产品质量分类方法及装置、电子设备和存储介质与流程

所属的技术人员能够理解，本发明的各个方面可以实现为系统、方法或程序产品。因此，本发明的各个方面可以具体实现为以下形式，即：完全的硬件实施例、完全的软件实施例(包括固件、微代码等)，或硬件和软件方面结合的实施例，这里可以统称为“电路”、“模块”或“系统”。下面参考图8来描述根据本公开的这种实施例的电子设备800。图8显示的电子设备800仅仅是一个示例，不应对本公开实施例的功能和使用范围带来任何限制。如图8所示，电子设备800以通用计算设备的形式表现。电子设备800的组件可以包括但不限于：上述至少一个处理单元810、上述至少一个存储单元820、连接不同系统组件(包括存储单元820和处理单元810)的总线830、显示单元840。其中，所述存储单元存储有程序代码，所述程序代码可以被所述处理单元810执行，使得所述处理单元810执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本公开各种示例性实施例的步骤。存储单元820可以包括易失性存储单元形式的可读介质，例如随机存取存储单元(ram)821和/或高速缓存存储单元822，还可以进一步包括只读存储单元(rom)823。存储单元820可以包括具有一组(至少一个)程序模块825的程序/实用工具824，这样的程序模块825包括但不限于：操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。总线830可以表示几类总线结构中的一种或多种，包括存储单元总线或者存储单元控制器、外围总线、图形加速端口、处理单元或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。电子设备800也可以与一个或多个外部设备870(例如键盘、指向设备、蓝牙设备等)通信，还可与一个或者多个使得用户能与该电子设备800交互的设备通信，和/或与使得该电子设备800能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如路由器、调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(i/o)接口850进行。并且，电子设备800还可以通过网络适配器860与一个或者多个网络(例如局域网(lan)，广域网(wan)和/或公共网络，例如因特网)通信。如图所示，网络适配器860通过总线830与电子设备800的其它模块通信。应当明白，尽管图中未示出，可以结合电子设备800使用其它硬件和/或软件模块，包括但不限于：微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、raid系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。通过以上的实施例的描述，本领域的技术人员易于理解，这里描述的示例实施例可以通过软件实现，也可以通过软件结合必要的硬件的方式来实现。因此，根据本公开实施例的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是cd-rom，u盘，移动硬盘等)中或网络上，包括若干指令以使得一台计算设备(可以是个人计算机、服务器、终端装置、或者网络设备等)执行根据本公开实施例的方法。在本公开的示例性实施例中，还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有能够实现本说明书上述方法的程序产品。在一些可能的实施例中，本发明的各个方面还可以实现为一种程序产品的形式，其包括程序代码，当所述程序产品在终端设备上运行时，所述程序代码用于使所述终端设备执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本发明各种示例性实施例的步骤。参考图9所示，描述了根据本发明的实施例的用于实现上述方法的程序产品900，其可以采用便携式紧凑盘只读存储器(cd-rom)并包括程序代码，并可以在终端设备，例如个人电脑上运行。然而，本发明的程序产品不限于此，在本文件中，可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。所述程序产品可以采用一个或多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。可读存储介质例如可以为但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(ram)、只读存储器(rom)、可擦式可编程只读存储器(eprom或闪存)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(cd-rom)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。计算机可读信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了可读程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。可读信号介质还可以是可读存储介质以外的任何可读介质，该可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于无线、有线、光缆、rf等等，或者上述的任意合适的组合。可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本发明操作的程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如java、c++等，还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“c”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。在涉及远程计算设备的情形中，远程计算设备可以通过任意种类的网络，包括局域网(lan)或广域网(wan)，连接到用户计算设备，或者，可以连接到外部计算设备(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。此外，上述附图仅是根据本发明示例性实施例的方法所包括的处理的示意性说明，而不是限制目的。易于理解，上述附图所示的处理并不表明或限制这些处理的时间顺序。另外，也易于理解，这些处理可以是例如在多个模块中同步或异步执行的。本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其他实施例。本技术旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由权利要求指出。应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限。

背景技术：

1、动态随机存储器(dynamic random access memory，dram)是一种广泛应用多计算机系统的半导体存储器。dram结构可以包括晶体管、字元线、位元线、电容、金属互连以及外缘区域等。

2、芯片的使用寿命的规律符合浴盆曲线(bathtub curve)，分为三个阶段，第一阶段是初期失效，这一阶段具有一个高的失效率，由制造、设计等原因造成。第二阶段是本征失效，这一阶段具有一个非常低的失效率，由器件的本征失效机制产生。第三个阶段是击穿失效，这一阶段具有一个高的失效率。然而，目前采用的对产品质量进行区分并预测失效比例的方案，导致产生较高的产品降级率，降低了产品良率。

3、需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

技术实现思路

1、本公开的目的在于提供一种产品质量分类方法、产品质量分类装置、电子设备以及计算机可读存储介质，进而至少在一定程度上克服基于产品批次进行产品质量分类的方案导致产生较高的降等产品，降低了产品良率的问题。

2、本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本发明的实践而习得。

3、根据本公开的第一方面，提供一种产品质量分类方法，包括：获取测试站点的目标测试流程；所述目标测试流程基于新增失效测试流程生成；获取到达所述测试站点的测试产品，采用所述新增失效测试流程对所述测试产品进行测试处理，确定所述测试产品的初始产品类别；确定各所述初始产品类别下的测试产品在所述新增失效测试流程下的产品失效数值；结合所述初始产品类别与所述产品失效数值对所述测试产品进行质量分类处理，以得到对应的质量分类等级。

4、在本公开的一种示例性实施方案中，所述新增失效测试流程包括第二产品失效测试；在所述获取测试站点的目标测试流程之前，所述方法还包括：获取所述测试站点对应的初始测试流程；所述初始测试流程包括第一数量的第一产品失效测试；将所述第一数量的第一产品失效测试更新为第二数量的第一产品失效测试与第三数量的所述第二产品失效测试的组合，以得到所述目标测试流程。

5、在本公开的一种示例性实施方案中，所述初始测试流程对应的第一测试时间与所述目标测试流程对应的第二测试时间相同。

6、在本公开的一种示例性实施方案中，所述采用所述新增失效测试流程对所述测试产品进行测试处理，确定所述测试产品的初始产品类别，包括：采用所述新增失效测试流程对所述测试产品进行测试处理，得到第一测试结果；如果所述第一测试结果为所述测试产品是未包含失效芯片的产品，则将所述初始产品类别确定为第一产品类别；如果所述第一测试结果为所述测试产品是包含失效芯片的产品，则将所述初始产品类别确定为第二产品类别。

7、在本公开的一种示例性实施方案中，所述确定各所述初始产品类别下的测试产品在所述新增失效测试流程下的产品失效数值，包括：获取所述新增失效测试流程下的失效百分比计算模型；通过所述失效百分比计算模型对各所述产品类别下的测试产品进行失效比例计算，得到产品失效数值。

8、在本公开的一种示例性实施方案中，所述失效百分比计算模型通过下述步骤构建得到：获取第二产品失效测试对应的历史测试数据；所述历史测试数据包括所述第二产品失效测试中的失效产品数量以及在所述第二产品失效测试之前的正常产品总量；获取所述目标测试流程的时间加速因子；基于所述失效产品数量、所述正常产品总量以及所述时间加速因子进行良率百分比处理，以得到所述失效百分比计算模型。

9、在本公开的一种示例性实施方案中，所述时间加速因子通过下述步骤得到：确定第二产品失效测试对应的第一失效测试时间；确定产品寿命失效测试对应的第二失效测试时间；所述第二产品失效测试等效于所述产品寿命失效测试内部的失效测试；根据所述第一失效测试时间与所述第二失效测试时间确定所述时间加速因子。

10、在本公开的一种示例性实施方案中，所述结合所述初始产品类别与所述产品失效数值对所述测试产品进行质量分类处理，以得到对应的质量分类等级，包括：如果所述初始产品类别为第一产品类别，则将所述测试产品的质量分类等级确定为第一质量等级；如果所述初始产品类别为第二产品类别，则基于所述产品失效数值确定所述测试产品中失效芯片的分布情况，根据所述失效芯片的分布情况确定所述质量分类等级。

11、在本公开的一种示例性实施方案中，所述基于所述产品失效数值确定所述测试产品中失效芯片的分布情况，包括：如果所述产品失效数值大于失效等级阈值，则确定属于同一产品批次的测试产品的失效芯片；将所述失效芯片所处的测试产品确定为失效产品，确定所述失效产品对应的失效产品数量。

12、在本公开的一种示例性实施方案中，所述失效芯片的分布情况包括失效产品数量，所述根据所述失效芯片的分布情况确定所述质量分类等级，包括：如果所述失效产品数量小于等于第一失效阈值，则将所述测试产品确定为第一质量等级；如果所述失效产品数量大于第一失效阈值且小于等于第二失效阈值，则将所述测试产品确定为第二质量等级；如果所述失效产品数量大于第二失效阈值且小于等于第三失效阈值，则将所述测试产品确定为第三质量等级；如果所述失效产品数量大于第三失效阈值，则将所述测试产品确定为第四质量等级。

13、在本公开的一种示例性实施方案中，上述方法还包括：获取预先构建的产品失效关联模型；所述通过所述产品失效关联模型建立所述测试产品的失效测试结果与所述目标测试流程之间的产品失效关联关系；根据所述产品失效关联关系得到所述测试产品的产品失效曲线图，并展示所述产品失效曲线图。

14、在本公开的一种示例性实施方案中，所述产品失效关联模型通过下述步骤确定：获取所述测试产品对应的时间变量，根据所述时间变量确定与所述测试产品对应的概率密度函数；根据所述概率密度函数确定所述测试产品对应的累计分布函数；确定所述测试产品对应的风险函数与可靠性函数；根据所述概率密度函数、所述累计分布函数、所述风险函数与所述可靠性函数构建所述产品失效关联模型。

15、根据本公开的第二方面，提供一种产品质量分类装置，包括：目标流程获取模块，用于获取测试站点的目标测试流程；所述目标测试流程基于新增失效测试流程生成；初始类别确定模块，用于获取到达所述测试站点的测试产品，采用所述新增失效测试流程对所述测试产品进行测试处理，确定所述测试产品的初始产品类别；失效数值确定模块，用于确定各所述产品类别下的测试产品在所述新增失效测试流程下的产品失效数值；质量类别确定模块，用于结合所述初始产品类别与所述产品失效数值对所述测试产品进行质量分类处理，以得到对应的质量分类等级。

16、在本公开的一种示例性实施方案中，所述产品质量分类装置还包括目标流程确定模块，用于获取所述测试站点对应的初始测试流程；所述初始测试流程包括第一数量的第一产品失效测试；将所述第一数量的第一产品失效测试更新为第二数量的第一产品失效测试与第三数量的所述第二产品失效测试的组合，以得到所述目标测试流程。

17、在本公开的一种示例性实施方案中，所述初始类别确定模块包括初始类别确定单元，用于采用所述新增失效测试流程对所述测试产品进行测试处理，得到第一测试结果；如果所述第一测试结果为所述测试产品是未包含失效芯片的产品，则将所述初始产品类别确定为第一产品类别；如果所述第一测试结果为所述测试产品是包含失效芯片的产品，则将所述初始产品类别确定为第二产品类别。

18、在本公开的一种示例性实施方案中，所述失效数值确定模块包括失效数值确定单元，用于获取所述新增失效测试流程下的失效百分比计算模型；通过所述失效百分比计算模型对各所述产品类别下的测试产品进行失效比例计算，得到产品失效数值。

19、在本公开的一种示例性实施方案中，所述失效数值确定模块包括失效模型确定单元，用于获取第二产品失效测试对应的历史测试数据；所述历史测试数据包括所述第二产品失效测试中的失效产品数量以及在所述第二产品失效测试之前的正常产品总量；获取所述目标测试流程的时间加速因子；基于所述失效产品数量、所述正常产品总量以及所述时间加速因子进行良率百分比处理，以得到所述失效百分比计算模型。

20、在本公开的一种示例性实施方案中，所述失效模型确定单元包括加速因子确定单元，用于确定第二产品失效测试对应的第一失效测试时间；确定产品寿命失效测试对应的第二失效测试时间；所述第二产品失效测试等效于所述产品寿命失效测试内部的失效测试；根据所述第一失效测试时间与所述第二失效测试时间确定所述时间加速因子。

21、在本公开的一种示例性实施方案中，所述质量类别确定模块包括质量类别确定单元，用于如果所述初始产品类别为第一产品类别，则将所述测试产品的质量分类等级确定为第一质量等级；如果所述初始产品类别为第二产品类别，则基于所述产品失效数值确定所述测试产品中失效芯片的分布情况，根据所述失效芯片的分布情况确定所述质量分类等级。

22、在本公开的一种示例性实施方案中，所述质量类别确定单元包括芯片分布确定单元，用于如果所述产品失效数值大于失效等级阈值，则确定属于同一产品批次的测试产品的失效芯片；将所述失效芯片所处的测试产品确定为失效产品，确定所述失效产品对应的失效产品数量。

23、在本公开的一种示例性实施方案中，所述失效芯片的分布情况包括失效产品数量，所述质量类别确定单元包括质量类别确定子单元，用于如果所述失效产品数量小于等于第一失效阈值，则将所述测试产品确定为第一质量等级；如果所述失效产品数量大于第一失效阈值且小于等于第二失效阈值，则将所述测试产品确定为第二质量等级；如果所述失效产品数量大于第二失效阈值且小于等于第三失效阈值，则将所述测试产品确定为第三质量等级；如果所述失效产品数量大于第三失效阈值，则将所述测试产品确定为第四质量等级。

24、在本公开的一种示例性实施方案中，所述产品质量分类装置还包括失效曲线图确定模块，用于获取预先构建的产品失效关联模型；所述通过所述产品失效关联模型建立所述测试产品的失效测试结果与所述目标测试流程之间的产品失效关联关系；根据所述产品失效关联关系得到所述测试产品的产品失效曲线图，并展示所述产品失效曲线图。

25、在本公开的一种示例性实施方案中，所述产品质量分类装置还包括失效关联模型确定模块，用于获取所述测试产品对应的时间变量，根据所述时间变量确定与所述测试产品对应的概率密度函数；根据所述概率密度函数确定所述测试产品对应的累计分布函数；确定所述测试产品对应的风险函数与可靠性函数；根据所述概率密度函数、所述累计分布函数、所述风险函数与所述可靠性函数构建所述产品失效关联模型。

26、根据本公开的第三方面，提供一种电子设备，包括：处理器；以及存储器，所述存储器上存储有计算机可读指令，所述计算机可读指令被所述处理器执行时实现根据上述任意一项所述的产品质量分类方法。

27、根据本公开的第四方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现根据上述任意一项所述的产品质量分类方法。

28、本公开提供的技术方案可以包括以下有益效果：

29、本公开的示例性实施例中的产品质量分类方法，一方面，通过引入新增产品失效测试流程对测试站点的测试流程进行优化，并采用目标测试流程对测试产品进行产品测试，为产品测试提供了一种新的测试方案。另一方面，结合初始产品类别与产品失效数值对测试产品进行质量分类处理，可以进一步细化产品的等级分类，有效减少不必要的产品降级，提高产品良率。

30、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。