绑定结构的阻抗测试方法、装置、电子设备和可读存储介质与流程

本申请涉及显示，尤其涉及一种绑定结构的阻抗测试方法、装置、电子设备和可读存储介质。

背景技术：

1、显示模组的制作过程中，为实现电极端子同柔性电路板(flexible printedcircuit，柔性电路板)间的互联，会采用bonding(绑定)工艺，利用异性导电胶中的导电粒子连接fpc的金属pin脚与触控面板的电极使之导通。粒子导通有效性是判断bonding工艺优劣的关键指标，相关技术中，bonding工艺的监控措施包括通过粒子压合状态的光学镜检，和导通电阻量测两种主要检测方法。其中，光学镜检的方式需要额外的镜检设备，而电阻检测的方式则仅能对特定的虚设pin进行坚持，无法有效检测实际需要使用的pin的电阻，且测量时需要去除fpc的保护层，可能影响显示模组的可靠性。由此可见，相关技术中对于绑定结构的电阻测量效果有待提高。

技术实现思路

1、本发明实施例提供一种绑定结构的阻抗测试方法、装置、电子设备和可读存储介质，以提高对于绑定结构的电阻测量效果。

2、为解决上述问题，本发明是这样实现的：

3、第一方面，本发明实施例提供了一种绑定结构的阻抗测试方法，应用于触控面板，包括：

4、在触控模组通过第一电源信号端供电的情况下，通过第一采集电路采集目标耦合电容的第一电容值，其中，所述第一电源信号端和所述第一采集电路位于所述触控面板的第一侧，所述第一采集电路的供电电路未包括所述触控面板的绑定结构；

5、在触控模组通过所述第一电源信号端供电的情况下，通过第二采集电路采集所述目标耦合电容的第二电容值，其中，所述第二采集电路位于所述触控面板与所述第一侧相对的第二侧，所述第二采集电路的供电电路包括所述触控面板的绑定结构；

6、根据所述第一电容值和所述第二电容值的差异确定所述第一电源信号端提供的第一电源信号的变化量；

7、根据所述第一电源信号的变化量计算所述绑定结构的阻抗。

8、在其中一些实施例中，所述第二采集电路的供电电路包括依次连接的：第一驱动芯片绑定部、第一柔性电路板绑定部、柔性电路板走线、第二柔性电路板绑定部、第二驱动芯片绑定部；

9、其中，所述第一驱动芯片绑定部和所述第一柔性电路板绑定部位于所述触控面板的第一侧，所述第二柔性电路板绑定部和所述第二驱动芯片绑定部位于所述触控面板的第二侧。

10、在其中一些实施例中，所述第一采集电路或所述第二采集电路包括：

11、运算放大器，正相输入端连接电源信号端的低电平信号端；

12、积分电容，第一端连接所述运算放大器的负相输入端，第二端连接所述运算放大器的输出端；

13、第一开关，第一端连接所述运算放大器的负相输入端，第二端连接所述运算放大器的输出端；

14、第二开关，第一端连接所述运算放大器的负相输入端，第二端连接第一节点。

15、在其中一些实施例中，所述通过第一采集电路采集目标耦合电容的第一电容值之前，所述方法还包括：

16、断开所述第一开关和所述第二开关，以预置所述第一采集电路或所述第二采集电路。

17、在其中一些实施例中，所述第一采集电路或所述第二采集电路还包括：

18、第三开关，第一端连接电源信号端的高电平信号端，第二端连接所述第一节点；

19、第一耦合电容，第一端连接电源信号端的低电平信号端，第二端连接所述第一节点；

20、第二耦合电容，第一端连接脉冲信号端，第二端连接所述第一节点。

21、在其中一些实施例中，所述通过第一采集电路采集目标耦合电容的第一电容值，包括：

22、控制所述第一开关和所述第三开关闭合，控制所述第二开关断开，以对所述目标耦合电容充电；

23、控制所述第一开关和所述第三开关断开，控制所述第二开关闭合，以通过所述目标耦合电容对所述积分电容充电；

24、根据所述积分电容的充电状态确定所述目标耦合电容的第一电容值。

25、在其中一些实施例中，所述目标耦合电容为触控传感器电极和源漏电极线之间形成的耦合电容；或者

26、触控传感器电极和栅线之间形成的耦合电容；或者

27、触控传感器电极和公共电极线之间形成的耦合电容。

28、第二方面，本发明实施例提供了一种绑定结构的阻抗测试装置，应用于触控面板，包括：

29、第一采集模块，用于在触控模组通过第一电源信号端供电的情况下，通过第一采集电路采集目标耦合电容的第一电容值，其中，所述第一电源信号端和所述第一采集电路位于所述触控面板的第一侧，所述第一采集电路的供电电路未包括所述触控面板的绑定结构；

30、第二采集模块，用于在触控模组通过所述第一电源信号端供电的情况下，通过第二采集电路采集所述目标耦合电容的第二电容值，其中，所述第二采集电路位于所述触控面板与所述第一侧相对的第二侧，所述第二采集电路的供电电路包括所述触控面板的绑定结构；

31、电压变化量确认模块，用于根据所述第一电容值和所述第二电容值的差异确定所述第一电源信号端提供的第一电源信号的变化量；

32、阻抗计算模块，用于根据所述第一电源信号的变化量计算所述绑定结构的阻抗。

33、第三方面，本发明实施例提供了一种电子设备，包括触控面板、处理器、存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如第一方面中任一项所述方法的步骤。

34、第四方面，本发明实施例提供了一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面中任一项所述方法的步骤。

35、本发明实施例通过采集目标耦合电容的电容值，并根据不同供电状态下，其电容值差异，确定导致该测量值差异的电压变化量，并进一步确定该压降对应的阻抗，能够实现对绑定结构阻抗的测量，提高了对于绑定结构阻抗测量的便利程度。

技术特征：

1.一种绑定结构的阻抗测试方法，应用于触控面板，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二采集电路的供电电路包括依次连接的：第一驱动芯片绑定部、第一柔性电路板绑定部、柔性电路板走线、第二柔性电路板绑定部、第二驱动芯片绑定部；

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一采集电路或所述第二采集电路包括：

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述通过第一采集电路采集目标耦合电容的第一电容值之前，所述方法还包括：

5.如权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述第一采集电路或所述第二采集电路还包括：

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述通过第一采集电路采集目标耦合电容的第一电容值，包括：

7.如权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述目标耦合电容为触控传感器电极和源漏电极线之间形成的耦合电容；或者

8.一种绑定结构的阻抗测试装置，应用于触控面板，其特征在于，包括：

9.一种电子设备，其特征在于，包括触控面板、处理器、存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。

10.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。

技术总结本发明提供一种绑定结构的阻抗测试方法、装置、电子设备和可读存储介质。绑定结构的阻抗测试方法包括：在触控模组通过第一电源信号端供电的情况下，通过第一采集电路采集目标耦合电容的第一电容值；通过第二采集电路采集所述目标耦合电容的第二电容值；根据所述第一电容值和所述第二电容值的差异确定所述第一电源信号端提供的第一电源信号的变化量；根据所述第一电源信号的变化量计算所述绑定结构的阻抗。本发明实施例通过采集目标耦合电容的电容值，并根据不同供电状态下，其电容值差异，确定导致该测量值差异的电压变化量，并进一步确定该压降对应的阻抗，能够实现对绑定结构阻抗的测量，提高了对于绑定结构阻抗测量的便利程度。技术研发人员：高宗丽,田婷,杨胜伟,尹晓峰,祝佐成,安娜,次刚,张宁宁,王若鹏受保护的技术使用者：京东方科技集团股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/9/9