基于FPGA的SDRAM测试方法与流程

本发明属于随机动态存储器测试，具体涉及一种基于fpga的sdram测试方法。

背景技术：

1、随着我国科学技术的飞速发展，对于民用尤其是军用和宇航级设备的要求也越来愈高，对其设备配套的元器件的质量可靠性、功能性能与环境适应性提出更高的要求。

2、在技术日益进步同时，对存储器的功能性能、存储容量也提出了更高要求，尤其是用于内存扩展的随机动态存储器，更是受到了关注。

3、然而由于国产存储器元器件的研发技术不足，测试设备与测试手段的欠缺，使得研制生产出来的芯片“不好用”“不敢用”和“用不好”。

4、一方面是因为存储器芯片研制技术“未吃透”，另一方面就是芯片测试方法、测试设备及测试数据不能够充分表征器功能性能、质量可靠性以及环境适应性，难以充分指导用户使用，市场推广难度大。目前市面上使用的测试设备，比如93000、j750hd、6575等设备需要相关测试人员有着丰富的测试经验及对测试设备操作有着很高的熟练度，且这些设备仅能在器件级上对其功能性能进行参数测试，并不涉及sdram系统级测试及使用，难以指导生产厂家研发设计及客户使用。

5、目前现有技术，为了测试验证sdram功能性能需要开发功能板及依赖机台测试其参数，不具有批量性及方法单一，不能完整的体现sdram功能性能，难以满足用户需求。

技术实现思路

1、有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种基于fpga的sdram测试方法。

2、为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：

3、本发明实施例提供一种基于fpga的sdram测试方法，该方法包括：

4、fpga控制芯片接收到测试指令，对待测sdram芯片进行走步法写读并对比；

5、如果写入数据与读出数据一致，继续对待测sdram芯片进行全0法写读并对比；

6、如果写入数据与读出数据一致，继续对待测sdram芯片进行全1法写读并对比；

7、如果写入数据与读出数据一致，继续对待测sdram芯片进行55aa法写读并对比；

8、如果写入数据与读出数据一致，继续对待测sdram芯片进行aa55法写读并对比；

9、如果写入数据与读出数据一致，继续对待测sdram芯片进行自定义写读法写读并对比；

10、如果写入数据与读出数据一致，所述fpga控制芯片根据测试指令对待测sdram芯片进行工作电压检测、功耗检测、地址线检测、数据线检测、最大容量检测、运行频率检测、写入速度检测、读取速度检测、输出voh检测、输出vol检测、自定义工作电压输入检测和/或自定义工作频率输入检测；

11、如果功能性测试的写入数据与读出数据依然一致，确定该sdram正常。

12、上述方案中，所述fpga控制芯片根据测试指令对待测sdram芯片进行功能性测试，具体为：所述fpga控制芯片根据测试指令对待测sdram芯片进行工作电压检测、功耗检测、地址线检测、数据线检测、最大容量检测、运行频率检测、写入速度检测、读取速度检测、输出voh检测、输出vol检测、自定义工作电压输入检测和/或自定义工作频率输入检测。

13、上述方案中，所述fpga控制芯片根据测试指令对待测sdram芯片进行工作电压检测，具体为：调用模数转换模块将供电电压vcc进行模拟采集转换成数字参数，并把检测结果打印输出到显示屏进行显示。

14、上述方案中，所述fpga控制芯片根据测试指令对待测sdram芯片进行功耗检测，具体为：调用模数转换模块将供电电流进行模拟采集转换成数字参数，并在代码中进行功耗换算，并把检测结果打印输出到显示屏进行显示。

15、上述方案中，所述fpga控制芯片根据测试指令对待测sdram芯片进行地址线或者数据线检测，具体为：通过代码对比地址线/数据线上的值与常量1或者0是否一致从而判断地址线/数据线是多少，是否与待测试芯片的地址线/数据线一致，并把检测结果打印输出到显示屏进行显示。

16、上述方案中，所述fpga控制芯片根据测试指令对待测sdram芯片进行最大容量检测，具体为：对待测芯片sdram进行循环读写，当代码中检测到fpga已经写读到sdram存储空间最后一行与最后一列的空间地址时，记录这个空间容量累计数count，并把检测结果打印输出到显示屏进行显示。

17、上述方案中，所述fpga控制芯片根据测试指令对待测sdram芯片进行运行频率检测，具体为：调用控制代码中的锁相环pll模块，输出运行评论参数，并把检测结果打印输出到显示屏进行显示。

18、上述方案中，所述fpga控制芯片根据测试指令对待测sdram芯片进行写入速度检测或者读取速度检测，具体为：在代码中写函数模块/读函数模块中的01变化的累计数，计算出每秒钟01变化的个数，计算出该结果便是写入/读取速度，并把检测结果打印输出到显示屏进行显示。

19、上述方案中，所述fpga控制芯片根据测试指令对待测sdram芯片进行自定义工作电压输入检测检测，具体为：数模转换模块将输入供电电压vcc进行模拟采集转换成数字参数，把该值输送到fpga控制芯片，fpga控制电源管理系统输出对应自定义电压对系统进行供电，并把检测结果打印输出到显示屏进行显示。

20、上述方案中，所述fpga控制芯片根据测试指令对待测sdram芯片进行自定义工作频率输入检测检测，具体为：将输入工作频率进行模拟采集转换成数字参数，把该值输送到fpga控制芯片，fpga控制锁相环pll输出对应自定义频率值，并把检测结果打印输出到显示屏进行显示。

21、与现有技术相比，本发明能够解决了用户急需对sdram芯片功能性能测试验证，能够测试其电源适应性以及频率适应性等环境适应性。

技术特征：

1.一种基于fpga的sdram测试方法，其特征在于，该方法包括：

2.根据权利要求1所述的基于fpga的sdram测试方法，其特征在于，所述fpga控制芯片根据测试指令对待测sdram芯片进行工作电压检测，具体为：调用模数转换模块将供电电压vcc进行模拟采集转换成数字参数，并把检测结果打印输出到显示屏进行显示。

3.根据权利要求2所述的基于fpga的sdram测试方法，其特征在于，所述fpga控制芯片根据测试指令对待测sdram芯片进行功耗检测，具体为：调用模数转换模块将供电电流进行模拟采集转换成数字参数，并在代码中进行功耗换算，并把检测结果打印输出到显示屏进行显示。

4.根据权利要求3所述的基于fpga的sdram测试方法，其特征在于，所述fpga控制芯片根据测试指令对待测sdram芯片进行地址线或者数据线检测，具体为：通过代码对比地址线/数据线上的值与常量1或者0是否一致从而判断地址线/数据线是多少，是否与待测试芯片的地址线/数据线一致，并把检测结果打印输出到显示屏进行显示。

5.根据权利要求4所述的基于fpga的sdram测试方法，其特征在于，所述fpga控制芯片根据测试指令对待测sdram芯片进行最大容量检测，具体为：对待测芯片sdram进行循环读写，当代码中检测到fpga已经写读到sdram存储空间最后一行与最后一列的空间地址时，记录这个空间容量累计数count，并把检测结果打印输出到显示屏进行显示。

6.根据权利要求5所述的基于fpga的sdram测试方法，其特征在于，所述fpga控制芯片根据测试指令对待测sdram芯片进行运行频率检测，具体为：调用控制代码中的锁相环pll模块，输出运行评论参数，并把检测结果打印输出到显示屏进行显示。

7.根据权利要求6所述的基于fpga的sdram测试方法，其特征在于，所述fpga控制芯片根据测试指令对待测sdram芯片进行写入速度检测或者读取速度检测，具体为：在代码中写函数模块/读函数模块中的01变化的累计数，计算出每秒钟01变化的个数，计算出该结果便是写入/读取速度，并把检测结果打印输出到显示屏进行显示。

8.根据权利要求7所述的基于fpga的sdram测试方法，其特征在于，所述fpga控制芯片根据测试指令对待测sdram芯片进行自定义工作电压输入检测检测，具体为：数模转换模块将输入供电电压vcc进行模拟采集转换成数字参数，把该值输送到fpga控制芯片，fpga控制电源管理系统输出对应自定义电压对系统进行供电，并把检测结果打印输出到显示屏进行显示。

9.根据权利要求8所述的基于fpga的sdram测试方法，其特征在于，所述fpga控制芯片根据测试指令对待测sdram芯片进行自定义工作频率输入检测检测，具体为：将输入工作频率进行模拟采集转换成数字参数，把该值输送到fpga控制芯片，fpga控制锁相环pll输出对应自定义频率值，并把检测结果打印输出到显示屏进行显示。

技术总结本发明公开了一种基于FPGA的SDRAM测试方法，FPGA控制芯片接收到测试指令，对待测SDRAM芯片进行走步法写读并对比；如果写入数据与读出数据一致，继续对待测SDRAM芯片进行全0法写读并对比；如果写入数据与读出数据一致，继续对待测SDRAM芯片进行全1法写读并对比；如果写入数据与读出数据一致，继续对待测SDRAM芯片进行55AA法写读并对比；如果写入数据与读出数据一致，继续对待测SDRAM芯片进行AA55法写读并对比；如果写入数据与读出数据一致，继续对待测SDRAM芯片进行自定义写读法写读并对比；如果写入数据与读出数据一致，所述FPGA控制芯片根据测试指令对待测SDRAM芯片进行功能性测试；如果功能性测试的写入数据与读出数据依然一致，确定该SDRAM正常。技术研发人员：蔡刚,白明月,吴海平,张瑞,夏启飞,王彩云受保护的技术使用者：西安西谷微电子有限责任公司技术研发日：技术公布日：2024/1/15