信号测试装置和系统的制作方法

本技术涉及信号测试，具体地，涉及一种信号测试装置和系统。

背景技术：

1、随着pcie(英文：peripheral component interconnect express，中文：高速串行计算机扩展总线标准)技术的不断发展，pcie传输速率越来越快，这使得对pcie链路的稳定性要求也越来越高。当前，pcie设备需要和主板进行通信才能正常传输信号，而pcie设备的接收端的rx信号是由主板传输给pcie设备的，也就是说pcie设备的接收端的rx信号的质量实际是由主板决定的，因此只需要测试pcie设备的接收端的tx信号的质量，就可以确定pcie设备的链路是否稳定。

2、然而，pcie设备一般都插置于主板上设置的母座插槽中，这会使得pcie设备的金手指被母座覆盖住，导致难以放置测试探头来对pcie设备的tx信号的质量进行测试，测试难度较大，影响了测试效率，同时容易引入误差，降低了信号测试的准确度。并且，pcie设备在脱离主板通信的情况下无法独立进行工作，需要依赖主板才能进行测试，这会增加测试成本。

技术实现思路

1、为了解决相关技术中存在的问题，本实用新型提供了一种信号测试装置和系统。

2、根据本实用新型实施例的第一方面，提供一种信号测试装置，所述信号测试装置包括母座、连接模块、信号触发模块和测试模块；

3、所述测试模块和所述信号触发模块分别通过所述连接模块与所述母座连接；

4、所述信号触发模块，用于在待测pcie设备插置于所述母座上时，通过所述连接模块、所述母座向所述待测pcie设备发送触发信号，以使所述待测pcie设备通过所述母座、所述连接模块向所述测试模块传输tx信号；

5、所述测试模块，用于对所述tx信号进行信号测试，得到信号测试结果。

6、可选地，所述母座包括信号接收插槽和信号发射插槽；

7、所述信号接收插槽与所述待测pcie设备的接收端连接，所述信号发射插槽与所述待测pcie设备的发射端连接；

8、所述测试模块通过所述连接模块与所述信号发射插槽连接，所述信号触发模块通过所述连接模块与所述信号接收插槽连接。

9、可选地，所述信号触发模块包括触发按键、时基集成电路和差分晶振；

10、所述触发按键通过所述时基集成电路、所述差分晶振、所述连接模块与所述信号接收插槽连接；

11、所述信号触发模块，用于在所述触发按键被按下时，通过所述时基集成电路和所述差分晶振产生所述触发信号，并将所述触发信号通过所述连接模块、所述信号接收插槽发送至所述待测pcie设备。

12、可选地，所述连接模块包括第一smp连接器和第二smp连接器；

13、所述测试模块通过所述第一smp连接器与所述信号发射插槽连接，所述差分晶振通过所述第二smp连接器与所述信号接收插槽连接。

14、可选地，所述信号测试装置还包括时钟模块；

15、所述时钟模块与所述母座连接，用于通过所述母座向所述待测pcie设备提供参考时钟。

16、可选地，所述信号测试装置还包括电源连接器；所述电源连接器用于连接供电电源与所述母座。

17、可选地，所述信号测试装置还包括复位模块；

18、所述复位模块与所述母座连接，用于通过所述母座向所述待测pcie设备提供复位信号。

19、可选地，所述测试模块包括示波器和控制器；所述示波器通过所述第一smp连接器与所述信号发射插槽连接，且所述示波器与所述控制器连接；

20、所述示波器，用于获取所述tx信号的信号波形，并将所述信号波形发送至所述控制器，以使所述控制器根据所述信号波形确定所述信号测试结果。

21、可选地，所述信号测试装置还包括底板；

22、所述母座、所述连接模块和所述信号触发模块均固定于所述底板上。

23、根据本实用新型实施例的第二方面，提供一种信号测试系统，所述信号测试系统包括待测pcie设备、供电电源以及第一方面中任一项所述的信号测试装置；

24、所述待测pcie设备和所述供电电源分别与所述信号测试装置连接。

25、通过上述技术方案，本实用新型实施例提供的信号测试装置包括母座、连接模块、信号触发模块和测试模块，测试模块和信号触发模块分别通过连接模块与母座连接，信号触发模块，用于在待测pcie设备插置于母座上时，通过连接模块、母座向待测pcie设备发送触发信号，以使待测pcie设备通过母座、连接模块向测试模块传输tx信号，测试模块，用于对tx信号进行信号测试，得到信号测试结果。本实用新型中的信号测试装置可以通过信号触发模块向待测pcie设备施加触发信号，来触发待测pcie设备传输tx信号至测试模块进行信号测试，能够不依赖主板对tx信号进行信号测试，降低了测试难度和测试成本，提高了检测效率和检测准确度。

26、本实用新型的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。

技术特征：

1.一种信号测试装置，其特征在于，所述信号测试装置包括母座、连接模块、信号触发模块和测试模块；

2.根据权利要求1所述的信号测试装置，其特征在于，所述母座包括信号接收插槽和信号发射插槽；

3.根据权利要求2所述的信号测试装置，其特征在于，所述信号触发模块包括触发按键、时基集成电路和差分晶振；

4.根据权利要求3所述的信号测试装置，其特征在于，所述连接模块包括第一smp连接器和第二smp连接器；

5.根据权利要求1所述的信号测试装置，其特征在于，所述信号测试装置还包括时钟模块；

6.根据权利要求1所述的信号测试装置，其特征在于，所述信号测试装置还包括电源连接器；所述电源连接器用于连接供电电源与所述母座。

7.根据权利要求1所述的信号测试装置，其特征在于，所述信号测试装置还包括复位模块；

8.根据权利要求4所述的信号测试装置，其特征在于，所述测试模块包括示波器和控制器；所述示波器通过所述第一smp连接器与所述信号发射插槽连接，且所述示波器与所述控制器连接；

9.根据权利要求1-8中任一项所述的信号测试装置，其特征在于，所述信号测试装置还包括底板；

10.一种信号测试系统，其特征在于，所述信号测试系统包括待测pcie设备、供电电源以及权利要求1-9中任一项所述的信号测试装置；

技术总结本技术涉及一种信号测试装置和系统，涉及信号测试技术领域，信号测试装置包括母座、连接模块、信号触发模块和测试模块，测试模块和信号触发模块分别通过连接模块与母座连接，信号触发模块，用于在待测PCIE设备插置于母座上时，通过连接模块、母座向待测PCIE设备发送触发信号，以使待测PCIE设备通过母座、连接模块向测试模块传输TX信号，测试模块，用于对TX信号进行信号测试，得到信号测试结果。本技术中的信号测试装置能够不依赖主板对TX信号进行信号测试，降低了测试难度和测试成本，提高了检测效率和检测准确度。技术研发人员：李锐坤,姚晓娜受保护的技术使用者：西安芯云半导体技术有限公司技术研发日：20231226技术公布日：2024/7/29