一种测试仪车体的制作方法

本发明涉及测试仪，具体为一种测试仪车体。

背景技术：

1、目前对于半导体器件表面参数的测量包括接触式和非接触式两种，而接触式测量方法有探针法，范德堡法，霍尔效应法等，其中探针测试仪法在半导体测量技术中使用最广泛。

2、目前在市面上，针对不同测试仪基本不能通用，大部分测试仪都是专门为了测试某个参数和功能而设计定制的，多为桌面式测试仪，因此测试范围受到局限，一般不能满足特定测试要求，测试仪上测试头在使用中需要调节角度与被测芯片打点，现有的测试仪无法满足所需角度的定位调节，实用性不高。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种测试仪车体，以解决上述背景技术中提出的问题。

2、为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

3、本发明所提供的一种测试仪车体，包括u形底座和与之相连接的两个立柱，两个所述立柱固定设置于所述u形底座两侧，两个所述立柱上端均设有转动机构，两个所述转动机构呈镜像设置，所述转动机构包括锁紧把手和测试头连接块，所述测试头连接块一侧设有固定块。

4、进一步的，所述测试头连接块与所述固定块固定连接，所述固定块一侧设有轴套一和轴套二。

5、进一步的，所述锁紧把手下端设有锁紧螺丝，所述锁紧螺丝与所述轴套二、所述轴套一相匹配连接。

6、进一步的，所述锁紧螺丝为m10*55螺丝，所述锁紧螺丝贯穿所述立柱后与所述轴套二相连接。

7、进一步的，所述立柱上端呈圆弧形，所述立柱上端还开设有弧形槽和定位孔，所述定位孔与所述锁紧螺丝相匹配设置。

8、进一步的，所述锁紧把手贯穿所述弧形槽后与所述固定块固定连接，所述锁紧把手与所述弧形槽滑动连接。

9、进一步的，所述固定块尺寸小于所述测试头连接块尺寸，且所述固定块上端与所述测试头连接块水平一致。

10、进一步的，两个所述立柱下端设有定位座，所述定位座通过多个定位螺栓与所述u形底座固定连接。

11、进一步的，所述u形底座下端还设有多个万向轮和地脚，所述地脚位于所述万向轮前端。

12、有益效果：一种测试仪车体，采用u形底座和立柱进行支撑，两个镜像设置的转动机构连接测试设备，实现测试设备前后翻转的操作，调节测试角度，操作方便，适用范围广，实用性强。

技术特征：

1.一种测试仪车体，其特征在于：包括u形底座(7)和与之相连接的两个立柱(3)，两个所述立柱(3)固定设置于所述u形底座(7)两侧，两个所述立柱(3)上端均设有转动机构(10)，两个所述转动机构(10)呈镜像设置，所述转动机构(10)包括锁紧把手(13)和测试头连接块(6)，所述测试头连接块(6)一侧设有固定块(5)。

2.根据权利要求1所述的一种测试仪车体，其特征在于：所述测试头连接块(6)与所述固定块(5)固定连接，所述固定块(5)一侧设有轴套一(8)和轴套二(9)。

3.根据权利要求2所述的一种测试仪车体，其特征在于：所述锁紧把手(13)下端设有锁紧螺丝(4)，所述锁紧螺丝(4)与所述轴套二(9)、所述轴套一(8)相匹配连接。

4.根据权利要求3所述的一种测试仪车体，其特征在于：所述锁紧螺丝(4)为m10*55螺丝，所述锁紧螺丝(4)贯穿所述立柱(3)后与所述轴套二(9)相连接。

5.根据权利要求4所述的一种测试仪车体，其特征在于：所述立柱(3)上端呈圆弧形，所述立柱(3)上端还开设有弧形槽(31)和定位孔(32)，所述定位孔(32)与所述锁紧螺丝(4)相匹配设置。

6.根据权利要求5所述的一种测试仪车体，其特征在于：所述锁紧把手(13)贯穿所述弧形槽(31)后与所述固定块(5)固定连接，所述锁紧把手(13)与所述弧形槽(31)滑动连接。

7.根据权利要求1所述的一种测试仪车体，其特征在于：所述固定块(5)尺寸小于所述测试头连接块(6)尺寸，且所述固定块(5)上端与所述测试头连接块(6)水平一致。

8.根据权利要求1所述的一种测试仪车体，其特征在于：两个所述立柱(3)下端设有定位座(11)，所述定位座(11)通过多个定位螺栓(12)与所述u形底座(7)固定连接。

9.根据权利要求1所述的一种测试仪车体，其特征在于：所述u形底座(7)下端还设有多个万向轮(1)和地脚(2)，所述地脚(2)位于所述万向轮(1)前端。

技术总结本发明公开了一种测试仪车体，包括U形底座和与之相连接的两个立柱，两个立柱固定设置于U形底座两侧，两个立柱上端均设有转动机构，两个转动机构呈镜像设置，转动机构包括锁紧把手和测试头连接块，测试头连接块一侧设有固定块。本发明的有益效果：采用U形底座和立柱进行支撑，两个镜像设置的转动机构连接测试设备，实现测试设备前后翻转的操作，调节测试角度，操作方便，适用范围广，实用性强。技术研发人员：胡晗受保护的技术使用者：苏州辉垦电子科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/11/4