一种基于电流反馈的集成电路老化测试方法及系统与流程

本申请涉及电路测试，尤其涉及一种基于电流反馈的集成电路老化测试方法及系统。

背景技术：

1、集成电路是一种微型电子器件，采用特定的制造工艺将晶体管、电阻、电容和电感等元件封装在一个管壳内，形成具有某种电路功能的微型电子器件，集成电路老化测试的目的是评估集成电路当前工作性能的稳定性和可靠性，及时发现潜在缺陷和故障问题，从而可以采取手段进行处理，确保产品在使用过程中的可靠性。

2、目前，现有基于电流反馈的集成电路老化测试方法，由于电路老化特征确定的精细度和准确性不足，导致老化测试结果评估的准确性较差，以至于无法及时发现电路潜在的缺陷和故障，造成电路运行风险较大的技术问题。

技术实现思路

1、本申请的目的是提供一种基于电流反馈的集成电路老化测试方法及系统，用以解决现有基于电流反馈的集成电路老化测试方法，由于电路老化特征确定的精细度和准确性不足，导致老化测试结果评估的准确性较差，以至于无法及时发现电路潜在的缺陷和故障，造成电路运行风险较大的技术问题。

2、鉴于上述问题，本申请提供了一种基于电流反馈的集成电路老化测试方法及系统。

3、第一方面，本申请提供了一种基于电流反馈的集成电路老化测试方法，所述方法通过一种基于电流反馈的集成电路老化测试系统实现，其中，所述方法包括：s1：获取目标集成电路的布图设计信息，对所述布图设计信息进行多维关键性分析，确定集成电路关键节点集合，在所述集成电路关键节点集合上设置电流传感器，获取电流监测传感器集合；s2：获取电流老化测试表，按照所述电流老化测试表基于所述电流监测传感器集合对所述目标集成电路进行老化测试监测，获取关键节点电流反馈信号集合，将所述关键节点电流反馈信号集合无线传输至数据处理单元；s3：通过所述数据处理单元对所述关键节点电流反馈信号集合进行信号滤波预处理，获得关键节点标准电流信号集合，对所述关键节点标准电流信号集合进行老化关联特征提取，确定集成电路老化特征信息集合；s4：基于所述集成电路老化特征信息集合进行老化状态分析，获得集成电路老化状态系数，当所述集成电路老化状态系数达到预设老化系数阈值时，发出预警信号对所述目标集成电路进行老化预警记录。

4、第二方面，本申请还提供了一种基于电流反馈的集成电路老化测试系统，用于执行如第一方面所述的一种基于电流反馈的集成电路老化测试方法，其中，所述系统包括：集成电路关键节点集合确定模块，用于获取目标集成电路的布图设计信息，对所述布图设计信息进行多维关键性分析，确定集成电路关键节点集合，在所述集成电路关键节点集合上设置电流传感器，获取电流监测传感器集合；关键节点电流反馈信号集合获取模块，用于获取电流老化测试表，按照所述电流老化测试表基于所述电流监测传感器集合对所述目标集成电路进行老化测试监测，获取关键节点电流反馈信号集合，将所述关键节点电流反馈信号集合无线传输至数据处理单元；老化关联特征提取模块，用于通过所述数据处理单元对所述关键节点电流反馈信号集合进行信号滤波预处理，获得关键节点标准电流信号集合，对所述关键节点标准电流信号集合进行老化关联特征提取，确定集成电路老化特征信息集合；老化状态分析模块，用于基于所述集成电路老化特征信息集合进行老化状态分析，获得集成电路老化状态系数，当所述集成电路老化状态系数达到预设老化系数阈值时，发出预警信号对所述目标集成电路进行老化预警记录。

5、本申请中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

6、通过获取目标集成电路的布图设计信息，对所述布图设计信息进行多维关键性分析，确定集成电路关键节点集合，在所述集成电路关键节点集合上设置电流传感器，获取电流监测传感器集合；然后获取电流老化测试表，按照所述电流老化测试表基于所述电流监测传感器集合对所述目标集成电路进行老化测试监测，获取关键节点电流反馈信号集合，将所述关键节点电流反馈信号集合无线传输至数据处理单元；接着通过所述数据处理单元对所述关键节点电流反馈信号集合进行信号滤波预处理，获得关键节点标准电流信号集合，对所述关键节点标准电流信号集合进行老化关联特征提取，确定集成电路老化特征信息集合；最后基于所述集成电路老化特征信息集合进行老化状态分析，获得集成电路老化状态系数，当所述集成电路老化状态系数达到预设老化系数阈值时，发出预警信号对所述目标集成电路进行老化预警记录。也就是说，通过对集成电路的布图设计信息进行多维关键性分析，确定集成电路关键节点集合，并基于集成电路关键节点集合布设电流传感器，可以提高电流监测的准确性和有效性；接着基于预设电流老化测试表，通过电流监测传感器集合对集成电路进行老化测试监测，并对监测数据进行信号滤波预处理，得到关键节点标准电流信号集合；进一步提取关键节点标准电流信号集合中的老化关联特征，并基于老化关联特征进行老化状态分析，生成集成电路老化状态系数；最后在集成电路老化状态系数大于预设老化系数阈值时，发出预警信号对目标集成电路进行老化预警和状态记录，便于后期进行针对性维护处理；可以提高集成电路老化特征分析的精细度和准确性，进而实现提高老化测试结果评估质量的目标，从而可以及时发现电路潜在威胁并进行针对性预警，确保电路产品运行的可靠性和稳定性。

7、上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本申请的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本申请的范围。本申请的其他特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

技术特征：

1.一种基于电流反馈的集成电路老化测试方法，其特征在于，所述方法包括：

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述s1中确定集成电路关键节点集合，包括：

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述s11中建立集成电路图模型，包括：

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述s2中获取电流老化测试表，包括：

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述s3中确定集成电路老化特征信息集合，包括：

6.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述s4中获得集成电路老化状态系数，包括：

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述s44中获得所述集成电路老化状态系数，包括：

8.一种基于电流反馈的集成电路老化测试系统，其特征在于，用于实施权利要求1至7中任意一项所述方法的步骤，所述系统包括：

技术总结本申请提供了一种基于电流反馈的集成电路老化测试方法及系统，涉及电路测试技术领域，该方法包括：按照电流老化测试表，对集成电路进行老化测试，获取电流反馈信号集合；进行信号滤波预处理，获得标准电流信号集合进行老化关联特征提取；基于老化特征信息集合进行老化状态分析，获得老化状态系数，当电路老化状态系数达到预设老化系数阈值，发出预警信号。通过本申请可以解决现有集成电路老化测试方法，由于电路老化特征确定的精细度和准确性不足，导致老化测试结果评估的准确性较差，以至于无法及时发现电路潜在缺陷和故障，造成电路运行风险较大的技术问题，可以及时发现电路潜在威胁并进行预警，确保电路运行的可靠性和稳定性。技术研发人员：綦迎红,杨灿辉受保护的技术使用者：深圳市科茂翔电子有限公司技术研发日：技术公布日：2024/8/20