一种柔性透明网状电路的绝缘安全检测方法与流程

本发明涉及绝缘安全，尤其涉及一种柔性透明网状电路的绝缘安全检测方法。

背景技术：

1、柔性透明电子器件、智能穿戴设备和柔性电子产品等领域正日益受到关注。这些新型电子器件需要具备柔性透明的特性，同时要求具有良好的绝缘性能，目前的研究技术包括柔性透明天线技术、灵敏的传感器层技术，但是这些技术存在综合检测困难，检测精度较低，不能及时发现绝缘隐患的问题。

2、因此，本发明提供的一种柔性透明网状电路的绝缘安全检测方法。

技术实现思路

1、本发明提供的一种柔性透明网状电路的绝缘安全检测方法，通过获取绝缘层和导电层的材料信息，分别采用光学激发成像和电磁场测试技术，以确定电路的微观结构特征和潜在缺陷，实现了检测精度的提升，可以更有效地评估电路的绝缘安全情况。

2、本发明提供一种柔性透明网状电路的绝缘安全检测方法，包括：

3、步骤1：获取柔性透明网状电路绝缘层的第一材料信息，对所述第一材料信息进行光学特性分析，根据光学特性分析结果选择激发光源，对所述绝缘层进行光学激发，并将激发结果成像，捕捉绝缘层的微观结构与特征，基于所述微观结构与特征确定绝缘层的第一缺陷；

4、步骤2：获取所述柔性透明网状电路导电层的第二材料信息，根据所述第二材料信息确定标准电磁敏感度，根据标准电磁敏感度对所述柔性透明网状电路进行电磁场测试，根据测试结果确定导电层的第二缺陷；

5、步骤3：根据第一缺陷与第二缺陷确定所述柔性透明网状电路的绝缘安全情况。

6、本发明提供一种柔性透明网状电路的绝缘安全检测方法，获取柔性透明网状电路绝缘层的第一材料信息，对所述第一材料信息进行光学特性分析，根据光学特性分析结果选择激发光源，对所述绝缘层进行光学激发，并将激发结果成像，捕捉绝缘层的微观结构与特征，基于所述微观结构与特征确定绝缘层的第一缺陷，包括：

7、根据第一材料信息结合材料应用领域得出绝缘层的基础性质，使用光谱仪对所述绝缘层的基础性质进行光学特性分析，得出绝缘层的第一吸收发射特性，进而根据所述第一吸收发射特性选择激发光源；

8、根据绝缘层厚度分布对绝缘层进行区域划分，得出多个绝缘区域，使用激发光源对所有绝缘区域进行光学激发，测量每个绝缘区域的吸收光谱与荧光光谱，并记录在不同波长下对应绝缘区域的荧光强度与吸光度数值；

9、以吸收波长为横轴，吸收度为纵轴绘制吸收光谱曲线；以发射波长为横轴，荧光强度为纵轴绘制荧光光谱曲线；分析吸收光谱曲线与荧光光谱曲线，识别吸收峰与荧光峰，并分析吸收峰与荧光峰对应波长与峰值强度，进而得出每个绝缘区域的第二吸收发射特性；

10、将所述第一吸收发射特性与第二吸收发射特性进行特性比较，确定初始缺陷以及所述初始缺陷对应的缺陷绝缘区域；

11、对所述缺陷绝缘区域进行激发结果成像，捕捉所述缺陷绝缘区域的微观特征和结构，并确定第一缺陷。

12、本发明提供一种柔性透明网状电路的绝缘安全检测方法，将所述第一吸收发射特性与第二吸收发射特性进行特性比较，确定初始缺陷以及所述初始缺陷对应的缺陷绝缘区域，包括：

13、对各绝缘区域的吸收光谱曲线进行第一比较，并根据识别的吸收峰分析各绝缘区域的吸收峰波长和峰值强度的第一差异；

14、对各绝缘区域的荧光光谱曲线进行第二比较，并根据识别的荧光峰分析各绝缘区域的荧光峰波长和峰值强度的第二差异；

15、对同一绝缘区域的荧光光谱曲线与吸收光谱曲线进行第三比较，并根据第三比较结果确定吸收峰与荧光峰之间的第三差异；

16、根据第一差异与第二差异得出关于绝缘层厚度分布的厚度影响因子；

17、将所述厚度影响因子和第一吸收发射特性进行第一结合，同时，将第三差异与第二吸收发射特性进行第二结合；

18、对第一结合与第二结合进行比较，根据比较结果确定初始缺陷以及对应的缺陷绝缘区域。

19、本发明提供一种柔性透明网状电路的绝缘安全检测方法，对所述缺陷绝缘区域进行激发结果成像，捕捉所述缺陷绝缘区域的微观特征和结构，并确定第一缺陷，包括：

20、分析激发成像得到的缺陷绝缘区域显微图像，确定缺陷绝缘区域的结构特征，并对所述缺陷绝缘区域的组织结构进行结构评估，得到结构评估结果；

21、根据所述显微图像确定缺陷绝缘区域的形貌特征，并判断缺陷的形态分布情况，得出第一特征；

22、通过所述显微图像观察确定缺陷绝缘区域的纹理特征，并确定纹理特性与对应纹理的来源，得出第二特征；

23、结合第一特征与第二特征确定所述缺陷绝缘区域的微观特征，将所述微观特征与对应缺陷绝缘区域的第三差异进行区域比较，确定所述缺陷绝缘区域的可能原因，基于微观特征、结构评估结果与所述可能原因，确定第一缺陷。

24、本发明提供一种柔性透明网状电路的绝缘安全检测方法，获取所述柔性透明网状电路导电层的第二材料信息，根据所述第二材料信息确定标准电磁敏感度，根据标准电磁敏感度对所述柔性透明网状电路进行电磁场测试，根据测试结果确定导电层的第二缺陷，包括：

25、获取导电层所使用的第二材料信息，根据所述第二材料信息对导电层的标准电磁敏感度进行电磁理论预测，得到标准电磁敏感度；同时，评估导电层对不同频率的电磁波的吸收、反射和透射情况，得到情况评估结果，并根据情况评估结果计算导电层对不同频率电磁波的电磁响应特性，根据标准电磁敏感度与电磁响应特性得出理论预测结果；

26、根据所述电磁响应特性确定进行电磁测试所需范围与关键频率点；

27、根据所述所需范围与关键频率点使用电磁测试装置对所述导电层进行电磁测试，并记录每个关键频率点的电磁波响应数据；

28、基于所述电磁波响应数据，评估导电层在不同频率电磁波下的电磁性能，得到性能评估结果；同时，分析导电层在电磁场中的表现，得到导电层电磁性能的表现情况，并评估所述导电层电磁性能的表现情况，得到表现评估结果，根据所述性能评估结果与表现评估结果得出综合测试结果；

29、将所述综合测试结果与理论预测结果进行比较，并基于测试-预测差异对导电层的标准电磁敏感度进行评估，确定导电层的第二缺陷。

30、本发明提供一种柔性透明网状电路的绝缘安全检测方法，将所述综合测试结果与理论预测结果进行比较，并基于测试-预测差异对导电层的标准电磁敏感度进行评估，确定导电层的第二缺陷，包括：

31、对综合测试结果与理论预测结果进行差异比较，确定各频率电磁波下导电层的测试-预测差异，并基于测试-预测差异分析导电层在不同频率电磁波下电磁响应特性，确定是否存在频率特性偏差情况；

32、同时，基于测试-预测差异对导电层的电磁兼容性进行兼容评估，确定导电层的抗干扰情况；

33、综合频率特性偏差情况与抗干扰情况得出导电层在电磁场中的标准电磁敏感度水平，量化评估导电层对外部电磁干扰的标准电磁敏感度，识别并确定导电层的第二缺陷；

34、结合电磁响应特性与抗干扰情况，分析第二缺陷对导电层的可能影响，进而确定第二缺陷对应的缺陷绝缘位置。

35、本发明提供一种柔性透明网状电路的绝缘安全检测方法，标准电磁敏感度的计算过程，包括：

36、；其中，表示标准电磁敏感度；表示导电层的实部电导率；表示导电层的虚部电导率；表示导电层的实部介电常数；表示导电层的虚部介电常数；表示电场在空间中的分布向量；表示磁场在空间中的分布向量；表示微元体积元素；表示电磁波的角频率；j表示虚数单位。

37、本发明提供一种柔性透明网状电路的绝缘安全检测方法，根据第一缺陷与第二缺陷确定所述柔性透明网状电路的绝缘安全情况，包括：

38、基于所有的缺陷绝缘位置分析所述第一缺陷与第二缺陷之间相互影响与叠加效应，确定所述第一缺陷与第二缺陷对于柔性透明网状电路的绝缘安全性综合影响；

39、基于所述综合影响结果，确定电路绝缘安全情况的综合等级，进而实现对柔性透明网状电路的绝缘安全检测。

40、与现有技术相比，本技术的有益效果如下：通过获取绝缘层和导电层的材料信息，分别采用光学激发成像和电磁场测试技术，以确定电路的微观结构特征和潜在缺陷，实现了检测精度的提升，可以更有效地评估电路的绝缘安全情况。

41、本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

42、下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。