一种存储芯片的测试系统及测试方法与流程

本发明涉及静态存储，特别涉及一种存储芯片的测试系统及测试方法。

背景技术：

1、存储芯片是嵌入式系统芯片的概念在存储行业的具体应用。无论是系统芯片还是存储芯片，都是通过在单一芯片中嵌入软件，以实现多功能、高性能以及对多种协议、多种硬件和不同应用的支持。存储芯片广泛应用于计算机、移动设备、物联网等领域，用于存储各种数据，如操作系统、应用程序、音乐、视频、照片等。

2、目前存储芯片的兼容性能较差，会发生存储系统运行异常的情况。因此，存在待改进之处。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种存储芯片的测试系统及测试方法，用于解决现有技术中存在存储芯片的兼容性能较差的问题。

2、为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：

3、本发明提出一种存储芯片的测试系统，包括：

4、通用串口总线模块，用以与主机之间进行数据传输；

5、存储模块，用以存储所述主机写入的测试系统映像文件；

6、内存模块，用以运行所述测试系统映像文件中的测试程序；

7、多个芯片测试座，用以安装待测芯片；

8、中央处理模块，用以调节所述芯片测试座周围的环境温度，调节所述待测芯片输入时钟信号的延迟值，并向所述待测芯片写入测试数据，收集所述待测芯片上的响应数据，以检测所述待测芯片的兼容性能；以及

9、电源模块，用以对所述芯片测试座和所述中央处理模块供电。

10、在本发明的一个实施例中，所述中央处理模块用以将所述时钟信号的一个周期划分为多个时钟区间，并以不同的时钟区间作为所述时钟信号的延迟值，向所述待测芯片写入测试数据。

11、在本发明的一个实施例中，所述中央处理模块用以将一个时钟区间作为单位延迟值，在所述时钟信号每增加一个单位延迟值后，向所述待测芯片写入测试数据。

12、在本发明的一个实施例中，所述中央处理模块用以将所述芯片测试座周围的环境温度设定为多个区间，并在多个区间的环境温度下向所述待测芯片写入测试数据。

13、在本发明的一个实施例中，所述中央处理模块用以判断所述响应数据与所述时钟信号是否具有时间上的同步性，并基于判断结果，比较所述待测芯片的兼容性能。

14、在本发明的一个实施例中，在所述响应数据与所述时钟信号具有时间上的同步性时，所述中央处理模块将所述响应数据表示为正常数据，在所述响应数据与所述时钟信号不具有时间上的同步性时，所述中央处理模块将所述响应数据表示为异常数据。

15、在本发明的一个实施例中，在不同的环境温度下，当所述正常数据关联延迟值的时钟区间占时钟信号一个周期的60%以上，且不同的环境温度对应所述正常数据的重合度超过90%以上时，所述中央处理模块判定所述待测芯片兼容性能处于第一状态。

16、在本发明的一个实施例中，在不同的环境温度下，当所述正常数据关联延迟值的时钟区间占时钟信号一个周期的50%～60%，且不同的环境温度对应所述正常数据的重合度超过90%以上时，所述中央处理模块判定所述待测芯片兼容性能处于第二状态。

17、在本发明的一个实施例中，在不同的环境温度下，当所述正常数据关联延迟值的时钟区间占时钟信号一个周期的50%以下，且在相邻延迟值的时钟区间内，所述正常数据和所述异常数据之间交叉出现时，所述中央处理模块判定所述待测芯片兼容性能处于第三状态。

18、本发明还提出一种存储芯片的测试方法，包括：

19、通过通用串口总线模块，接收主机传输的数据；

20、获取所述主机写入的测试系统映像文件，存储至存储模块上，并在内存模块上运行所述测试系统映像文件中的测试程序；

21、将待测芯片安装在多个芯片测试座上；

22、通过电源模块，对所述芯片测试座和中央处理模块进行供电；以及

23、通过所述中央处理模块，调节所述芯片测试座周围的环境温度，调节所述待测芯片输入时钟信号的延迟值，并向所述待测芯片写入测试数据，收集所述待测芯片上的响应数据，以检测所述待测芯片的兼容性能。

24、如上所述，本发明提供了一种存储芯片的测试系统及测试方法，可快速高效的筛选出兼容性能良好的存储芯片。

25、当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

技术特征：

1.一种存储芯片的测试系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，所述中央处理模块用以将所述时钟信号的一个周期划分为多个时钟区间，并以不同的时钟区间作为所述时钟信号的延迟值，向所述待测芯片写入测试数据。

3.根据权利要求2所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，所述中央处理模块用以将一个时钟区间作为单位延迟值，在所述时钟信号每增加一个单位延迟值后，向所述待测芯片写入测试数据。

4.根据权利要求1～3任一所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，所述中央处理模块用以将所述芯片测试座周围的环境温度设定为多个区间，并在多个区间的环境温度下向所述待测芯片写入测试数据。

5.根据权利要求4所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，所述中央处理模块用以判断所述响应数据与所述时钟信号是否具有时间上的同步性，并基于判断结果，比较所述待测芯片的兼容性能。

6.根据权利要求5所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，在所述响应数据与所述时钟信号具有时间上的同步性时，所述中央处理模块将所述响应数据表示为正常数据，在所述响应数据与所述时钟信号不具有时间上的同步性时，所述中央处理模块将所述响应数据表示为异常数据。

7.根据权利要求6所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，在不同的环境温度下，当所述正常数据关联延迟值的时钟区间占时钟信号一个周期的60%以上，且不同的环境温度对应所述正常数据的重合度超过90%以上时，所述中央处理模块判定所述待测芯片兼容性能处于第一状态。

8.根据权利要求6所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，在不同的环境温度下，当所述正常数据关联延迟值的时钟区间占时钟信号一个周期的50%～60%，且不同的环境温度对应所述正常数据的重合度超过90%以上时，所述中央处理模块判定所述待测芯片兼容性能处于第二状态。

9.根据权利要求6所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，在不同的环境温度下，当所述正常数据关联延迟值的时钟区间占时钟信号一个周期的50%以下，且在相邻延迟值的时钟区间内，所述正常数据和所述异常数据之间交叉出现时，所述中央处理模块判定所述待测芯片兼容性能处于第三状态。

10.一种存储芯片的测试方法，其特征在于，包括：

技术总结本发明涉及静态存储技术领域，特别涉及一种存储芯片的测试系统及测试方法。测试系统包括：通用串口总线模块，用以与主机之间进行数据传输；存储模块，用以存储主机写入的测试系统映像文件；内存模块，用以运行测试系统映像文件中的测试程序；多个芯片测试座，用以安装待测芯片；中央处理模块，用以调节芯片测试座周围的环境温度，调节待测芯片输入时钟信号的延迟值，并向待测芯片写入测试数据，收集待测芯片上反应的响应数据，以检测待测芯片的兼容性能；以及电源模块，用以对芯片测试座和中央处理模块供电。本发明可快速高效的筛选出兼容性能良好的存储芯片。技术研发人员：余玉,许展榕受保护的技术使用者：合肥康芯威存储技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/15