反向击穿电压测试仪和测试设备的制作方法

本技术涉及反向击穿电压测试，尤其是涉及一种反向击穿电压测试仪和测试设备。

背景技术：

1、晶体管的反向击穿电压是晶体管最重要的参数之一，直接关系到应用电路的性能优劣。现有技术中多采用数据源表对晶体管的反向击穿电压进行测量，但数字源表的成本较高。

技术实现思路

1、有鉴于此，本实用新型的目的在于提供一种反向击穿电压测试仪和测试设备，从而降低晶体管反向击穿电压测试的成本。

2、第一方面，本实用新型实施例提供了一种反向击穿电压测试仪，包括：电压输入模块、电流控制模块和测量模块；测量模块分别与电压输入模块和电流控制模块相连；被测晶体管的一端分别与电压输入模块和电流控制模块相连；被测晶体管的另一端与测量模块相连；电压输入模块，用于持续输入测量电压；电流控制模块，用于根据测量电压调整输入至测量模块的测量电流，以使测量电流的测量电流值不超过预设测量电流值；测量模块，用于测量被测晶体管的实时电压，当实时电压达到预设读取标准时，确定实时电压为被测晶体管的反向击穿电压；电压输入模块，还用于当测量电压等于或大于反向击穿电压时，停止输入测量电压。

3、进一步的，电流控制模块包括相连的控制芯片和第一通讯单元；电压输入模块包括第二通讯单元；第一通讯单元与第二通讯单元通讯连接；控制芯片，用于实时获取电压输入模块发送的测量电压值，根据测量电压值和预设测量电流值确定测量模块对应的分流阻值。

4、进一步的，电流控制模块包括相连的控制芯片和第一接口；电压输入模块包括第二接口；电流控制模块通过第一接口与电压输入模块的第二接口相连；控制芯片，用于实时获取电压输入模块发送的测量电压值，根据测量电压值和预设测量电流值确定测量模块对应的分流阻值。

5、进一步的，电流控制模块包括相连的控制芯片和测量仪；测量仪与电压输入模块相连；控制芯片，用于获取测量仪测量的实时测量数据；根据实时测量数据确定测量模块对应的分流阻值。

6、进一步的，电流控制模块还包括可变电阻；可变电阻与控制芯片相连；控制芯片，还用于根据分流阻值调整可变电阻的实时电阻值，直至实时电阻值等于分流阻值。

7、进一步的，电压输入模块包括第二通讯单元；测量模块包括第三通讯单元；第二通讯单元和第三通讯单元通讯连接；测量模块，还用于通过第二通讯单元获取测量模块通过第三通讯单元发送的反向击穿电压。

8、进一步的，测量模块包括万用表。

9、第二方面，本实用新型实施例提供了一种测试设备，包括：测试箱体，还包括上述任一项的反向击穿电压测试仪；反向击穿电压测试仪设置在测试箱体内部。

10、进一步的，还包括：固定在测试箱体上的放置台；放置台与反向击穿电压测试仪相连；放置台用于放置被测晶体管。

11、进一步的，还包括：电压调节旋钮和显示设备；电压调节旋钮与反向击穿电压测试仪中的电压输入模块相连；显示设备与反向击穿电压测试仪相连；电压调节旋钮，用于调节电压输入模块输入的测试电压；显示设备，用于显示被测晶体管的反向击穿电压。

12、本实用新型实施例提供了一种反向击穿电压测试仪和测试设备，包括：电压输入模块、电流控制模块和测量模块；测量模块分别与电压输入模块和电流控制模块相连；被测晶体管的一端分别与电压输入模块和电流控制模块相连；被测晶体管的另一端与测量模块相连；电压输入模块，用于持续输入测量电压；电流控制模块，用于根据测量电压调整输入至测量模块的测量电流，以使测量电流的测量电流值不超过预设测量电流值；测量模块，用于测量被测晶体管的实时电压，当实时电压达到预设读取标准时，确定实时电压为被测晶体管的反向击穿电压；电压输入模块，还用于当测量电压等于或大于反向击穿电压时，停止输入测量电压。该方式中，通过将万用表和可变电阻串联的方式构成电流控制模块，从而降低晶体管反向击穿电压测试的成本。

13、本实用新型的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本实用新型而了解。本实用新型的目的和其他优点在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

14、为使本实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

技术特征：

1.一种反向击穿电压测试仪，其特征在于，包括：电压输入模块、电流控制模块和测量模块；所述测量模块分别与所述电压输入模块和所述电流控制模块相连；被测晶体管的一端分别与所述电压输入模块和所述电流控制模块相连；所述被测晶体管的另一端与所述测量模块相连；

2.根据权利要求1所述的反向击穿电压测试仪，其特征在于，所述电流控制模块包括相连的控制芯片和第一通讯单元；所述电压输入模块包括第二通讯单元；所述第一通讯单元与所述第二通讯单元通讯连接；

3.根据权利要求1所述的反向击穿电压测试仪，其特征在于，电流控制模块包括相连的控制芯片和第一接口；所述电压输入模块包括第二接口；电流控制模块通过所述第一接口与所述电压输入模块的第二接口相连；

4.根据权利要求1所述的反向击穿电压测试仪，其特征在于，所述电流控制模块包括相连的控制芯片和测量仪；所述测量仪与所述电压输入模块相连；

5.根据权利要求2或权利要求3或权利要求4任一项所述的反向击穿电压测试仪，其特征在于，所述电流控制模块还包括可变电阻；所述可变电阻与所述控制芯片相连；

6.根据权利要求1所述的反向击穿电压测试仪，其特征在于，所述电压输入模块包括第二通讯单元；所述测量模块包括第三通讯单元；所述第二通讯单元和所述第三通讯单元通讯连接；

7.根据权利要求1所述的反向击穿电压测试仪，其特征在于，所述测量模块包括万用表。

8.一种测试设备，其特征在于，包括：测试箱体，还包括上述权利要求1-7任一项所述的反向击穿电压测试仪；所述反向击穿电压测试仪设置在所述测试箱体内部。

9.根据权利要求8所述的测试设备，其特征在于，还包括：固定在所述测试箱体上的放置台；所述放置台与所述反向击穿电压测试仪相连；所述放置台用于放置被测晶体管。

10.根据权利要求8所述的测试设备，其特征在于，还包括：电压调节旋钮和显示设备；所述电压调节旋钮与所述反向击穿电压测试仪中的电压输入模块相连；所述显示设备与所述反向击穿电压测试仪相连；

技术总结本技术提供了一种反向击穿电压测试仪和测试设备，包括：电压输入模块、电流控制模块和测量模块；测量模块分别与电压输入模块和电流控制模块相连；被测晶体管的一端分别与电压输入模块和电流控制模块相连；被测晶体管的另一端与测量模块相连。该方式中，通过将万用表和可变电阻串联的方式构成电流控制模块，从而降低晶体管反向击穿电压测试的成本。技术研发人员：丁盛峰,阮辉,王碧源受保护的技术使用者：杭州芯云半导体集团有限公司技术研发日：20240328技术公布日：2024/12/12