一种基于多组快测的PCB板老化测试装置的制作方法

本发明属于检测设备，尤其涉及一种基于多组快测的pcb板老化测试装置。

背景技术：

1、pcb板中文名称为印制电路板，又称印刷电路板、印刷线路板，是重要的电子部件，是电子元器件的支撑体，现代路由器pcb板生产普遍是自动化生产，而对大批量生产的pcb板仍需要抽取部分在老化测试箱内进行老化测试，当抽取样本的合格率达标后，该批的pcb板才能视为合格品出厂。

2、中国专利申请号：cn201610728507.8的发明专利公开了一种电子元件老化测试装置，包括：载板和侧导向板。使用该电子元件老化测试装置，无需将电子元件焊接在pcb板上进行老化测试，只需将电子元件放置于安装槽中，通过侧导电针和中间导电板分别与电子元件的两个端电极电连接，然后与外接电源连接即可进行电流老化测试，不损伤产品，因此可对所有产品进行测试，有效杜绝产品缺陷，使用方便快捷，稳定准确，可批量化测试，提高工作效率，降低成本；

3、中国专利申请号：cn202321008087.8的实用新型公开了一种pcb板多工位老化测试装置，包括屏蔽箱和抓取组件。其中，屏蔽箱包括壳体、支撑架和托盘，托盘与支撑架电性连接，托盘设置有第一工位和第二工位，用于分别盛放pcb板。抓取组件包括升降机构、夹持机构和第一驱动件。夹持机构与升降机构的滑块固定，夹持机构的安装座安装有两个第二夹持部及位于两个第二夹持部中间的第一夹持部，第一夹持部用于抓取托盘，第二夹持部用于抓取pcb板，第一驱动件能够驱动安装座相对滑块转动180°，对调第一工位及第二工位在支撑架的相对位置。如此设计，无需人工参与，实现了pcb板老化测试的自动化，提高作业效率，但是在实际的测试过程中，老化测试箱多采用氧化气体与pcb板接触，加速pcb板的氧化老化速度，完成老化测试，现有的老化测试箱内氧化气体与pcb板接触未必能够均匀，容易影响测试结果。

技术实现思路

1、本发明的目的在于：为了解决现有的老化测试箱内氧化气体与pcb板接触未必能够均匀，容易影响测试结果的问题，而提出的一种基于多组快测的pcb板老化测试装置。

2、为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

3、一种基于多组快测的pcb板老化测试装置，包括老化测试箱主体，所述老化测试箱主体内部滑动连接有滑动箱，所述滑动箱内部设置有转动组件，所述转动组件顶部设置有夹持组件，所述老化测试箱主体顶部两侧设置有多个扰流组件；

4、所述转动组件包括转动盘，所述转动盘顶部开设有多个通孔，所述转动盘底部固定连接有转动轴，所述转动轴一端延伸至滑动箱内，所述转动轴与滑动箱滑动连接，所述转动轴底部固定连接有第二锥齿轮，所述滑动箱内部转动连接有多个套筒，且套筒一端延伸至滑动箱外部，所述套筒外表面固定连接有第一锥齿轮，所述第一锥齿轮一侧与第二锥齿轮底部相啮合，所述转动盘底部四周均固定连接有伸缩杆，所述伸缩杆远离转动盘的一端固定连接有贴合轮，所述贴合轮底部与滑动箱顶部相贴合，所述伸缩杆外表面套设有第一弹簧，所述第一弹簧两端分别与转动盘一侧和贴合轮一侧固定连接。

5、通过采用上述技术方案，套筒带动第二锥齿轮带动第一锥齿轮转动，第一锥齿轮通过转动轴带动转动盘转动，使得转动盘上的pcb板各处能够与老化测试箱主体内的氧化气体能够充分接触，从而提高了pcb板的氧化老化效率，提高测试效率，同时，只有当转动盘上放置有pcb板时，转动盘才会转动，而空置的转动盘不会转动，能够减少电机不必要的动力消耗，。

6、作为上述技术方案的进一步描述：

7、所述转动盘底部固定连接有上磁吸块，所述滑动箱顶部固定连接有下磁吸块，所述上磁吸块与下磁吸块相互吸附，所述上磁吸块与下磁吸块横截面形状为圆形。

8、通过采用上述技术方案，当上磁吸块与下磁吸块距离变时，上磁吸块与下磁吸块之间的吸引力变化，能够辅助转动盘向下移动。

9、作为上述技术方案的进一步描述：

10、所述老化测试箱主体内壁一侧通过转轴转动连接有转动杆，所述转动杆与套筒滑动连接，所述套筒内壁与转动杆横截面形状均为正六边形，且转轴一端延伸至老化测试箱主体外部并固定连接有传动轮，且多个传动轮之间传动连接有传动带，所述老化测试箱主体一侧通过安装板固定连接有驱动电机，所述驱动电机输出轴一端与其中一个传动轮一侧固定连接。

11、通过采用上述技术方案，转动杆与套筒的配合，能够保证滑动箱的正常移动，并且转动杆能够将驱动电机的动力通过套筒延传输至转动盘上。

12、作为上述技术方案的进一步描述：

13、所述夹持组件包括固定环，所述固定环固定连接于转动盘顶部，所述固定环内侧开设有多个收纳槽，所述收纳槽内转动连接有连接杆，所述连接杆一侧固定连接有贴合块，所述贴合块横截面形状为圆形，且贴合块为柔性塑胶块，所述连接杆背离贴合块的一侧固定连接有拉簧，所述拉簧另一端与收纳槽内壁一侧固定连接，所述连接杆底部固定连接有连接线缆，所述固定环外周侧开设有内腔，所述收纳槽与内腔之间连通有通槽，所述连接线缆一端通过通槽延伸至内腔内，所述连接线缆一端卷绕于收卷轮，所述收卷轮通过连接轴转动连接于内腔内部。

14、通过采用上述技术方案，通过转动环、内齿环、传动齿轮与连接轴的传动，使得收卷轮转动，从而实现收卷轮带动连接线缆缠绕于收卷轮外表面，通过连接轴带动收卷轮的转动圈数能够改变连接线缆的移动行程，使得连接线缆带动连接杆绕转轴转动，从而改变贴合块与转动盘顶部的距离，使得该夹持组件能够适用于不同规格的pcb板。

15、作为上述技术方案的进一步描述：

16、所述连接线缆上下两侧均贴合有导向轮，所述导向轮一端与内腔内壁一侧固定连接。

17、通过采用上述技术方案，导向轮能够对连接线缆的限位，避免连接线缆在移动过程中散乱错位，保证连接线缆的稳定移动，避免对连接杆造成错位影响。

18、作为上述技术方案的进一步描述：

19、所述固定环外周侧转动连接有转动环，所述转动环内壁固定连接有内齿环，所述连接轴外表面固定连接有传动齿轮，所述传动齿轮与内齿环相啮合。

20、通过采用上述技术方案，通过内齿环与传动齿轮的传动实现收卷轮对连接线缆的收卷，从而控制连接杆的转动。

21、作为上述技术方案的进一步描述：

22、所述扰流组件包括扰流板，所述扰流板底部固定连接有摆动杆，所述滑动箱顶部开设有槽体，所述槽体固定连接有固定轴，所述摆动杆与固定轴外表面转动连接，所述摆动杆一侧固定连接有挤压轮，所述套筒外表面固定连接有转动板，所述转动板一侧固定连接有多个挤压块，所述挤压块横截面形状为梯形，且多个挤压块绕转动板轴心呈等角度圆周阵列分布，所述挤压块与挤压轮相贴合。

23、通过采用上述技术方案，摆动杆带动扰流板往复摆动，使得老化测试箱主体内的氧化气体流动更加分散，能够避免老化测试箱主体中的氧化气体积聚于一处。

24、作为上述技术方案的进一步描述：

25、所述摆动杆一侧固定连接有第二弹簧，所述第二弹簧另一端与滑动箱内壁一侧固定连接。

26、通过采用上述技术方案，通过设置第二弹簧配合挤压块能够实现摆动杆的往复摆动。

27、作为上述技术方案的进一步描述：

28、所述老化测试箱主体一侧铰接有防护门，所述防护门一侧开设有观测窗，所述老化测试箱主体一侧设置有操控面板，所述老化测试箱主体底部四周均固定连接有支撑腿，且支撑腿底部设置有防滑纹。

29、通过采用上述技术方案，通过设置防护门与观察窗，能够方便工作人员观测内部情况，避免测试过程出现意外。

30、作为上述技术方案的进一步描述：

31、所述老化测试箱主体内部开设有多组行程槽，所述滑动箱两侧均固定连接有行程块，所述行程块与行程槽滑动连接。

32、通过采用上述技术方案，行程块与行程槽的配合能够保证滑动箱的稳定性，从而保证在测试时pcb板的稳定性，提高测试数据的准确性。

33、综上所述，由于采用了上述技术方案，本发明的有益效果是：

34、1、本发明中，通过设置转动组件，当pcb板经过夹持组件的限位完成在转动盘上的限位安装后，pcb板配合转动盘的自身重力大于第一弹簧的弹力，并且上磁吸块与下磁吸块辅助转动盘向下移动，使得第一弹簧与伸缩杆收缩，使得第一锥齿轮与第二锥齿轮相互啮合，当滑动箱进入老化测试箱主体后，驱动电机通过传动轮与传动带带动多个转动杆转动，使得转动杆带动套筒转动，套筒带动第二锥齿轮带动第一锥齿轮转动，第一锥齿轮通过转动轴带动转动盘转动，使得转动盘上的pcb板各处能够与老化测试箱主体内的氧化气体能够充分接触，从而提高了pcb板的氧化老化效率，提高测试效率，同时，只有当转动盘上放置有pcb板时，转动盘才会转动，而空置的转动盘不会转动，能够减少电机不必要的动力消耗，提高了该设备的灵活性。

35、2、本发明中，通过设置夹持组件，工作人员将滑动箱拉出，工作人员将pcb板放置于转动盘上，工作人员通过转动环带动内齿环转动，内齿环通过传动齿轮带动连接轴转动，连接轴通过收卷轮带动连接线缆缠绕于收卷轮外表面，此时，连接线缆带动连接杆绕着转轴轴心转动，连接杆带动贴合块转动，使得贴合块的一侧与pcb板顶部相贴合并对pcb板进行限位，通过连接轴带动收卷轮的转动圈数能够改变连接线缆的移动行程，使得连接线缆带动连接杆绕转轴转动，从而改变贴合块与转动盘顶部的距离，使得该夹持组件能够适用于不同规格的pcb板，且该夹持组件在保证对pcb板的限位的同时，能够减少与pcb板表面的接触，从而减少对pcb板的遮挡，避免影响氧化气体对pcb板的氧化效果。

36、3、本发明中，通过设置扰流组件，在进行测试时，老化测试箱主体内释放氧化气体并使之与pcb板接触，从而加速对pcb板氧化老化效果，并根据所需时间，得到测试数据，在此过程中，套筒通过转动板带动挤压块转动，挤压块配合第二弹簧带动摆动杆做往复运动，摆动杆带动扰流板往复摆动，使得老化测试箱主体内的氧化气体流动更加分散，能够避免老化测试箱主体中的氧化气体积聚于一处，从而造成氧化气体对pcb板各处的接触面与接触时间存在较大差异，从而影响测试的数据，能够提高测试数据准确性。