基于断言的芯片复位功能验证方法、系统、设备和介质与流程

本发明属于芯片验证，涉及一种基于断言的芯片复位功能验证方法、系统、设备和介质。

背景技术：

1、芯片设计中复位电路用于确保芯片启动时能够对整个芯片各个部分做完整初始化，确保芯片能稳定启动。复位功能会影响以下几个方面：芯片能否稳定启动，运行开始时能否处于一个确定的状态；芯片系统中各个部分能否按照启动顺序和时序依次启动；错误情况发生时，可以通过复位让芯片恢复至初始状态。随着半导体技术的快速发展，芯片集成度也迅速提升。芯片集成的ip核(可重用部件)越来越多，因此芯片系统的复位设计也变得越来越复杂和重要。

2、验证芯片复位功能的正确性，是整个芯片验证中重要的第一步，如何高效、可靠的验证芯片复位功能成为芯片验证工作中至关重要的一环。传统的验证方法是通过向芯片输入激励，检查芯片输出数据的正确性来验证复位是否正确。然而传统的验证方法具有较大的局限性，不能发现芯片复位中一些隐藏的错误，存在着验证精确度低的技术问题。

技术实现思路

1、针对上述传统方法中存在的问题，本发明提出了一种基于断言的芯片复位功能验证方法、一种基于断言的芯片复位功能验证系统、一种计算机设备以及一种计算机可读存储介质，能够实现芯片复位设计的精确检查。

2、为了实现上述目的，本发明实施例采用以下技术方案：

3、一方面，提供一种基于断言的芯片复位功能验证方法，包括步骤：

4、根据待测芯片的芯片复位设计的复位时序关系，用systemverilog断言描述复位时序关系并更新到芯片验证环境的顶层文件中集成的断言模块；芯片验证环境的顶层文件中集成待测芯片的rtl代码；

5、在芯片验证环境的顶层文件中将rtl代码的目标信号连接到断言模块；目标信号包括上电复位信号、全局复位信号、ip核复位信号、cpu复位信号和时钟信号；

6、在芯片验证环境中生成芯片顶层的时钟复位信号后启动测试用例对待测芯片进行复位时序检查。

7、另一方面，还提供一种基于断言的芯片复位功能验证系统，包括：

8、断言设置模块，用于根据待测芯片的芯片复位设计的复位时序关系，用systemverilog断言描述复位时序关系并更新到芯片验证环境的顶层文件中集成的断言模块；芯片验证环境的顶层文件中集成待测芯片的rtl代码；

9、信号连接模块，用于在芯片验证环境的顶层文件中将rtl代码的目标信号连接到断言模块；目标信号包括上电复位信号、全局复位信号、ip核复位信号、cpu复位信号和时钟信号；

10、复位检查模块，用于在芯片验证环境中生成芯片顶层的时钟复位信号后启动测试用例对待测芯片进行复位时序检查。

11、又一方面，还提供一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述基于断言的芯片复位功能验证方法的步骤。

12、再一方面，还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述基于断言的芯片复位功能验证方法的步骤。

13、上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点和有益效果：

14、上述基于断言的芯片复位功能验证方法、系统、设备和介质，通过采用断言的验证方式进行芯片复位时序的验证，能够深入到芯片复位设计的所有细节，从而能够更精准、更全面的验证芯片复位功能。此外，断言模块也具有很好可移植性，能够在不同的芯片复位验证中通过简单调整检查信号和检查参数就可以实现复用，从而大幅提高验证效率。

技术特征：

1.一种基于断言的芯片复位功能验证方法，其特征在于，包括步骤：

2.根据权利要求1所述的基于断言的芯片复位功能验证方法，其特征在于，用systemverilog断言描述复位时序关系包括：

3.根据权利要求2所述的基于断言的芯片复位功能验证方法，其特征在于，用systemverilog断言描述复位时序关系还包括：

4.一种基于断言的芯片复位功能验证系统，其特征在于，包括：

5.根据权利要求4所述的基于断言的芯片复位功能验证系统，其特征在于，用systemverilog断言描述复位时序关系包括：

6.根据权利要求4或5所述的基于断言的芯片复位功能验证系统，其特征在于，用systemverilog断言描述复位时序关系还包括：

7.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至3任一项所述基于断言的芯片复位功能验证方法的步骤。

8.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至3任一项所述基于断言的芯片复位功能验证方法的步骤。

技术总结本发明涉及基于断言的芯片复位功能验证方法、系统、设备和介质，通过采用断言的验证方式进行芯片复位时序的验证，能够深入到芯片复位设计的所有细节，从而能够更精准、更全面的验证芯片复位功能。此外，断言模块也具有很好可移植性，能够在不同的芯片复位验证中通过简单调整检查信号和检查参数就可以实现复用，从而大幅提高验证效率。技术研发人员：冷勇,冯华,刘功哲,陈洁,熊民权,谭俊江,周彦武受保护的技术使用者：上海芯钛信息科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/11/14