DDR5UDIMM转SODIMM测试工装系统及方法与流程

本发明涉及内存条sodimm测试，尤其涉及一种ddr5 udimm转sodimm测试工装系统及方法。

背景技术：

1、目前生产ddr5 udimm模块采用台式电脑主板测试，生产sodimm模块使用笔记本测试，这就导致花在测试设备的成本过高，然而笔记本上sodimm插槽不方便更换sodimm模块测试，且sodimm插槽易于损坏，一旦损坏，需要进行损坏设备报废或返厂维修，在时间和成本上都存在很大浪费，从而导致测试效率较低的问题。

技术实现思路

1、本发明实施例提供了一种ddr5 udimm转sodimm测试工装系统及方法，旨在解决现有技术中sodimm模块无法在台式主板上测试而导致测试效率较低的问题。

2、为了解决上述问题，第一方面，本发明实施例提供了一种ddr5 udimm转sodimm测试工装系统，其中，包括测试设备主板、udimm连接器、ddr5udimm转sodimm测试工装、sodimm模块金手指、sodimm模块；所述udimm连接器装配于所述测试设备主板上，所述sodimm模块金手指装配于所述sodimm模块上；所述ddr5 udimm转sodimm测试工装的一端与所述udimm连接器连接，所述ddr5 udimm转sodimm测试工装的另一端与所述sodimm模块金手指连接；所述测试设备主板通过所述udimm连接器将初始信号集传输至所述ddr5 udimm转sodimm测试工装，所述ddr5udimm转sodimm测试工装将所述初始信号集进行转换和预设操作得到目标信号集且将所述目标信号集通过所述sodimm模块金手指传输至所述sodimm模块，以实现所述测试设备主板基于测试脚本对所述sodimm模块进行测试得到测试结果；其中，所述初始信号集包括初始电源信号、地址信号、时钟信号、控制信号；所述目标信号集包括目标电源信号、增益地址信号、增益时钟信号、增益控制信号。

3、第二方面，本发明实施例还提供了一种ddr5 udimm转sodimm测试工装方法应用于如第一方面所述的ddr5 udimm转sodimm测试工装系统，其中，方法包括测试设备主板将初始信号集通过udimm连接器传输至ddr5udimm转sodimm测试工装；所述ddr5 udimm转sodimm测试工装将所述初始信号集进行转换和预设操作得到目标信号集；所述ddr5 udimm转sodimm测试工装通过sodimm模块金手指将所述目标信号集传输至所述sodimm模块；所述测试设备主板获取测试脚本，并基于所述测试脚本对所述sodimm模块进行测试以得到测试结果；其中，所述初始信号集包括初始电源信号、地址信号、时钟信号、控制信号；所述目标信号集包括目标电源信号、增益地址信号、增益时钟信号、增益控制信号。

4、本发明实施例提供了一种ddr5 udimm转sodimm测试工装系统及方法，其中，包括测试设备主板、udimm连接器、ddr5 udimm转sodimm测试工装、sodimm模块金手指、sodimm模块；所述udimm连接器装配于所述测试设备主板上，所述sodimm模块金手指装配于所述sodimm模块上；所述ddr5 udimm转sodimm测试工装的一端与所述udimm连接器连接，所述ddr5 udimm转sodimm测试工装的另一端与所述sodimm模块金手指连接；所述测试设备主板通过所述udimm连接器将初始信号集传输至所述ddr5 udimm转sodimm测试工装，所述ddr5udimm转sodimm测试工装将所述初始信号集进行转换和预设操作得到目标信号集且将所述目标信号集通过所述sodimm模块金手指传输至所述sodimm模块，以实现所述测试设备主板基于测试脚本对所述sodimm模块进行测试得到测试结果。这实现了对sodimm模块进行测试的可选择性，降低了测试设备的成本和测试时间，进而提高了测试效率。

技术特征：

1.一种ddr5 udimm转sodimm测试工装系统，其特征在于，包括测试设备主板、udimm连接器、ddr5 udimm转sodimm测试工装、sodimm模块金手指、sodimm模块；所述udimm连接器装配于所述测试设备主板上，所述sodimm模块金手指装配于所述sodimm模块上；所述ddr5udimm转sodimm测试工装的一端与所述udimm连接器连接，所述ddr5 udimm转sodimm测试工装的另一端与所述sodimm模块金手指连接；

2.根据权利要求1所述系统，其特征在于，所述ddr5 udimm转sodimm测试工装包括第一连接结构、芯片模块和sodimm连接器；所述第一连接结构一端与所述udimm连接器连接，所述第一连接结构另一端与所述芯片模块连接；所述芯片模块还与所述sodimm连接器的一端连接，所述sodimm连接器另一端与所述sodimm模块金手指连接。

3.根据权利要求2所述系统，其特征在于，所述芯片模块包括电源转换芯片和retimer芯片，所述电源转换芯片与所述第一连接结构另一端连接，所述电源转换芯片还与所述retimer芯片连接，所述retimer芯片还与所述sodimm连接器的一端连接；

4.根据权利要求2所述系统，其特征在于，所述电源转换芯片包括第一电容、第二电容、第三电容、第四电容、第五电容、第六电容、第七电容、第八电容、第一电感、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、vina引脚、boot_swa引脚、swa引脚、vinb引脚、swaq_fb_p引脚、vin引脚、vinc引脚、vr_en引脚、scl引脚；

5.根据权利要求2所述系统，其特征在于，所述第一连接结构上设置有与所述udimm连接器相匹配的288pin接口，所述sodimm连接器上设置有与所述sodimm模块金手指相匹配的262pin接口。

6.一种ddr5 udimm转sodimm测试工装方法，应用于如权利要求1-5任一项所述ddr5udimm转sodimm测试工装系统，其特征在于，方法包括：

7.根据权利要求6所述方法，其特征在于，所述ddr5 udimm转sodimm测试工装将所述初始信号集进行转换和预设操作得到目标信号集，包括：

8.根据权利要求7所述方法，其特征在于，在所述ddr5 udimm转sodimm测试工装将所述初始电源信号进行转换得到所述目标电源信号的步骤之后，包括：

9.根据权利要求8所述方法，其特征在于，所述ddr5 udimm转sodimm测试工装检测所述地址信号、所述时钟信号和所述控制信号的信号余量是否充足，包括：

10.根据权利要求6所述方法，其特征在于，在所述测试设备主板将初始信号集通过udimm连接器传输至ddr5 udimm转sodimm测试工装的步骤之前，包括：

技术总结本发明公开了一种DDR5UDIMM转SODIMM测试工装系统及方法，其中，所述测试设备主板通过所述UDIMM连接器将初始信号集传输至所述DDR5UDIMM转SODIMM测试工装，所述DDR5UDIMM转SODIMM测试工装将所述初始信号集进行转换和预设操作得到目标信号集且将所述目标信号集通过所述SODIMM模块金手指传输至所述SODIMM模块，以实现所述测试设备主板基于测试脚本对所述SODIMM模块进行测试得到测试结果。这实现了对SODIMM模块进行测试的可选择性，降低了测试设备的成本和测试时间，进而提高了测试效率。技术研发人员：陈树盛,黄秋容受保护的技术使用者：南宁泰克半导体有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/15