芯片的功能验证方法、装置、存储介质和电子设备与流程

本技术实施例涉及芯片领域，具体而言，涉及一种芯片的功能验证方法、装置、存储介质和电子设备。

背景技术：

1、在芯片设计的过程中，需要对芯片进行功能验证以确保芯片的设计质量，相关技术中通过一般使用传统的定向测试方法对芯片进行功能验证，即使用预先定义的测试用例来验证特定的功能或场景，然而随着集成电路规模逐渐增大，集成度和复杂度日益提高，在较大的测试空间下传统的定向测试方法很难发现设计中的潜在问题。

2、针对相关技术中，芯片功能验证的效率较低等问题，尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

1、本技术实施例提供了一种芯片的功能验证方法、装置、存储介质和电子设备，以至少解决相关技术中芯片功能验证的效率较低的问题。

2、根据本技术的一个实施例，提供了一种芯片的功能验证方法，应用于第一验证平台，所述第一验证平台用于对目标芯片在第一芯片组件下的芯片功能进行功能验证，所述方法包括：

3、接收验证请求，其中，所述验证请求用于请求对所述目标芯片的目标芯片功能进行功能验证；

4、响应所述验证请求，获取第二验证平台输出的第一验证文件，其中，所述第二验证平台用于对所述目标芯片在第二芯片组件下的芯片功能进行功能验证，所述第一芯片组件和所述第二芯片组件是所述目标芯片在不同层次下的组件，所述第一验证文件用于指示在所述第二验证平台中验证所述目标芯片功能所使用的第一验证方式；

5、将所述第一验证文件转换为第二验证文件，其中，所述第二验证文件用于指示在所述第一验证平台中验证所述目标芯片功能所使用的第二验证方式，所述第二验证方式包括在所述第一验证平台运行所述目标芯片功能的n个目标功能参数；

6、将所述第二验证文件输入验证模型，得到所述验证模型输出的验证结果，其中，所述验证模型用于依次模拟所述目标芯片功能在n个所述目标功能参数下的运行状态，并根据所述运行状态确定所述目标芯片的所述验证结果。

7、在一个示例性实施例中，所述将所述第一验证文件转换为第二验证文件，包括：从所述第一验证文件中提取验证参数范围、第一头文件以及第一执行参数，其中，所述第一验证方式由所述验证参数范围、所述第一头文件以及所述第一执行参数所实现，所述验证参数范围用于指示所述目标芯片功能的功能参数以及每个所述功能参数的取值区间，所述第一头文件用于触发在所述第二验证平台上对所述目标芯片功能的验证功能，所述第一执行参数是所述第二验证平台的平台配置参数；从所述验证参数范围中提取所述目标芯片功能的n个所述目标功能参数以及每个所述目标功能参数的目标参数值，并将所述第一头文件和所述第一执行参数转换为适应于所述第一验证平台的第二头文件和第二执行参数得到所述第二验证文件，其中，所述第二头文件用于触发在所述第一验证平台上对所述目标芯片功能的验证功能，所述第二执行参数是所述第一验证平台的平台配置参数。

8、在一个示例性实施例中，所述从所述验证参数范围中提取所述目标芯片功能的n个所述目标功能参数以及每个所述目标功能参数的目标参数值，包括：从所述验证参数范围中识别待验证的功能参数，得到n个所述目标功能参数以及所述目标功能参数的取值区间；从所述目标功能参数的取值区间中提取所述目标功能参数对应的m个初始参数值；检测m个所述初始参数值在所述目标功能参数的取值区间中的参数有效性，其中，所述参数有效性用于指示m个所述初始参数值的有效度是否大于或者等于有效度阈值；在所述参数有效性所指示的m个所述初始参数值的所述有效度大于或者等于所述有效度阈值的情况下，将m个所述初始参数值确定为所述目标功能参数的所述目标参数值；在所述参数有效性所指示的m个所述初始参数值的所述有效度小于所述有效度阈值的情况下，根据所述初始参数值对所述有效度的作用指数更新所述初始参数值得到更新参数值，直至所述更新参数值的有效度大于或者等于所述有效度阈值；将所述有效度大于或者等于所述有效度阈值的所述更新参数值确定为所述目标参数值。

9、在一个示例性实施例中，所述检测m个所述初始参数值在所述目标功能参数的取值区间中的参数有效性，包括：验证m个所述初始参数值在所述目标功能参数的取值区间中的分布参数以及重合参数，其中，所述分布参数用于指示m个所述初始参数值在所述目标功能参数的取值区间中是否均匀分布，所述重合参数用于指示m个所述初始参数值中是否存在重合的参数值；在所述分布参数用于指示m个所述初始参数值在所述目标功能参数的取值区间中存在非均匀分布，或者，所述重合参数用于指示m个所述初始参数值中存在重合的参数值的情况下，确定所述参数有效性用于指示m个所述初始参数值的所述有效度小于所述有效度阈值。

10、在一个示例性实施例中，所述根据所述初始参数值对所述有效度的作用指数更新所述初始参数值得到更新参数值，包括：检测所述目标功能参数的取值区间中的每个所述取值区间的均匀分布指数，并检测每个所述初始参数值的重合指数，其中，所述作用指数包括所述均匀分布指数以及所述重合指数，所述均匀分布指数用于指示从所述取值区间中提取的所述初始参数值是否存在非均匀分布，所述重合指数用于指示m个所述初始参数值中是否存在重复的所述初始参数值；在所述均匀分布指数用于指示从所述取值区间中提取的所述初始参数值存在非均匀分布的情况下，从所述目标功能参数的取值区间中提取存在非均匀分布的候选取值区间；检测所述候选取值区间的区间取值个数；在所述区间取值个数大于或者等于取值个数阈值的情况下，降低所述候选取值区间在所述目标功能参数的全量取值区间中的区间权重，其中，所述区间权重用于指示从所述候选取值区间中提取参数值的概率；在所述区间取值个数小于所述取值个数阈值的情况下，提高所述候选取值区间在所述目标功能参数的全量取值区间中的区间权重；从所述目标功能参数的取值区间中提取所述更新参数值；在所述重合指数用于指示m个所述初始参数值中存在重复的所述初始参数值的情况下，提取存在重复的候选参数值；统计所述候选参数值的个数；从所述目标功能参数的取值区间中提取所述个数个参数值，得到所述更新参数值。

11、在一个示例性实施例中，在所述从所述第一验证文件中提取在所述第二验证平台中验证所述目标芯片功能所使用的所述第一验证方式之前，所述方法还包括：从服务器获取候选功能参数以及所述候选功能参数的取值区间；将所述候选功能参数以及所述候选功能参数的所述取值区间写入所述第一验证文件；从写入了所述候选功能参数以及所述候选功能参数的所述取值区间的所述第一验证文件中提取在所述第二验证平台中验证所述目标芯片功能所使用的所述第一验证方式。

12、在一个示例性实施例中，所述将所述第二验证文件输入验证模型，得到所述验证模型输出的验证结果，包括：将所述第二验证文件输入所述验证模型；通过所述验证模型依次模拟所述目标芯片功能在n个所述目标功能参数下的运行状态，得到测试运行状态；将所述测试运行状态与标准运行状态进行比较；在所述测试运行状态与所述标准运行状态相同的情况下，确定所述目标芯片的所述验证结果为正常。

13、根据本技术的另一个实施例，提供了一种芯片的功能验证装置，应用于第一验证平台，所述第一验证平台用于对目标芯片在第一芯片组件下的芯片功能进行功能验证，所述装置包括：

14、接收模块，用于接收验证请求，其中，所述验证请求用于请求对所述目标芯片的目标芯片功能进行功能验证；

15、获取模块，用于响应所述验证请求，获取第二验证平台输出的第一验证文件，其中，所述第二验证平台用于对所述目标芯片在第二芯片组件下的芯片功能进行功能验证，所述第一芯片组件和所述第二芯片组件是所述目标芯片在不同层次下的组件，所述第一验证文件用于指示在所述第二验证平台中验证所述目标芯片功能所使用的第一验证方式；

16、转换模块，用于将所述第一验证文件转换为第二验证文件，其中，所述第二验证文件用于指示在所述第一验证平台中验证所述目标芯片功能所使用的第二验证方式，所述第二验证方式包括在所述第一验证平台运行所述目标芯片功能的n个目标功能参数；

17、验证模块，用于将所述第二验证文件输入验证模型，得到所述验证模型输出的验证结果，其中，所述验证模型用于依次模拟所述目标芯片功能在n个所述目标功能参数下的运行状态，并根据所述运行状态确定所述目标芯片的所述验证结果。

18、根据本技术的又一个实施例，还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被设置为运行时执行上述任一项方法实施例中的步骤。

19、根据本技术的又一个实施例，还提供了一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行上述任一项方法实施例中的步骤。

20、根据本技术的又一个实施例，还提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一项方法实施例中的步骤。

21、通过本技术，接收验证请求，其中，验证请求用于请求对目标芯片的目标芯片功能进行功能验证；响应验证请求，获取第二验证平台输出的第一验证文件，其中，第二验证平台用于对目标芯片在第二芯片组件下的芯片功能进行功能验证，第一芯片组件和第二芯片组件是目标芯片在不同层次下的组件，第一验证文件用于指示在第二验证平台中验证目标芯片功能所使用的第一验证方式；将第一验证文件转换为第二验证文件，其中，第二验证文件用于指示在第一验证平台中验证目标芯片功能所使用的第二验证方式，第二验证方式包括在第一验证平台运行目标芯片功能的n个目标功能参数；将第二验证文件输入验证模型，得到验证模型输出的验证结果，其中，验证模型用于依次模拟目标芯片功能在n个目标功能参数下的运行状态，并根据运行状态确定目标芯片的验证结果。也就是说，通过获取第二验证平台输出的第一验证文件，根据第一验证文件确定在第一验证平台中验证目标芯片功能所使用的第二验证方式，实现了将第二验证平台和第一验证平台之间的验证方法的转换，因此，可以解决芯片功能验证的效率较低问题，达到提高芯片功能验证的效率的效果。