裸片测试系统及其裸片测试方法与流程

本发明涉及一种裸片测试系统，尤其涉及一种可进行存取测试的裸片测试系统及其裸片测试方法。

背景技术：

1、传统上，与非门闪存(nand flash memory)的存储器控制器(memory controller)可通过用于裸片针测(chip probe test)的存储器内建式自我测试(memory build-in-self test，mbist)来进行测试，以在晶圆(wafer)阶段测出存储器控制器中存储器的缺陷(defect)。然而，一般mbist只能测试存储器的制程相关问题，而非存储器本身的存取功能问题，无法对存储器进行真实的存取测试。另一方面，现有技术通常以第三方工具在存储器控制器中设计复杂的mbist电路，设计成本较高。且测试样本(design pattern)通常在暂存器传输级阶段(register-transfer level，rtl)以硬件形式被设计，无法在测试阶段弹性调整。

技术实现思路

1、本发明提供一种存储器控制器的测试方法，用以对存储器控制器中的存储器进行真实的存取测试。

2、本发明的实施例提供一种裸片测试方法，适用于裸片测试系统，裸片测试系统包括但不限于存储器控制器与测试装置。裸片测试方法包括：接收具有测试数据的测试样本；对测试样本进行逻辑判断以产生测试旗标；依据测试旗标决定操作模式；依据操作模式读取测试数据；依据测试数据对存储器控制器中的存储器进行存取测试以产生测试结果。

3、本发明的实施例提供一种裸片测试系统。裸片测试系统包括但不限于存储器控制器与测试装置。测试装置提供具有测试数据的测试样本。存储器控制器耦接至测试装置，用以依据测试样本进行裸片测试。存储器控制器包括处理器、存储器、逻辑电路与暂存器。处理器通过暂存器从测试装置接收测试样本，且逻辑电路对测试样本进行逻辑判断以产生测试旗标。处理器依据测试旗标决定操作模式，依据操作模式从暂存器读取测试数据，并依据测试数据对存储器进行存取测试以产生测试结果。

4、基于上述，在本发明一些实施例中，通过对测试样本进行逻辑判断所产生测试旗标来决定读取测试数据的操作模式，并依据测试数据对存储器进行存取测试，可提高裸片针测的可靠性。

5、为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

技术特征：

1.一种裸片测试方法，适用于具有存储器控制器与测试装置的裸片测试系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的裸片测试方法，其特征在于，还包括：

3.根据权利要求1所述的裸片测试方法，其特征在于，还包括：

4.根据权利要求3所述的裸片测试方法，其特征在于，还包括：

5.根据权利要求4所述的裸片测试方法，其特征在于，所述操作模式包括正常模式、一字节模式与多字节模式。

6.根据权利要求5所述的裸片测试方法，其特征在于，当所述禁能码为第一逻辑电平、或所述禁能码为第二逻辑电平且所述第一旗标为第二逻辑电平时，所述操作模式为所述正常模式。

7.根据权利要求5所述的裸片测试方法，其特征在于，当所述禁能码为第二逻辑电平、所述第一旗标为第一逻辑电平且所述第二旗标保持为第二逻辑电平时，所述操作模式为所述正常模式。

8.根据权利要求5所述的裸片测试方法，其特征在于，当所述操作模式为所述正常模式时，正常存取所述存储器控制器中的所述存储器而不对所述存储器进行测试。

9.根据权利要求5所述的裸片测试方法，其特征在于，当所述第二旗标被致能且所述准备信号包括第一特定值时，所述操作模式为所述一字节模式。

10.根据权利要求5所述的裸片测试方法，其特征在于，当所述操作模式为所述一字节模式时，以一字节为单位读取所述测试数据。

11.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，当所述第二旗标被致能且所述准备信号包括第二特定值时，所述操作模式为所述多字节模式。

12.根据权利要求5所述的裸片测试方法，其特征在于，当操作模式为所述多字节模式时，以多字节为单位读取所述测试数据。

13.根据权利要求1所述的裸片测试方法，其特征在于，所述测试数据是可调整数据。

14.根据权利要求1所述的裸片测试方法，其特征在于，还包括：

15.一种裸片测试系统，其特征在于，包括：

技术总结本发明提供一种裸片测试系统及其测试方法。裸片测试方法包括：接收具有测试数据的测试样本；对测试样本进行逻辑判断以产生测试旗标；依据测试旗标决定操作模式；依据操作模式读取测试样本中的测试数据；依据测试数据对存储器控制器中的存储器进行存取测试以产生测试结果。技术研发人员：丁啓恒受保护的技术使用者：点序科技股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/15