存储器的校验方法、装置、电子设备和可读存储介质与流程

本申请属于数据处理，具体涉及一种存储器的校验方法、装置、电子设备和可读存储介质。

背景技术：

1、存储器作为存储设备，其功耗要求比较严格。

2、如图1所示，存储器包括耦合到多个字线101’和多个位线102’的多个存储单元103’组成，多个存储单元103’构成存储器阵列。

3、其中，每一行存储单元103’的控制极都连接到同一个字线101’，每一列存储单元103’的漏极都连接到同一个位线102’。

4、在进行写入操作时，每次选取一个字线，并在该字线上施加电压是20伏特的电压脉冲，此时，存储单元的衬底接地，源极接地，漏极施加一电压，源极和漏极导通，每次电压脉冲都会从衬底吸引电子进入浮栅，此时对浮栅的电压进行校验。

5、相关技术方案中，每对选取的字线施加一次电压脉冲，需要对耦合在该字线上的所有存储单元进行校验，使得存储器的功耗比较高。

技术实现思路

1、本申请实施例的目的是提供一种存储器的校验方法、装置、电子设备和可读存储介质，能够对存储器中的存储单元进行分类，在对施加电压脉冲的字线上的存储单元进行校验时，逐一对每一个分类类别的存储单元进行校验，在对每一分类类别的存储单元进行校验时，对其他分类类别的存储单元不进行校验，以此减少校验的次数，从而降低了存储器的功耗。

2、第一方面，本申请实施例提供了一种存储器的校验方法，包括：在向第一字线执行写入操作的情况下，确定与第一字线耦合的m个存储单元，m个存储单元对应n个分类类别，存储器包括耦合到多个字线的多个存储单元，第一字线是多个字线中的一个字线，n≤m，且m、n是大于或等于2的正整数；对第一分类类别所对应的存储单元进行校验；在第一分类类别所对应的存储单元校验成功的情况下，对第二分类类别所对应的存储单元进行校验，直至n个分类类别所对应的存储单元校验成功；其中，第一分类类别和第二分类类别是n个分类类别中的两个分类类别。

3、第二方面，本申请实施例提供了一种存储器的校验装置，包括：确定模块，用于在向第一字线执行写入操作的情况下，确定与第一字线耦合的m个存储单元，m个存储单元对应n个分类类别，存储器包括耦合到多个字线的多个存储单元，第一字线是多个字线中的一个字线，n≤m，且m、n是大于或等于2的正整数；校验模块，用于对第一分类类别所对应的存储单元进行校验；校验模块，还用于在第一分类类别所对应的存储单元校验成功的情况下，对第二分类类别所对应的存储单元进行校验，直至n个分类类别所对应的存储单元校验成功；其中，第一分类类别和第二分类类别是n个分类类别中的两个分类类别。

4、第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，该电子设备包括处理器和存储器，存储器存储可在处理器上运行的程序或指令，程序或指令被处理器执行时实现如第一方面的方法的步骤。

5、第四方面，本申请实施例提供了一种可读存储介质，可读存储介质上存储程序或指令，程序或指令被处理器执行时实现如第一方面的方法的步骤。

6、第五方面，本申请实施例提供了一种芯片，芯片包括处理器和通信接口，通信接口和处理器耦合，处理器用于运行程序或指令，实现如第一方面的方法。

7、第六方面，本申请实施例提供一种计算机程序产品，该程序产品被存储在存储介质中，该程序产品被至少一个处理器执行以实现如第一方面的方法。

8、本申请实施例中，在向第一字线执行写入操作的情况下，查找到耦合到第一字线上的m个存储单元，其中，m个存储单元对应n个分类类别，在对耦合到第一字线上的m个存储单元进行校验的情况下，逐一对每一个分类类别的存储单元进行校验，在对每一分类类别的存储单元进行校验时，对其他分类类别的存储单元不进行校验，以此减少校验的次数，从而降低了存储器的功耗。

技术特征：

1.一种存储器的校验方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储器的校验方法，其特征在于，所述存储器还包括耦合到多个所述存储单元的多个位线，所述第一分类类别所对应的所述存储单元为第一存储单元，所述对第一分类类别所对应的所述存储单元进行校验，具体包括：

3.根据权利要求2所述的存储器的校验方法，其特征在于，所述对第一分类类别所对应的所述存储单元进行校验，还包括：

4.根据权利要求1至3中任一项所述的存储器的校验方法，其特征在于，所述校验方法还包括：

5.根据权利要求4所述的存储器的校验方法，其特征在于，所述标记信息包括用于描述每一所述存储单元的标记位信息，所述标记位信息与所述存储单元的初始电压状态对应；

6.一种存储器的校验装置，其特征在于，包括：

7.根据权利要求6所述的存储器的校验装置，其特征在于，所述存储器还包括耦合到多个所述存储单元的多个位线，所述第一分类类别所对应的所述存储单元为第一存储单元，所述校验模块，具体用于：

8.根据权利要求7所述的存储器的校验装置，其特征在于，所述校验模块，还用于：

9.根据权利要求6至8中任一项所述的存储器的校验装置，其特征在于，所述确定模块，还用于：

10.根据权利要求9所述的存储器的校验装置，其特征在于，所述标记信息包括用于描述每一所述存储单元的标记位信息，所述标记位信息与所述存储单元的初始电压状态对应；

11.一种电子设备，其特征在于，包括处理器和存储器，所述存储器存储可在所述处理器上运行的程序或指令，所述程序或指令被所述处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的方法的步骤。

12.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的方法的步骤。

技术总结本申请公开了一种存储器的校验方法、装置、电子设备和可读存储介质，属于数据处理技术领域。存储器的校验方法，包括：在向第一字线执行写入操作的情况下，确定与第一字线耦合的M个存储单元，M个存储单元对应N个分类类别，存储器包括耦合到多个字线的多个存储单元，第一字线是多个字线中的一个字线，N≤M，且M、N是大于或等于2的正整数；对第一分类类别所对应的存储单元进行校验；在第一分类类别所对应的存储单元校验成功的情况下，对第二分类类别所对应的存储单元进行校验，直至N个分类类别所对应的存储单元校验成功；其中，第一分类类别和第二分类类别是N个分类类别中的两个分类类别。技术研发人员：蔡光骏,何崇来受保护的技术使用者：维沃移动通信有限公司技术研发日：技术公布日：2024/4/17