部，判断该缺陷候补部在长度方向上是否具有周期性；将具有基准值以下的尺寸的缺陷候补部、和具有超过基准值的尺寸且在长度方向上不具有周期性的缺陷候补部检测为缺陷。

6、[3]在上述[2]中，根据缺陷候补部的长度方向上的位置坐标来判断上述缺陷候补部有无周期性。

7、[4]在上述[1]～[3]中的任一项中，根据上述光学层叠体的连续性的拍摄来获取上述图像数据。

8、[5]在上述[1]～[4]中的任一项中，根据上述图像数据的亮度信息来提取上述缺陷候补部。

9、[6]在上述[1]～[5]中的任一项中，上述防眩层在长度方向和宽度方向上以规定间隔形成。

10、[7]在上述[1]～[6]中的任一项中，上述防眩层形成为与应用上述光学层叠体的图像显示装置的形状对应的形状。

11、[8]在上述[1]～[7]中的任一项中，上述非防眩部在为了将上述光学层叠体安装于上述图像显示装置而进行裁切时形成于与该图像显示装置的照相机部对应的位置。

12、[9]根据本发明的另一个实施方式，提供一种光学层叠体的检查装置。该检查装置是在上述[1]～[8]中任一项的检查方法中使用的、纵长状的光学层叠体的外观检查装置。该检查装置具备：拍摄装置，其对上述纵长状的光学层叠体进行拍摄并获取图像数据；图像分析装置，其分析该图像数据并检测该光学层叠体的缺陷。该图像分析装置具有：检查区域判断部，其基于该图像数据来检测所述防眩层的端部，在向内侧离开该端部规定距离的位置设定边界，将该边界的内侧设定为检查区域并将该边界的外侧设定为非检查区域；缺陷候补部提取部，其根据该图像数据来提取检查区域中的缺陷候补部；尺寸判断部，其判断缺陷候补部是否具有基准值以下的尺寸；周期性判断部，其判断缺陷候补部在长度方向上是否具有周期性；缺陷检测部，其根据缺陷候补部的尺寸、或者根据缺陷候补部的尺寸和周期性的有无来检测缺陷。

13、发明的效果

14、根据本发明的实施方式，能够实现较佳地检查纵长状的光学层叠体的外观的方法，该纵长状的光学层叠体具有雾度较小的纵长状的防反射层、以规定图案形成于防反射层的雾度较大的防眩层、以及形成于防眩层的规定位置的非防眩部。

技术特征：

1.一种检查方法，在该检查方法中，将纵长状的光学层叠体一边沿长度方向输送一边检查其外观，该光学层叠体具有雾度小于1.0％的纵长状的防反射层、以规定图案形成于该防反射层的雾度为5.0％以上的防眩层、以及形成于该防眩层的规定位置的非防眩部，其中，

2.根据权利要求1所述的检查方法，其中，

3.根据权利要求2所述的检查方法，其中，

4.根据权利要求1所述的检查方法，其中，

5.根据权利要求1所述的检查方法，其中，

6.根据权利要求1所述的检查方法，其中，

7.根据权利要求6所述的检查方法，其中，

8.根据权利要求7所述的检查方法，其中，

9.一种纵长状的光学层叠体的外观检查装置，在权利要求1至8中任一项所述的检查方法中使用该外观检查装置，其中，

技术总结本发明提供较佳地检查纵长状的光学层叠体的外观的纵长状的光学层叠体的外观检查方法和外观检查装置，该纵长状的光学层叠体具有雾度较小的纵长状的防反射层、以规定图案形成于防反射层的雾度较大的防眩层以及形成于防眩层的规定位置的非防眩部。光学层叠体的检查方法包含：对上述纵长状的光学层叠体进行拍摄并获取图像数据的工序；基于图像数据来检测该防眩层的端部的工序；在向内侧离开端部规定距离的位置设定边界，将该边界的内侧设定为检查区域并将该边界的外侧设定为非检查区域的工序；对图像数据进行分析并提取检查区域中的缺陷候补部的工序；判断缺陷候补部是否具有基准值以下的尺寸的工序；根据缺陷候补部的尺寸来检测缺陷的工序。技术研发人员：望月政和,杉胁正晃,中岛奈津美受保护的技术使用者：日东电工株式会社技术研发日：技术公布日：2024/10/10