一种三维闪存老化测试方法及系统与流程

本发明提出了一种三维闪存老化测试方法及系统，涉及三维闪存老化测试，具体涉及双排双面金手指的三维闪存老化测试。

背景技术：

1、三维闪存(3d-nand flash)因其超大容量，在电性能测试尤其是老化测试时，通常需要非常长的测试时间，业界普遍的解决方案为尽量提高老化测试的同测密度，利用高密度多通道老化测试方式去分摊每个芯片的测试成本。而市场上普遍应用的老化测试板因设备炉内宽度局限，无法做到超过300个金手指触点。传统的老化测试方法通常采用单通道测试，即每次仅对一个通道进行测试。然而，这种方法存在测试效率低下、测试资源利用率低等问题。为了提高测试效率，多通道老化测试技术应运而生。多通道老化测试能够同时对多个通道进行测试，从而显著提高测试速度。然而，多通道老化测试也带来了新的挑战。由于测试数据量的大幅增加，如何有效处理和分析这些数据成为了一个亟待解决的问题。同时，不同的通道可能存在不同的老化情况，因此需要针对每个通道进行精细化的测试和优化。在现有的技术中，虽然有一些方法可以对测试数据进行处理和分析，但往往缺乏对异常数据的精准识别和针对性优化。此外，测试资源的分配也往往基于经验或固定规则，缺乏灵活性和精确性。

技术实现思路

1、本发明提供了一种三维闪存老化测试方法及系统，用以解决的市场上普遍应用的老化测试板因设备炉内宽度局限，无法做到超过300个金手指触点，由于测试数据量的大幅增加，如何有效处理和分析测试数据成为了一个亟待解决的问题，同时，不同的通道可能存在不同的老化情况，因此需要针对每个通道进行精细化的测试和优化，在现有的技术中，虽然有一些方法可以对测试数据进行处理和分析，但往往缺乏对异常数据的精准识别和针对性优化，此外，测试资源的分配也往往基于经验或固定规则，缺乏灵活性和精确性等问题：

2、本发明提出的一种三维闪存老化测试方法及系统，所述方法包括：

3、a、进行双排双面金手指测试连接，获取老化测试任务，所述双排双面金手指根据所述老化测试任务对三维闪存进行多通道老化测试；

4、b、获取第一测试数据，根据所述第一测试数据获取异常数据种类的数据偏离值，根据异常数据种类进行老化测试任务的拆分，获得测试子任务，根据所述测试子任务进行重测试，获得重测试数据；

5、c、根据数据偏离值对测试子任务进行测试资源的分配，获取第二测试数据，计算测试优化率，进而计算测试错误值，对测试老化程度进行评估，获得而评估结果。

6、进一步地，所述a包括：

7、对pcd中的金手指进行双排触点错位设置，将整体pcb插入连接器中，将每一排金手指均与其对应的触头进行接触，进而获得电气连接，将电气信号引脚与机械位置进行匹配，获得双排双面金手指测试连接；

8、获取预设老化测试任务，根据所述老化测试任务对所述三维闪存进行多通道老化测试。

9、进一步地，所述b包括：

10、获取多通道老化测试中的测试数据，获得第一测试数据，对所述第一测试数据进行预处理，按照数据种类对所述第一测试数据进行分类，获得多个种类数据，将所述多个种类数据分别与对应阈值进行比较，根据比较结果获取异常数据种类，将种类数据与对应异常数据进行差值计算，获得数据偏离值，将所述数据偏离值进行排序，获得种类数据的异常排序；

11、根据所述异常数据种类获得对应测试子任务，根据所述测试子任务在所述多通道老化测试中调取对应通道或最接近通道，对所述异常数据进行针对性重测试，获得重测试数据。

12、进一步地，所述c包括：

13、获取测试资源，根据数据偏离值结合异常排序对测试子任务进行测试资源从多到少的分配，获得资源分配信息；

14、当测试资源分配完成之后，再次获取测试过程中的测试数据，获得第二测试数据，根据第一测试数据、重测试数据结合所述第二测试数据计算测试优化率，获得测试优化结果。

15、进一步地，所述计算测试错误值，对测试老化程度进行评估，获得而评估结果，包括：

16、根据所述测试优化率、第二测试数据和第一测试数据计算测试错误值，对测试错误值对测试情况进行分析，获得分析结果；获取测试错误值在总测试值中的占比，获得错误占比结果。

17、根据所述分析结果对测试老化程度进行评估，获得评估结果。

18、进一步地，所述系统包括：

19、老化测试连接模块，用于进行双排双面金手指测试连接，获取老化测试任务，所述双排双面金手指根据所述老化测试任务对三维闪存进行多通道老化测试；

20、拆分重测模块，用于获取第一测试数据，根据所述第一测试数据获取异常数据种类的数据偏离值，根据异常数据种类进行老化测试任务的拆分，获得测试子任务，根据所述测试子任务进行重测试，获得重测试数据；

21、资源分配与评估模块，用于根据数据偏离值对测试子任务进行测试资源的分配，获取第二测试数据，计算测试优化率，进而计算测试错误值，对测试老化程度进行评估，获得而评估结果。

22、进一步地，所述老化测试连接模块包括：

23、连接测试模块，用于对pcd中的金手指进行双排触点错位设置，将整体pcb插入连接器中，将每一排金手指均与其对应的触头进行接触，进而获得电气连接，将电气信号引脚与机械位置进行匹配，获得双排双面金手指测试连接；

24、任务获取模块，用于获取预设老化测试任务，根据所述老化测试任务对所述三维闪存进行多通道老化测试。

25、进一步地，所述拆分重测模块包括：

26、异常数据获取模块，用于获取多通道老化测试中的测试数据，获得第一测试数据，对所述第一测试数据进行预处理，按照数据种类对所述第一测试数据进行分类，获得多个种类数据，将所述多个种类数据分别与对应阈值进行比较，根据比较结果获取异常数据种类，将种类数据与对应异常数据进行差值计算，获得数据偏离值，将所述数据偏离值进行排序，获得种类数据的异常排序；

27、子任务提取模块，用于根据所述异常数据种类获得对应测试子任务，根据所述测试子任务在所述多通道老化测试中调取对应通道或最接近通道，对所述异常数据进行针对性重测试，获得重测试数据。

28、进一步地，所述资源分配与评估模块包括：

29、资源分配模块，用于获取测试资源，根据数据偏离值结合异常排序对测试子任务进行测试资源从多到少的分配，获得资源分配信息；

30、优化计算模块，用于当测试资源分配完成之后，再次获取测试过程中的测试数据，获得第二测试数据，根据第一测试数据、重测试数据结合所述第二测试数据计算测试优化率，获得测试优化结果。

31、进一步地，所述优化计算模块还包括：

32、错误分析模块，用于根据所述测试优化率、第二测试数据和第一测试数据计算测试错误值，对测试错误值对测试情况进行分析，获得分析结果；获取测试错误值在总测试值中的占比，获得错误占比结果。

33、老化评估模块，用于根据所述分析结果对测试老化程度进行评估，获得评估结果。

34、本发明有益效果：

35、本发明提出了一种三维闪存老化测试方法及系统，本发明设计了老化测试板的金手指特殊布局方式，利用有限的pcb宽度内相同插拔行程中的触点交错布局方式，实现了电气触点间距不变的情况下倍增了触点数量，同时不减少单个触点的负载电流。本发明的特殊设计，适用于三维闪存(3d-nand flash)的大容量高密度多通道老化测试。

36、本发明的这种“双排双面金手指”布局设计，彻底改变了通用老化测试板的单排金手指设计，在相同的pcb接插件宽度内，实现了电气通道数量倍增的同时还能不降低单个触点的载流量。近乎倍增的测试信号通道与电源通道得以被引入炉体内部进行三维闪存的高并行度老化测试，从而大幅度提高了量产老化测试的同测数量，大幅提高了用户的测试效率，大幅节约用户测试成本。同时，本发明定义的电气信号引脚与机械位置匹配，是对pcb布线的优化与测试设备资源匹配进行了数轮改进后的最优配置。本发明已经投入本司实际生产的产品应用，其电气特性经高低温产品实测符合生产工艺参数，符合长期测试稳定性要求。实测数测据结果表明，本发明的双排双面金手指设计，强化了产品测试的电源供给稳定性，对产品测试良率的提升也有显著帮助。本发明倍增了测试数字通道，为高端老化测试设备提升了测试效率约1.6倍，可以真正为量产产线的老化测试环节实现将本增效。通过双排双面金手指的设置和连接测试，在整体老化板宽度不变的情况下，将测试接口触点数量倍增最大可达到600通道，这对于进行多通道老化测试至关重要，能够显著提升测试效率，也增加了金手指的稳定性和可靠性，降低了测试过程中的连接故障率。多通道老化测试能够同时对三维闪存的多个通道进行老化测试，提高了测试的并行性和效率。这种方法能够更全面地检测三维闪存的老化情况，确保每个通道都能得到充分的测试。根据第一测试数据获取异常数据种类的数据偏离值，能够准确识别出老化测试中的异常情况，为后续的测试优化提供了依据。根据异常数据种类进行老化测试任务的拆分，将复杂的测试任务分解成多个简单的测试子任务，降低了测试的复杂性和难度。同时大大减少了不必要的测试任务，节约了测试时间。通过重测试，可以对测试子任务进行更加精细的测试和验证，提高了测试的准确性和可靠性。根据数据偏离值对测试子任务进行测试资源的分配，能够确保测试资源得到合理分配，避免了资源浪费和瓶颈问题。计算测试优化率可以量化评估测试流程改进的效果，为后续的测试优化提供了数据支持。计算测试错误值可以准确评估测试过程中出现的错误情况，有助于定位问题并进行改进。通过对测试老化程度进行评估，能够全面了解三维闪存的老化情况，为产品的质量控制和寿命预测提供了重要依据。评估结果可以用于指导后续的测试优化和产品改进，提升产品的可靠性和稳定性。