一种ACF导电粒子接续状态分析方法及分析工具与流程

本发明属于acf导电粒子检测，涉及一种acf导电粒子接续状态分析方法及分析工具。

背景技术：

1、各向异方性导电胶膜(anisotropicconductivefilm，acf)是同时具有导电、绝缘、粘结三个功能的高分子膜，利用各向异方性导电胶膜中导电粒子连接芯片与基板两者之间的电极使得该材料能在z轴方向导电，而在x轴和y轴方向，导电粒子又有树脂包覆，实现绝缘，避免相邻电极之间的短路。目前acf广泛应用于触控与显示行业，以实现driveric、fpc、cof、pcba与触控面板间的粘结及导通作用；

2、acf在开发、生产和应用过程中导电粒子尺寸、数量、表面形态等会影响其实际接续效果，当发生接续状态不佳时触控面板会发生显示或触控功能异常，影响整个产品的性能，因此导电粒子接续状态的分析在acf应用过程至关重要。

3、常规接续状态分析方法一般是以先通电进行触控显示功能检查挑选异常品，然后微分干涉差显微镜平面分析，再通过sem进行断面分析导电粒子接续状态。然而电极本身为金属材质，一般不透明，在电测挑选出不良品后往往会发生显微镜无法定位到异常位置，因此在后面的分析过程会非常盲目，需要花费大量的时间来分析异常原因且经常不能得到确定的失效原因，因此分析结果很难在acf研发、生产和应用过程中起到积极的指导作用。随着科技发展屏幕分辨率越来越高，单片面板上acf需要连接的电极数量越来越多，这类问题会更加凸显。

技术实现思路

1、本发明针对现有技术中acf导电粒子接续状态分析存在的不足，提供一种acf导电粒子接续状态分析方法及分析工具。

2、本发明的一个目的通过以下技术方案来实现：

3、一种acf导电粒子接续状态分析方法，所述acf导电粒子接续状态分析方法包括以下步骤：

4、step1.将带有坐标功能的acf导电粒子接续状态分析工具导入功能检查测试治具中进行功能检查；

5、step2.定位异常位置；

6、step3.显微镜观测异常位置；

7、step4.异常位置断面分析。

8、作为优选，所述step1包括：当分析目标在电性能测试中发生acf接续状态失效，导致显示功能异常时，把分析目标通过转接线与主板连接，将带有坐标功能的acf导电粒子接续状态分析工具下载到分析治具的内存卡内，在显示时调出分析工具并全屏显示，将分析工具中的坐标放置到显示功能异常的屏幕上，将坐标中的0坐标与屏幕边缘对齐。本发明在异常显示屏上直接应用acf导电粒子接续状态分析工具，可以更准确地定位故障源头。

9、所述功能检查测试治具包括任何能点亮显示屏的工具即可。优选的，根据分析目标不同使用对应的功能检查测试治具，可列举为家用电脑、手机或专用测试治具。

10、作为优选，所述step2包括：通过acf导电粒子接续状态分析工具中的坐标，进行显示屏异常单像素和/或多像素和/或信号线坐标的定位，再利用产品的电路布局图(layout原理图)，逆向推算出acf连接层中出现问题的具体区域，并对其进行物理标记。

11、作为优选，所述产品线路的电路布局图(layout原理图)包括产品的电子元件布局、元件间布线、印刷电路板(pcb)的层设计、设计规则检查。

12、作为优选，所述step3包括：在初步定位后，采用光学显微镜对异常位置的acf贴合表面进行观察，进行acf连接处宏观问题的识别。

13、作为优选，所述宏观问题包括检查acf层表面存在物理损伤、污染、气泡或导电粒子的不均匀分布情况中的一种或多种。

14、作为优选，所述step4包括：对异常位置进行取样，并制作成断面样本，然后使用扫描电子显微镜(sem)对断面进行高分辨率成像，进行acf连接处微观问题的识别。

15、作为优选，所述微观问题包括导电粒子在粘合界面的排列分布、形态、粒子与电极接触的状态中的一种或多种。这种微观分析对于理解故障机理、优化工艺参数以及提高产品质量具有重要意义。

16、本发明的另一个目的通过以下技术方案来实现：

17、一种acf导电粒子接续状态分析工具，所述acf导电粒子接续状态分析工具包括带有坐标功能的程序或图片。

18、作为优选，所述acf导电粒子接续状态分析工具的制备方法包括以下步骤：确定分析工具中坐标的分辨率，将坐标放大至单像素格尺寸，根据像素格的数量来标记坐标，最小测量精度为1个像素格，标记完成后以图片格式或逻辑步骤的形式生成并下载，得到acf导电粒子接续状态分析工具。

19、作为优选，所述分析工具中坐标的分辨率与目标显示屏分辨率一致，可列举为1080*2400、2400*1200、1024*600、1024*768、1280*720、1280*800、1366*768、1600*900、1920*1080、2560*1440、3840*2160、5120*2880、7680*4320。

20、所述分辨率是指在显示屏/图片的横向和纵向方向上所能显示的像素数量，通常以宽度像素数*高度像素数的形式表示，宽度像素数指水平方向上的像素点数目；高度像素数指垂直方向上的像素点数目。例如当显示屏分辨率为1080*2400，即显示屏中包括1080×2400的像素点数目。

21、作为优选，所述分析工具中坐标根据实际异常显示情况进行标记，包括仅标记横坐标、仅标记纵坐标或同时标记横坐标和纵坐标。

22、例如图1，分析目标在电性能测试中出现acf接续状态失效，导致显示屏中的显示异常为在白底屏幕(分辨率1080*2400)上出现了竖直方向的一根彩色直线，对于该情况下要确定异常位置坐标仅需得到其横坐标，故在制备acf导电粒子接续状态分析工具时仅需在水平方向上标记0～1080的横坐标，然后观察到异常直线与从左至右第四根横坐标为4的坐标线重合，即可得出异常位置横坐标为4。

23、作为优选，所述分析工具中坐标的标记方式包括任何可以确定异常位置的坐标形式。

24、例如在本发明的一个实施例中，制备了acf导电粒子接续状态分析工具图片(图2)。所述分析工具图片中坐标的标记方式如下：已知图中仅需标记横坐标，根据目标屏幕分辨率(1080*2400)确定在水平方向上包括1080个像素点；每一行中每相邻两条坐标线之间包括10个像素点；第一行中标记了横坐标0、100、200、300以此类推至1000，其中0～100中的每一根坐标线表示横坐标为10、20、30、40、50、60、70、80、90往后同理，故最后一根坐标线表示横坐标为1080；左侧第一列0～9的坐标线分别对应横坐标为0～9中的具体位置，用于确定目标横坐标的个位数，例如图中第二行从左到右的每一根坐标线表示的横坐标为5、15、25、35、45、55以此类推至最后一根坐标线表示横坐标为1075，以下每行同理；将竖直方向上的横坐标1～9顺序打乱，方便定位横坐标时观察并进行读数。

25、所述导电粒子的接续状态对于显示屏上单像素的功能和表现有着直接的影响。具体来说，在lcd或oled等显示屏中，每个像素的点亮或熄灭都是通过控制电路精确传递电信号来实现的，如果连接像素电路的导电粒子未能良好接续，可能会导致该像素无法正确接收驱动电压或电流，从而无法按照预定方式点亮或调整亮度，造成像素失效或显示异常；对于彩色显示屏，每个像素通常由红、绿、蓝三个亚像素组成，每个亚像素的亮度控制都需要独立的电路连接，导电粒子接续不良可能导致某个或多个亚像素不能正确响应，引起色彩失真或像素偏色；像素的对比度和亮度依赖于准确的电平控制，导电粒子接续不佳会干扰正常的电平调节，使得像素的亮度低于或高于预期，影响整体的显示对比度和均匀性；在需要快速切换显示内容的应用场景中，如视频播放或动态画面，导电粒子的接续状态不佳可能会延迟电信号的传输，影响像素的响应速度，造成画面模糊或拖影现象；长期的导电不良还可能加速相关电路的老化，影响单个像素乃至整个显示屏的使用寿命。因此，确保导电粒子的良好接续对于维持每个像素的正常功能，以及提升显示屏的整体显示质量至关重要。

26、作为优选，所述图片格式为测试程序可识别的图片格式，可列举为jpg、jpeg、png、bmp、tiff。

27、与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：

28、1、本发明提供的一种acf导电粒子接续状态分析方法，改进了电测试验技术，能够迅速并且精确地识别出acf异常连接区域。acf的接续状态直接影响着产品的性能和可靠性，本发明强化了对acf中导电粒子分布和接合状态的评估能力，有助于高效率方发现并修复接触不良，从而提高成品率和产品质量。

29、2、本发明提供的一种acf导电粒子接续状态分析工具，可以更有效地定位失效位置。本发明在现有的电测程序中导入了一种acf导电粒子接续状态分析工具，即具有坐标指示功能的视觉辅助工具，这意味着在进行电性能测试的同时，可以直观地在显示屏幕上观测到acf接续状态不佳的部分，再利用图像处理或软件算法标记出具体的故障坐标。本发明不仅简化了故障定位流程，还显著提高了分析的精确度和效率，解决了传统方法中依赖人工经验定位失效点所导致的耗时和误差问题。

30、3、本发明提供的一种acf导电粒子接续状态分析方法，结合了实时显示功能，使得在电测过程中能通过画面立即识别出acf接续不良的位置。这种即时反馈机制对于后续的故障分析和样品制作至关重要，可以让工程师直接针对已知问题区域采取措施，避免了无目标的广泛排查。这种方法不仅提升了工作效率，减少了不必要的测试和重制成本，同时也确保了分析和修正措施的针对性，有效降低了整体的分析成本。