一种测试设备的制作方法

本申请涉及存储芯片测试领域，尤其涉及一种测试设备。

背景技术：

1、近来，随着ddr sdram(双数据率同步动态随机存储器)的不断优化，其在存储器工业界获得了广泛的支持；再者，由于ddr sdram能够在时脉信号的上升沿及下降沿持续传送数据，使其单位时间内的数据传送量加倍，而它只需要2.5v的供应电压，其存储器芯片内部具有较低的电容而使电力消耗明显减少等等优于pc133 sdram的特点，使得以ddr sdram作为个人计算机、笔记型计算机的内存模块的时代迅速地来到。

2、ddr芯片在封测过程中，需要对芯片进行100％的上电功能测试来保证芯片的品质，芯片在封装过程中由于各种原因会导致部分不良芯片的产生，如无id、开卡失败、降容等问题；而无id的部分会有一些大电流的不良问题，直接上电测试时会出现电流过大损坏测试治具。

技术实现思路

1、本申请的目的是提供一种测试设备，测试完成的良品再进行开短路测试，避免因短路大电流造成烧坏测试治具的问题。

2、本申请公开了一种测试设备，所述测试设备包括用于测试存储芯片的测试装置和测试表，所述测试装置包括测试板和测试座，所述测试座与所述测试板电连接，所述测试座用于放置待测试的存储芯片；所述测试板包括工作电压输入引脚和接地引脚；所述测试表包括第一测试端口和第二测试端口，所述工作电压输入引脚与所述第一测试端口通过导线连接，所述接地引脚与所述第二测试端口通过导线连接；所述测试表通过所述工作电压输入引脚和接地引脚对所述存储芯片进行开短路测试，并输出测试阻值。

3、可选的，所述测试表为万用表，所述测试表包括旋钮、档位模块和阻值显示模块，所述档位模块包括欧姆档位，通过旋转旋钮将当前档位切换至欧姆档位以对所述工作电压输入引脚和接地引脚进行测试，所述阻值显示模块用于显示所述。

4、可选的，所述测试表包括红色指示灯、绿色指示灯和判断模块，所述判断模块分别与所述红色指示灯和绿色指示灯连接，所述判断模块内设有预设值，所述判断模块用于判断测试阻值是否等于预设值，以根据判断结果控制所述绿色指示灯与所述红色指示灯的打开与关闭。

5、可选的，所述预设值的取值范围为4.3-4.6kω。

6、可选的，所述工作电压输入引脚为vdd引脚，所述接地引脚为vss引脚，所述工作电压输入引脚和所述接地引脚设置在所述测试板的同一侧，且相互间隔设置。

7、可选的，所述第一测试端口为gnd插口，所述第二测试端口为com插口。

8、可选的，所述测试板为印刷电路板。

9、可选的，所述测试板包括金手指，所述测试座固定在所述金手指上，通过所述金手指与所述测试板实现电连接。

10、可选的，所述测试座内部设有多个测试探针，多个所述测试探针相互间隔且等距设置，所述存储芯片通过所述测试探针与测试座实现电连接。

11、可选的，所述存储芯片为ddr芯片。

12、相对于现有的测试多个引脚的电压的测试装置来说，本申请发现存储芯片的工作电压输入引脚和接地引脚的短路比例高，针对该引脚的位置，设置测试板和测试座，通过对工作电压输入引脚和接地引脚进行开短路测试，筛选工作电压输入引脚和接地引脚，实现低成本和高效率，测试完成的良品在进行上电后的功能测试，避免因短路大电流造成烧坏测试治具的问题，提高存储芯片的测试效率。

技术特征：

1.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备包括用于测试存储芯片的测试装置和测试表，所述测试装置包括测试板和测试座，所述测试座与所述测试板电连接，所述测试座用于放置待测试的存储芯片；所述测试板包括工作电压输入引脚和接地引脚；

2.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述测试表为万用表，所述测试表包括旋钮、档位模块和阻值显示模块，所述档位模块包括欧姆档位，通过旋转旋钮将当前档位切换至欧姆档位以对所述工作电压输入引脚和接地引脚进行测试，所述阻值显示模块用于显示所述测试阻值。

3.如权利要求2所述的测试设备，其特征在于，所述测试表包括红色指示灯、绿色指示灯和判断模块，所述判断模块分别与所述红色指示灯和绿色指示灯连接，所述判断模块内设有预设值，所述判断模块用于判断测试阻值是否等于预设值，以根据判断结果控制所述绿色指示灯与所述红色指示灯的打开与关闭。

4.如权利要求3所述的测试设备，其特征在于，所述预设值的取值范围为4.3-4.6kω。

5.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述工作电压输入引脚为vdd引脚，所述接地引脚为vss引脚，所述工作电压输入引脚和所述接地引脚设置在所述测试板的同一侧，且相互间隔设置。

6.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述第一测试端口为gnd插口，所述第二测试端口为com插口。

7.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述测试板为印刷电路板。

8.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述测试板包括金手指，所述测试座固定在所述金手指上，通过所述金手指与所述测试板实现电连接。

9.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述测试座内部设有多个测试探针，多个所述测试探针相互间隔且等距设置，所述存储芯片通过所述测试探针与测试座实现电连接。

10.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述存储芯片为ddr芯片。

技术总结本申请公开了一种测试设备，所述测试设备包括用于测试存储芯片的测试装置和测试表，所述测试装置包括测试板和测试座，所述测试座与所述测试板电连接，所述测试座用于放置待测试的存储芯片；所述测试板包括工作电压输入引脚和接地引脚；所述测试表包括第一测试端口和第二测试端口，所述工作电压输入引脚与所述第一测试端口通过导线连接，所述接地引脚与所述第二测试端口通过导线连接；所述测试表通过所述工作电压输入引脚和接地引脚对所述存储芯片进行开短路测试，并输出测试阻值。本申请设计一款新的测试装置，结合测试表，针对存储芯片的VDD电压进行开短路测试，避免上电测试时电流过大烧毁测试装置。技术研发人员：余辉,刘创琪受保护的技术使用者：深圳市时创意电子股份有限公司技术研发日：20231115技术公布日：2024/6/23