存储芯片的CP测试系统、方法、装置和计算机设备与流程

本发明涉及存储芯片的，特别涉及一种存储芯片的cp测试系统、方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术：

1、存储类芯片，特别是mram，在全球芯片市场中占有重要地位，因其高速、低功耗和稳定性而备受重视。这类芯片对读写稳定性的要求极高，任何读写错误或失效都可能导致整个系统崩溃，因此出厂前需要进行大量的trim测试以确保其工作在最佳状态。

2、然而，在mram的测试领域主要有两种测试方法：

3、1、由专业测试单位使用大型测试机台对芯片晶圆进行批量测试，但这种方法对设备和技术的要求较高，不适宜于研发单位的实验室内进行，也不便于单个芯片的测试；

4、2、测试人员使用单片机等微型控制器进行测试，但这种方法测试环境复杂，不仅难以搭建和安装，而且测试流程繁琐，同时也导致了较长的测试时间。

5、针对现有mram的测试方法要么设备要求高且成本贵，不适合小规模操作，要么操作繁琐复杂且耗时，影响测试效率的技术问题，目前尚未找到解决方案。

技术实现思路

1、本发明的主要目的为提供一种存储芯片的cp测试系统方法、装置、计算机设备和存储介质。通过结合硬件和软件的优势，有效地解决了传统mram测试方法的缺点，提供了一种既经济又高效的测试解决方案。

2、为实现上述目的，本发明提供了存储芯片的cp测试系统，包括：上位机系统，配置有pc主机、测试文件和测试软件，所述测试文件用于存储待测芯片的cp测试指令，所述测试软件用于加载并解析所述测试文件，将所述测试文件中的cp测试指令转换为读写命令，并控制所述待测芯片执行所述读写命令，以及检测所述待测芯片执行所述读写指令的执行情况；调试器，所述调试器一端与所述上位机系统通信连接，一端与待测芯片通信连接，用于将所述上位机系统的通信信息进行转jtag处理。

3、进一步的，所述测试软件配置有图形用户界面。

4、进一步的，所述测试软件采用visio studio mfc编程实现。

5、进一步的，所述调试器为usb转jtag调试器，所述上位机系统与所述usb转jtag调试器之间通过usb协议进行通信，所述usb转jtag调试器与所述待测芯片之间通过jtag协议进行通信。

6、进一步的，所述调试器在连接到所述上位机系统时被自动识别配置。

7、本发明提出的一种存储芯片的cp测试方法，包括：通过测试软件加载并解析预设路径下的测试文件，将所述测试文件中的cp测试指令转换为多个读写命令；控制所述待测芯片执行所述读写命令，并判断所述待测芯片执行所述读写指令是否有误；在所述待测芯片执行所述读写指令无误的情况下，判断是否存在未执行的读写指令；在存在未执行的读写指令的情况下，对所述未执行的读写指令进行“控制所述待测芯片执行所述读写命令”步骤；以及，在所有读写指令均已执行的情况下，结束流程。

8、进一步的，所述方法还包括：在所述待测芯片执行所述读写指令有误的情况下，中止流程；修改所述预设路径下的测试文件，并继续进行“通过测试软件加载并解析预设路径下的测试文件，将所述测试文件中的cp测试指令转换为多个读写命令”步骤。

9、本发明提出的一种存储芯片的cp测试装置，包括：加载模块，用于通过测试软件加载并解析预设路径下的测试文件，将所述测试文件中的cp测试指令转换为多个读写命令；读写模块，用于控制所述待测芯片执行所述读写命令，并判断所述待测芯片执行所述读写指令是否有误；判断模块，用于在所述待测芯片执行所述读写指令无误的情况下，判断是否存在未执行的读写指令；执行模块，用于在存在未执行的读写指令的情况下，对所述未执行的读写指令进行“控制所述待测芯片执行所述读写命令”步骤；以及，结束模块，用于在所有读写指令均已执行的情况下，结束流程。

10、本发明还提供一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一项所述方法的步骤。

11、本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一项所述的方法的步骤。

12、本发明提供的存储芯片的cp测试系统主要由两部分组成：一是上位机系统，包括pc主机、测试文件和测试软件。测试文件中包含了针对待测芯片的cp测试指令，而测试软件负责加载这些测试文件并将其中的指令解析成读写命令。然后，软件控制待测芯片按照这些命令执行读写操作，并监测其执行情况。二是调试器，它在一端与上位机系统相连，在另一端与待测芯片相连。调试器的作用是将上位机系统发送的通信信息转换为jtag协议，以便芯片能够理解和响应。通过这样的配置，该系统实现了如下技术效果：

13、1、降低设备要求和成本：通过使用标准的pc主机和基于软件的测试方法，该系统避免了对昂贵专业测试设备的依赖。这不仅降低了测试成本，还使得系统更加适用于小规模操作和研发单位的实验室环境。

14、2、简化操作流程：测试文件中的cp测试指令通过测试软件自动加载和解析，无需手动设置复杂的测试参数，大大简化了测试过程。这使得测试操作更加直观易懂，降低了对操作人员技术水平的要求。

15、3、提高测试效率：测试软件能够自动将测试指令转换为读写命令，并控制待测芯片的执行，这加快了整个测试流程，提高了测试效率。同时，自动化的过程减少了人为错误的可能性，增强了测试的准确性。

16、4、灵活性和可扩展性：通过使用可编程的测试文件和软件，该系统提供了高度的灵活性和可扩展性。测试流程和参数可以根据不同芯片的特性轻松调整，使系统能够适应各种不同的测试需求。

17、5、jtag通信的有效实现：调试器将上位机的通信信息转换为jtag协议，确保了与待测芯片的高效通信。这种方法提供了一种稳定且高效的方式来对芯片进行读写测试。

18、综上所述，本申请提供的存储芯片的cp测试系统通过结合硬件和软件的优势，有效地解决了传统mram测试方法的缺点，提供了一种既经济又高效的测试解决方案。

技术特征：

1.一种存储芯片的cp测试系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储芯片的cp测试系统，其特征在于，所述测试软件配置有图形用户界面。

3.根据权利要求1所述的存储芯片的cp测试系统，其特征在于，所述测试软件采用visio studio mfc编程实现。

4.根据权利要求1所述的存储芯片的cp测试系统，其特征在于，所述调试器为usb转jtag调试器，所述上位机系统与所述usb转jtag调试器之间通过usb协议进行通信，所述usb转jtag调试器与所述待测芯片之间通过jtag协议进行通信。

5.根据权利要求1所述的存储芯片的cp测试系统，其特征在于，所述调试器在连接到所述上位机系统时被自动识别配置。

6.一种存储芯片的cp测试方法，其特征在于，所述存储芯片的cp测试方法应用于所述权利要求1至5中任一项所述的存储芯片的cp测试系统，所述方法包括：

7.根据权利要求1所述的存储芯片的cp测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

8.一种存储芯片的cp测试装置，其特征在于，包括：

9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求6或7所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求6或7所述的方法的步骤。

技术总结本发明涉及一种存储芯片的CP测试系统方法、装置、设备及存储介质，其中，存储芯片的CP测试系统主要由两部分组成：一是上位机系统，包括PC主机、测试文件和测试软件。测试文件中包含了针对待测芯片的CP测试指令，而测试软件负责加载这些测试文件并将其中的指令解析成读写命令。然后，软件控制待测芯片按照这些命令执行读写操作，并监测其执行情况。二是调试器，它在一端与上位机系统相连，在另一端与待测芯片相连。调试器的作用是将上位机系统发送的通信信息转换为JTAG协议，以便芯片能够理解和响应。通过这样硬件和软件结合的配置，有效地解决了传统MRAM测试方法的缺点，提供了一种既经济又高效的测试解决方案。技术研发人员：潘旭,梁慧琳受保护的技术使用者：苏州亘存科技有限责任公司技术研发日：技术公布日：2024/7/4