存储器修复装置的制作方法

本说明书涉及用于使用串行接口方法检测存储器中的故障单元、以及用冗余单元替换故障单元的存储器修复装置。

背景技术：

1、近来，由于设计和工艺技术的发展，以及对系统的高性能、高功能和小型化的要求，单个芯片上的电路集成的程度正在迅速增长。因此，可能需要在有限的面积内集成更多的器件，以及特别是为了进一步改善芯片的功能，诸如芯片上系统(soc)的集成电路被设计成配备有多个存储器。

2、集成电路的产量改善可能根据存储器被修复的有效程度而变化。一种修复存储器的方法检测故障单元，以及用冗余单元替换故障单元，使得存储器和包括该存储器的集成电路正常操作。当存储器被修复之后，可以持续使用具有故障单元的存储器以及配备有该存储器的集成电路，而不将其作为有缺陷的产品丢弃。

3、这样，检测故障单元和用冗余单元替换故障单元以确保存储器的正常操作可以在改善集成电路的产量和质量以及设计和制造具有存储器的集成电路方面是重要因素。

技术实现思路

1、提供本技术实现要素：来以简化形式介绍一系列构思，这些构思将在下面的具体实施方式中进一步描述。本发明内容不旨在标识所要求保护的主题的关键特征或必要特征，也不旨在用于帮助确定所要求保护的主题的范围。

2、在一般方面，存储器修复装置包括：修复信息控制块和具有至少一个存储器的存储器块。修复信息控制块控制要针对每个存储器块执行的内置自测试(bist)，并且如果作为bist的结果确认了故障单元，则修复信息控制块接收与故障单元有关的修复信息并将与故障单元有关的修复信息存储在修复信息存储块中。存储器块在存储器操作的时候通过根据由修复信息控制块加载的修复信息用冗余单元替换故障单元来执行存储器修复。

3、修复信息控制块与存储器块之间的数据可以通过接口转换电路以串行接口方法被传送和接收。

4、修复信息控制块可以包括：用于生成用于存储器块的bist的故障单元检测命令的bist控制电路；用于将故障单元检测命令转换为串行数据的第一接口转换电路；以及用于将从存储器块传送的修复信息对准使得修复信息被存储在修复信息存储块的预定位置中的修复信息对准电路。

5、存储器块可以包括：用于当串行数据被转换为故障单元检测命令时生成bist开始标志的第二接口转换电路；用于根据故障单元检测命令测试存储器中是否存在故障单元的bist电路；以及用于如果作为测试的结果存在故障单元则检测故障单元并将与故障单元有关的修复信息传送至修复信息控制块的内置冗余分析(built-in redundancy analysis，bira)电路。

6、修复信息可以包括故障单元的地址信息和指示故障单元所位于的存储器块的索引信息。

7、bist电路可以包括：用于生成适合于存储器的尺寸的模式信息并将数据和地址存储在存储器中的模式生成电路；以及用于基于由存储器提供的数据的模式信息确认是否存在故障单元的模式确认电路。

8、如果bist开始标志从第二接口转换电路被接收到，则模式生成电路可以生成模式信息。

9、bira电路可以包括：用于检测故障单元地址的故障单元地址检测电路；以及用于当修复过程由修复信息控制块执行时接收用户地址并将故障单元地址重新映射至要传送至存储器的冗余单元地址的故障单元地址转换电路。

10、修复信息存储块可以被定位于存储器块内部或存储器块外部。

11、接口转换电路可以包括用于在修复信息控制块与存储器块之间传送串行数据的第一接口转换电路和第二接口转换电路。第一接口转换电路可以按照由时钟生成单元生成的时钟信号来传送串行数据。第二接口转换电路可以按照由第一接口转换电路的时钟生成单元提供的时钟信号来传送串行数据。

12、在另一个一般方面，存储器修复装置包括：修复信息控制块；以及通过串行接口连接至修复信息控制块的存储器块。修复信息控制块加载先前存储的修复信息以将加载的修复信息传送至对应的存储器块。存储器块基于修复信息将故障单元地址重新映射至冗余单元地址以修复存储器。

13、修复信息控制块可以访问仅需要修复的存储器块，使得存储器修复被执行。

14、如果由修复信息控制块加载的修复信息在存储器的操作时间处被传送，则存储器块可以执行修复过程。

15、修复信息控制块可以从修复信息存储块加载先前存储的修复信息。

16、修复信息存储块可以被定位于存储器块内部或存储器块外部。

17、在另一个一般方面，存储器修复装置包括：存储器块；以及用于基于存储器单元的相同尺寸关于存储器块执行分组的存储器控制单元。存储器块包括：具有相同尺寸的存储器单元的存储器装置；用于检测存储器装置的故障单元的单个bist电路；设置在存储器装置中的每个存储器装置中的bira电路；以及用于与存储器控制单元串行通信的串行接口电路。

18、存储器控制单元可以对存储器块中的每个存储器块中设置的各种尺寸的存储器装置同时执行内置自测试(bist)，以及修复具有故障单元的存储器装置。

19、存储器控制单元可以生成与存储器单元的尺寸对应的地址和模式信息。

20、存储器控制单元在具有相对大尺寸的存储器单元的存储器块的bist功能被执行的时段期间，可以关断具有相对小尺寸的存储器单元的存储器块的bist功能，使得时钟信号不被生成。

技术特征：

1.一种存储器修复装置，包括：

2.根据权利要求1所述的存储器修复装置，

3.根据权利要求1所述的存储器修复装置，其中，所述修复信息控制块包括：

4.根据权利要求1所述的存储器修复装置，其中，所述至少一个存储器块中的每一个包括：

5.根据权利要求1所述的存储器修复装置，其中，所述修复信息包括所述故障单元的地址信息和指示所述故障单元所位于的所述存储器块的索引信息。

6.根据权利要求4所述的存储器修复装置，其中，所述bist电路包括：

7.根据权利要求6所述的存储器修复装置，其中，如果所述bist开始标志从所述第二接口转换电路被接收到，则所述模式生成电路被配置成生成所述模式信息。

8.根据权利要求4所述的存储器修复装置，其中，所述bira电路包括：

9.根据权利要求1所述的存储器修复装置，其中，所述修复信息存储块被定位于所述存储器块内部或所述存储器块外部。

10.根据权利要求2所述的存储器修复装置，其中，所述接口转换电路包括被配置成在所述修复信息控制块与所述存储器块之间传送串行数据的第一接口转换电路和第二接口转换电路，

11.一种存储器修复装置，包括：

12.根据权利要求11所述的存储器修复装置，

13.根据权利要求11所述的存储器修复装置，

14.根据权利要求11所述的存储器修复装置，其中，所述修复信息控制块从修复信息存储块加载所述修复信息。

15.根据权利要求14所述的存储器修复装置，其中，所述修复信息存储块被定位于所述存储器块内部或所述存储器块外部。

16.一种存储器修复装置，包括：

17.根据权利要求16所述的存储器修复装置，其中，所述存储器控制单元被配置成：

18.根据权利要求16所述的存储器修复装置，

19.根据权利要求16所述的存储器修复装置，其中，所述存储器控制单元被配置成：在具有第一尺寸的存储器单元的存储器块的bist功能被执行的时段期间，关断具有第二尺寸的存储器单元的存储器块的bist功能，使得时钟信号不被生成，其中，所述第一尺寸大于所述第二尺寸。

技术总结提供了用于使用串行接口方法来检测存储器中的故障单元并用冗余单元替换故障单元的存储器修复装置。该存储器修复装置包括修复信息控制块和至少一个存储器块，所述存储器块包括至少一个存储器。修复信息控制块被配置成针对每个存储器块执行内置自测试(BIST)，并且当故障单元根据BIST被检测到时，接收并存储关于故障单元信息的修复信息。存储器块在存储器操作的时候根据由修复信息控制块加载的修复信息用冗余单元替换故障单元。使用串行接口在修复信息控制块与存储器块之间传送和接收数据。技术研发人员：郭埈秀,李龙燮受保护的技术使用者：美格纳半导体有限公司技术研发日：技术公布日：2024/4/24