用于存储器启动校准的设备、系统及方法与流程

本公开大体上涉及半导体装置，且更具体来说，涉及半导体存储器装置。特定来说，本公开涉及易失性存储器，例如动态随机存取存储器(dram)。

背景技术：

1、信息可作为物理信号(例如电容元件上的电荷)存储于存储器的个别存储器单元上。在读取操作期间，物理信号(例如电荷)可耦合到导电元件以引起电压改变。电压的改变可被放大且读出到装置的输入/输出端子。写入操作可使过程相反，在端子处接收信号且向存储器单元提供电压(例如，使电容器充电)。

2、由于电压可快速施加到端子，因此防止杂散电压在端子与外部装置介接时反射可能是很重要的。存储器可具有用于匹配阻抗的多个可选终端支路。调谐终端电阻器的电阻可能是很重要的。

技术实现思路

1、本公开的一个方面涉及一种设备，其包括：终端电路，其包含可调谐电阻器；及校准检测电路，其包含复制可调谐电阻器，其中所述校准检测电路经配置以测量所述复制可调谐电阻器的电阻且响应于所述测量电阻在公差外而提供校准请求信号。

2、本公开的另一方面涉及一种系统，其包括：存储器模块，其包含存储器，所述存储器包括：终端电路，其包含可调谐电阻器；及校准检测电路，其包含复制可调谐电阻器，其中所述校准检测电路经配置以测量所述复制可调谐电阻器的电阻且响应于所述测量电阻在公差外而提供校准请求；及控制器，其包括：校准调度逻辑电路，其经配置以响应于所述校准请求而向所述存储器提供校准命令。

3、本公开的另一方面涉及一种方法，其包括：测量复制终端电路的电阻器的复制电阻器的电阻；确定所述复制电阻器的所述电阻是否在公差外；及在所述复制电阻器的所述测量电阻在所述公差外时提供校准请求信号。

4、本公开的另一方面涉及一种方法，其包括：从存储器接收校准请求信号；响应于所述校准请求信号而调度所述存储器的校准；及基于所述调度而向所述存储器提供校准命令。

技术特征：

1.一种设备，其包括：

2.根据权利要求1所述的设备，其进一步包括参考电阻器，

3.根据权利要求1所述的设备，其中所述校准检测电路包含：

4.根据权利要求3所述的设备，其中所述校准检测电路进一步包含经配置以基于所述信号来提供滤波信号的滤波器，其中所述命令产生器电路经配置以响应于所述滤波信号而提供所述校准请求信号。

5.根据权利要求1所述的设备，其中所述终端电路包含多个电阻支路，所述多个电阻支路各自包括多个可调谐电阻器中的一者，其中所述多个电阻支路中的选定数目经激活以设置所述终端电路的总阻抗。

6.根据权利要求1所述的设备，其中所述复制可调谐电阻器及所述可调谐电阻器彼此物理接近。

7.根据权利要求1所述的设备，其进一步包括存储器阵列及数据端子，所述数据端子经配置以向所述存储器阵列发送数据及从所述存储器阵列接收数据，其中所述终端电路耦合到所述数据端子。

8.一种系统，其包括：

9.根据权利要求8所述的系统，其中所述存储器经配置以响应于所述校准命令而校准所述可调谐电阻器的电阻及所述复制可调谐电阻器的所述电阻。

10.根据权利要求8所述的系统，其中所述存储器模块包含第二存储器，所述第二存储器包括：

11.根据权利要求10所述的系统，其中所述控制器经配置以从所述第一存储器接收所述第一校准请求信号及从所述第二存储器接收所述第二校准请求信号且向所述第一存储器提供第一校准命令及向所述第二存储器提供第二校准命令。

12.根据权利要求11所述的系统，其中在第一时间提供所述第一校准命令且在与所述第一时间不同的第二时间提供所述第二校准命令。

13.根据权利要求8所述的系统，其中所述存储器模块进一步包含参考电阻器，其中响应于所述校准命令，所述可调谐电阻器的电阻与所述参考电阻器的电阻匹配。

14.一种方法，其包括：

15.根据权利要求14所述的方法，其进一步包括：

16.根据权利要求15所述的方法，其进一步包括对所述信号进行滤波及响应于所述滤波信号而提供所述校准请求信号。

17.根据权利要求14所述的方法，其进一步包括：

18.根据权利要求17所述的方法，其中校准所述电阻器包含使所述电阻器的电阻与参考电阻器的电阻匹配。

19.一种方法，其包括：

20.根据权利要求19所述的方法，其进一步包括：

21.根据权利要求19所述的方法，其进一步包括在一段时间内未接收到所述校准请求信号时提供所述校准命令。

技术总结本发明涉及用于存储器启动校准的设备、系统及方法。存储器包含具有可调谐电阻器的终端电路及具有复制可调谐电阻器的校准检测电路。所述校准检测电路测量所述复制可调谐电阻器的电阻且在所述电阻在公差外时提供校准请求信号。响应于所述校准请求信号，所述存储器的控制器调度所述存储器进行校准操作。技术研发人员：S·艾亚普利迪受保护的技术使用者：美光科技公司技术研发日：技术公布日：2024/2/25