一种MEMS传感器的制作方法
- 国知局
- 2024-07-27 12:53:16
本技术涉及mems器件,尤其涉及一种mems传感器。
背景技术:
1、mems传感器,尤其是mems麦克风、超声换能器、压力传感器等接收来自气体、液体、固体的振动信号时,往往会受到余震的影响。余震是指mems传感器接收到振动信号并将其转换为电信号后,该振动信号并不会立刻消失,而是会继续在mems传感器中震荡衰减至零,这个震荡衰减的过程就叫做信号余震。由于余震总是会持续一段时间,因此会干扰传感器接收新的信号,降低传感器的信噪比。余震能量较大的时候,甚至会使传感器在小段时间内无法工作,这一小段时间就被称作传感器盲区时间。
2、在mems传感器的设计中,有许多利用共振腔来加快余震的衰减的方法,如专利号cn 110681559 b和专利号cn 110560349 b的专利。共振腔的原理是,当振动信号被传感器感知后,后续的余震将继续在传感器的腔体中振动,通过设计将腔体的共振频率设计为和余震相近时,就会引起余震的共振,从而快速消耗余震的能量,减小余震对传感器的影响时长。而共振腔有一些缺点,一是腔体需要单独设计,为了匹配余震的频率,往往由多级不同尺寸的腔体构成,因此腔体体积一般较大。二是腔体需要余震进入腔体内震荡衰减,因此对空气振动的效果较好,而对液体和固体的振动衰减效果较差。
技术实现思路
1、本实用新型的目的在于克服现有技术存在的以上问题,提供一种mems传感器,该mems传感器可以在消除mems器件余震的同时不增加mems器件的体积,且可适用于固液气各种环境下的余震消除。
2、为实现上述技术目的,达到上述技术效果,本实用新型通过以下技术方案实现:
3、本实用新型提供一种mems传感器,所述mems传感器包括:
4、具有一腔体的mems器件;
5、共振结构,设置于所述腔体内,且所述共振结构用于消除所述mems器件的余震。
6、在本实用新型的一个实施例中,所述mems器件包括:
7、基底;以及
8、振膜,设置于所述基底上。
9、在本实用新型的一个实施例中,所述腔体设置于所述基底上且位于与所述振膜连接的一侧。
10、在本实用新型的一个实施例中,所述共振结构包括共振片,所述共振片呈环形阵列排布,且所述环形阵列的中心点与所述腔体的中心点重合。
11、在本实用新型的一个实施例中,所述mems传感器还包括振动间隙,所述振动间隙位于所述共振片与所述振膜之间。
12、综上所述,本实用新型提供一种mems传感器,该mems传感器通过在mems器件的内部刻蚀一个腔体,在腔体的内部设置共振结构,由于是单个腔体,故mems传感器的体积小,且共振结构可设置为多个共振片,或者多种频率的共振片,提高消除余震的效率。余震在传感器中传播时,余震会引发共振结构中的共振片在余震的频率上发生共振,共振片的大幅度振动会极大消耗余震的能量,使余震减小到不会对传感器产生干扰的程度,达到快速消除余震的目的,且可适用于固、液、气各种环境中。
技术特征:1.一种mems传感器,其特征在于,所述mems传感器包括:
2.根据权利要求1所述的mems传感器,其特征在于,所述共振结构包括共振片,所述共振片呈环形阵列排布,且所述环形阵列的中心点与所述腔体的中心点重合。
3.根据权利要求2所述的mems传感器,其特征在于,所述mems传感器还包括振动间隙,所述振动间隙位于所述共振片与所述振膜之间。
技术总结本技术提供一种MEMS传感器,所述MEMS传感器包括:具有一腔体的MEMS器件;共振结构,设置于所述腔体内,且所述共振结构用于消除所述MEMS器件的余震。本技术提供一种MEMS传感器,该MEMS传感器体积小,可快速消除余震,且可适用于固、液、气各种环境中。技术研发人员:祝梦林,鲍志远受保护的技术使用者:合肥领航微系统集成有限公司技术研发日:20221025技术公布日:2024/1/12本文地址:https://www.jishuxx.com/zhuanli/20240726/123964.html
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