一种面板漏制程缺陷检测方法、系统、设备及存储介质与流程

本发明涉及缺陷检测，具体而言，涉及一种面板漏制程缺陷检测方法、系统、设备及存储介质。

背景技术：

1、面板加工工厂在生产面板过程中会产生很多缺陷，然而整个面板产品的生产工艺流程复杂、生产周期长，从基板到生产加工完毕常常需要较长的时间，因此在每个工艺段产生的缺陷都需要时刻监控，避免缺陷流入下一道制程造成良率的降低。然而漏制程就是其中一种严重等级较高的缺陷，如果存在漏制程缺陷就会直接导致面板报废。

2、传统的漏制程缺陷检测方法是经过aoi(automatic optical inspection，自动光学检测)仪器对面板产品进行图像采集，再由人工对图像进行缺陷判定，一旦出现漏制程缺陷，则将面板进行修补。传统的缺陷检测依赖人工肉眼判图，不仅容易受人员经验差异和精神状态影响，导致误判率较高，而且人工成本相对较高，因此很多面板厂开始采用滑动自匹配的方式进行漏制程缺陷检测，首先从正常面板图像中获取匹配模版，然后基于匹配模板采用滑动自匹配的方式获取相似度，最后基于相似度进行漏制成缺陷判定。其中，采用滑动自匹配的方式进行漏制程缺陷检测需要对待检测的面板图像进行多次相似度匹配，才能实现精准定位，漏制程缺陷检测的速度较慢、效率较低。

技术实现思路

1、本发明提供一种面板漏制程缺陷检测方法、系统、设备及存储介质，解决了面板产品漏制程缺陷检测速度较慢、效率较低的问题。

2、在第一方面，本发明实施例中提供一种面板漏制程缺陷检测方法，所述方法包括以下步骤：

3、获取标准模板，所述标准模板包含线路的周期性元素；

4、基于标准模板对待检测的面板图像进行参照线定位，以获取位于线路之间的参照线，其中，所述参照线预先关联设置有面板制程位置定位规则；

5、基于线路之间的参照线对待检测的面板图像进行面板制程定位，以获取面板制程位置信息；

6、基于面板制程位置信息获取面板制程轮廓和面板制程像素，并且基于面板制程轮廓和面板制程像素对待检测的面板图像进行综合校验，以判定待检测的面板图像是否存在漏制程缺陷。

7、于上述实施例中，本发明首先根据面板产品的实际结构情况设置相应的参照线，然后根据参照线获取面板制程的位置信息；最后根据面板制程的位置信息进行面板制程轮廓和面板制程像素的判定，以实现面板漏制程缺陷的检测，能够根据工序加工图像的基本结构特征进行漏制程区分，提高了漏制程检测的准确性，无需进行模板的滑动自匹配，检测速度快、检测效率高。

8、作为本技术一些可选实施方式，获取标准模板的流程如下：

9、对正常的面板图像进行图像轮廓识别处理，以获取标准模板的位置信息；

10、基于标准模板的位置信息对正常的面板图像进行图像截取处理、二值化处理以及边缘轮廓提取处理，以得到最终的标准模板。

11、于上述实施例中，本发明通过对正常的面板图像进行一系列图像处理，以获取标准模板，便于后续进行参照线的定位。

12、作为本技术一些可选实施方式，所述面板制程位置定位规则包括正常的面板图像中标准模板与参照线的相对距离的参数集合、参照线之间相对距离的参数集合、参照线与面板制程之间相对距离的参数集合。

13、于上述实施例中，本发明的面板制程位置定位规则是根据面板制程的实际情况进行预先设置的，可以根据面板制程的不同进行参数的更改。

14、作为本技术一些可选实施方式，基于标准模板对待检测的面板图像进行参照线定位，以获取位于线路之间的参照线的流程如下：

15、对待检测的面板图像进行二值化处理和边缘轮廓提取处理，以获取待检测的面板图像的左下角像素点或左上角像素点；

16、将待检测的面板图像的左下角像素点或左上角像素点作为参照点，并且基于参照点将标准模板向右平移，以获取一个与标准模板相似的匹配模板的位置信息；

17、基于匹配模版的位置信息，根据预先关联设置的正常的面板图像中标准模板与参照线的相对距离的参数集合获取一条参照线，并且基于参照线，根据预先关联设置的正常的面板图像中参照线之间相对距离的参数集合再次获取若干参照线，以形成位于线路之间的参照线集合。

18、于上述实施例中，本发明首先通过一次模板匹配的方式获取参照线，然后通过参照线的相对距离获取一系列的参照线，便于后续通过参照线进行面板制程位置的定位。

19、作为本技术一些可选实施方式，基于线路之间的参照线对待检测的面板图像进行面板制程定位，以获取面板制程位置信息的流程如下：

20、从参照线集合中依次获取一条参照线；

21、基于当前获取的参照线，根据预先关联设置的正常的面板图像中参照线与面板制程之间相对距离的参数集合，从待检查的面板图像中定位与参照线存在相对距离的面板制程，以获取面板制程的位置信息。

22、于上述实施例中，本发明涉及的面板制程的位置信息是根据参照线以及预先关联设置的正常的面板图像中参照线与面板制程之间相对距离的参数集合等参数获取的。

23、作为本技术一些可选实施方式，基于面板制程位置信息获取面板制程轮廓和面板制程像素的流程如下：

24、基于当前获取的参照线，根据面板制程的位置信息在待检测的面板图像中构建面板制程检测框；

25、基于面板制程检测框，从待检测的面板图像中获取面板制程轮廓和面板制程像素。

26、于上述实施例中，本发明通过在面板制程位置获取面板制程检测框，能够便于后续获取面板制程轮廓和面板制程像素，进一步确定并且缩小检测范围。

27、作为本技术一些可选实施方式，基于面板制程轮廓和面板制程像素对待检测的面板图像进行综合校验，以判定待检测的面板图像是否存在漏制程缺陷的流程如下：

28、对面板制程轮廓进行制程轮廓校验，如果存在面板制程轮廓，则构建相应的轮廓校验参数；

29、对面板制程像素进行灰度校验，如果灰度值位于灰度阈值范围，则构建相应的像素校验参数；

30、基于轮廓校验参数和像素校验参数对待检测的面板图像进行综合校验，以判定待检测的面板图像是否存在漏制程缺陷。

31、于上述实施例中，本发明通过对面板图像的轮廓和像素进行综合校验，能够确保漏制程检测的准确率，以防止出现漏检的问题。

32、作为本技术一些可选实施方式，基于轮廓校验参数和像素校验参数对待检测的面板图像进行综合校验，以判定待检测的面板图像是否存在漏制程缺陷的流程如下：

33、如果存在面板制程轮廓，则构建相应的轮廓校验参数为1，反之，则构建相应的轮廓校验参数为0；

34、如果灰度值位于灰度阈值范围，则构建相应的像素校验参数为1，反之，则构建相应的像素校验参数为0；

35、如果轮廓校验参数和像素校验参数均为1，则判定待检测的面板图像对应的面板制程位置不存在漏制程缺陷，反之，则判定待检测的面板图像对应的面板制程位置存在漏制程缺陷。

36、在第二方面，本发明提供一种面板漏制程缺陷检测系统，所述系统包括：

37、标准模板获取单元，所述标准模板获取单元用于获取标准模板，所述标准模板包含线路的周期性元素；

38、参照线获取单元，所述参照线获取单元基于标准模板对待检测的面板图像进行参照线定位，以获取位于线路之间的参照线，其中，所述参照线预先关联设置有面板制程位置定位规则；

39、制程位置获取单元，所述制程位置获取单元基于线路之间的参照线对待检测的面板图像进行面板制程定位，以获取面板制程位置信息；

40、漏制程缺陷校验单元，所述漏制程缺陷校验单元基于面板制程位置信息获取面板制程轮廓和面板制程像素，并且基于面板制程轮廓和面板制程像素对待检测的面板图像进行综合校验，以判定待检测的面板图像是否存在漏制程缺陷。

41、在第三方面，本发明提供一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述一种面板漏制程缺陷检测方法。

42、在第四方面，本发明提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述一种面板漏制程缺陷检测方法。

43、本发明的有益效果如下：本发明首先根据面板产品的实际结构情况设置相应的参照线，然后根据参照线获取面板制程的位置信息；最后根据面板制程的位置信息进行面板制程轮廓和面板制程像素的判定，以实现面板漏制程缺陷的检测，能够根据工序加工图像的基本结构特征进行漏制程区分，提高了漏制程检测的准确性，无需进行模板的滑动自匹配，检测速度快、检测效率高。