一种箔条团的电磁散射测试方法及测试系统与流程

本发明涉及电磁散射，特别涉及一种箔条团的电磁散射测试方法及测试系统。

背景技术：

1、箔条是使用最早、应用最广泛的无源干扰之一，可形成干扰走廊、干扰屏幕，能够完成干扰敌方雷达侦察、跟踪目标能力任务。箔条团目标外场动态测试获取rcs(雷达散射截面)时间序列，评估箔条散射效果，研究提升箔条弹性能。

2、相关技术中，箔条团目标测量一般采用暗室测量和外场测量，暗室测量通过悬挂箔条云模型进行测量，外场测量通过箔条弹静态悬挂起爆或动态抛射进行测量，获取箔条的电磁散射特性。其中，外场测量为了防止场内的非目标产生较大干扰波，往往在选择外场场地时，选择极为空旷的场地。但是，空旷的场地较少，难以满足目前的测试需求。

3、因此，针对上述不足，急需一种在近距离测试箔条团的电磁散射特性的测试方法和测试系统。

技术实现思路

1、本发明实施例提供了一种箔条团的电磁散射测试方法及测试系统，能够在近距离内测试箔条团的电磁散射特性。

2、第一方面，本发明实施例提供一种箔条团的电磁散射测试方法，包括：

3、朝向箔条团发射电磁波，并接收回波信号；

4、将每个时刻的回波信号做傅里叶变换，得到一维距离像；

5、将所述一维距离像按时间组合，得到一维距离像历程图；

6、根据所述一维距离像历程图，将低频信息去除，得到目标箔条团的电磁散射特性数据。

7、在一种可能的设计中，所述将每个时刻的回波信号做傅里叶变换，得到一维距离像，包括：

8、确定雷达波发射信号；

9、采集距离雷达波发射端不同位置处的回波信号；

10、将距离雷达发射端0处的回波作为参考信号，利用参考信号和回波信号混频，得到中频回波信号；

11、去除所述中频回波信号的基带信号和第二相残余视频相位，得到简化信号；

12、对距离雷达发射端不同位置处的散射中心的所述简化信号求和，构成的待变换信号；

13、通过对所述待变换信号进行傅里叶变换，得到一维距离像历程图。

14、在一种可能的设计中，所述雷达波发射信号如下：

15、

16、其中，a0为发射信号幅度，fc为参考信号，k为调频率，为脉内时间。

17、在一种可能的设计中，距离雷达波发射端不同位置处的回波信号如下：

18、

19、所述中频回波信号如下：

20、

21、其中，a为回波信号幅度，fc为参考信号，k为调频率，为脉内时间，r为距离。

22、在一种可能的设计中，所述简化信号如下：

23、

24、其中，a为回波信号幅度，fc为参考信号，k为调频率，为脉内时间，r为距离。

25、在一种可能的设计中，所述待变换信号如下：

26、

27、其中，a为回波信号幅度，fc为参考信号，k为调频率，为脉内时间，r为距离，n为简化信号的数量，i为简化信号的标号。

28、在一种可能的设计中，所述对距离雷达发射端不同位置处的散射中心的所述简化信号求和，包括：

29、按照预设间隔采集不同位置的散射中心的所述简化信号，进行求和；

30、所述预设间隔如下：

31、

32、其中，c是光速，fs是雷达接收机采样率，k是调频率，n是采样点数。

33、在一种可能的设计中，在所述将每个时刻的回波信号做傅里叶变换，得到一维距离像之前，还包括：

34、进行测试系统标定，得到系统标定信息；

35、在将所述一维距离像按时间组合，得到一维距离像历程图之后和在所述根据所述一维距离像历程图，将低频信息去除，得到目标箔条团的电磁散射特性数据之前，还包括：

36、根据所述系统标定信息标定所述一维距离像历程图；

37、所述测试系统标定的标定公式为：

38、

39、其中，σt是目标散射量值，pt是目标回波功率值，pc是定标体回波功率值，rt是目标测试距离，rc是定标体测试距离，σc是定标体散射理论值。

40、在一种可能的设计中，所述根据所述一维距离像历程图，将低频信息去除，得到目标箔条团的电磁散射特性数据，包括：

41、利用滑窗均值滤波方法对所述一维距离像历程图进行滤波处理，去除杂波；

42、将所述一维距离像历程图在距离上取最大值，得到目标箔条团的rcs关于时间的变化曲线。

43、第二方面，本发明实施例还提供了一种箔条团的电磁散射测试系统，用于实现上述中任一所述的测试方法，所述测试系统包括：

44、射频收发装置，设置于上风向，用于发射和接收电磁波；

45、投放装置，设置于下风向，用于投放箔条团；

46、数据处理装置，用于完成所述测试方法中的数据处理。

47、本发明与现有技术相比至少具有如下有益效果：

48、由于箔条是一种rcs散射特性随时间变化剧烈的目标，主要散射能量的频率在50hz以上，而杂波随时间变化交为缓慢，主要散射能量频率在2hz以下(依测试场地环境不同)，故可以基于目标与杂波的时间频率差异，滤除低频信息，完成低频杂波抑制，提升测试精度。

技术特征：

1.一种箔条团的电磁散射测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述将每个时刻的回波信号做傅里叶变换，得到一维距离像，包括：

3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述雷达波发射信号如下：

4.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，距离雷达波发射端不同位置处的回波信号如下：

5.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述简化信号如下：

6.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述待变换信号如下：

7.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述对距离雷达发射端不同位置处的散射中心的所述简化信号求和，包括：

8.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，在所述将每个时刻的回波信号做傅里叶变换，得到一维距离像之前，还包括：

9.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述根据所述一维距离像历程图，将低频信息去除，得到目标箔条团的电磁散射特性数据，包括：

10.一种箔条团的电磁散射测试系统，其特征在于，用于实现权利要求1-9中任一所述的测试方法，所述测试系统包括：

技术总结本发明涉及电磁散射技术领域，特别涉及一种箔条团的电磁散射测试方法及测试系统。本发明实施例提供一种箔条团的电磁散射测试方法，包括：朝向箔条团发射电磁波，并接收回波信号；将每个时刻的回波信号做傅里叶变换，得到一维距离像；将所述一维距离像按时间组合，得到一维距离像历程图；根据所述一维距离像历程图，将低频信息去除，得到目标箔条团的电磁散射特性数据。本发明实施例提供了一种箔条团的电磁散射测试方法及测试系统，能够在近距离内测试箔条团的电磁散射特性。技术研发人员：任群亭,赵剑光,武自卫,张幸运,胡雨佳,候浩浩,王铁兴,李常志,吕鸣,白杨受保护的技术使用者：北京环境特性研究所技术研发日：技术公布日：2024/9/9