芯片电压管理系统、芯片电压管理方法和电子设备与流程

本发明涉及电子，尤其是指一种芯片电压管理系统、芯片电压管理方法和电子设备。

背景技术：

1、光传送网(optical transport network，otn)作为承载信息传输的基石，已广泛应用于骨干和城域网络。伴随集成度和容量的提升，otn设备功耗日趋增大，64t交叉容量的otn设备的额定功耗已达到20kw，受限于机房散热能力，无法满配工作，并且，从otn设备的功耗占比来看，业务处理芯片的功耗是主要的功耗因素。

2、在芯片级的节能降耗方案中，传统手段是改进制程工艺，改进制程工艺可以普遍改进芯片集成度、降低单位比特功耗，但是通常需要制程工艺代际技术的突破，而在同一制程工艺下，对于同一款芯片，不同批次或同一批次中的芯片的性能呈正态分布，通常选取性能位于分布区间的中间某范围内的芯片，满足这些芯片的使用需求，但是由于不同批次或同一批次中的芯片的性能存在差异，对于其他的性能略有差异的其他芯片，也通常采用与性能位于分布区间的中间某范围内的芯片相同的驱动电压，就导致存在一定的功耗冗余空间，即使芯片功耗较大。

技术实现思路

1、本发明技术方案的目的在于提供一种芯片电压管理系统、芯片电压管理方法和电子设备，用以解决现有技术中芯片功耗较大的问题。

2、为了解决上述技术问题，本发明实施例提供如下技术方案：

3、本发明实施例提供一种芯片电压管理系统，包括：

4、芯片性能监控模块，所述芯片性能监控模块内存储芯片的属性信息；

5、电源控制模块，所述电源控制模块用于根据所述芯片的属性信息得到所述芯片的工作电压值；

6、电源模块，所述电源模块用于根据所述工作电压值，产生工作电压信号。

7、可选地，所述芯片性能监控模块包括：

8、信息读取单元，用于读取所述芯片的属性信息；

9、第一发送单元，用于向所述电源控制模块发送所述芯片的属性信息。

10、可选地，所述芯片性能监控模块包括：

11、第一接收单元，用于接收读取指令；

12、其中，所述信息读取单元用于根据所述读取指令，读取所述芯片的属性信息。

13、可选地，所述电源控制模块包括：

14、第二接收单元，用于接收所述芯片的属性信息；

15、第一处理单元，用于根据芯片的属性信息得到所述芯片的工作电压值；

16、第二发送单元，用于向所述电源模块发送所述芯片的工作电压值。

17、可选地，所述第一处理单元，具体用于：

18、根据所述芯片的属性信息，确定所述芯片的属性等级；

19、根据所述芯片的属性等级，得到所述芯片的工作电压值。

20、可选地，所述第一处理单元，具体用于：

21、根据所述芯片的属性等级、预设属性等级以及所述预设等级属性对应的预设工作电压值，得到所述芯片的工作电压值。

22、可选地，所述第一处理单元，具体用于：

23、根据所述芯片的属性等级和所述预设属性等级，确定等级差值；

24、根据所述等级差值确定电压调整值；

25、根据所述电压调整值和所述预设的工作电压值，得到所述芯片的工作电压值；

26、其中，所述芯片的属性等级越高，所述芯片的工作电压值越低。

27、可选地，所述第一处理单元，具体用于：

28、在目标属性信息不满足预设属性要求的情况下，将所述预设属性要求对应的预设工作电压值增加预设阈值，得到目标电压值；

29、若在所述目标电压值下，所述目标属性信息满足所述预设属性要求，将所述目标电压值作为所述芯片的工作电压值；

30、其中，所述目标属性信息为所述芯片的属性信息中的任一属性信息。

31、可选地，所述电源模块包括：

32、第三发送单元，用于向所述芯片发送所述工作电压信号。

33、可选地，所述电源控制模块通过接口或引脚，与所述电源模块连接。

34、本发明实施例还提供一种芯片电压管理方法，包括：

35、获取芯片的属性信息；

36、根据所述芯片的属性信息得到所述芯片的工作电压值；

37、根据所述工作电压值，产生工作电压信号。

38、可选地，所述获取芯片的属性信息，包括：

39、读取所述芯片的属性信息。

40、可选地，所述读取所述芯片的属性信息，包括：

41、接收读取指令；

42、根据所述读取指令，读取所述芯片的属性信息。

43、可选地，所述根据所述芯片的属性信息得到所述芯片的工作电压值，包括：

44、根据所述芯片的属性信息，确定所述芯片的属性等级；

45、根据所述芯片的属性等级得到所述芯片的工作电压值。

46、可选地，所述根据所述芯片的属性等级得到所述芯片的工作电压值，包括：

47、根据所述芯片的属性等级、预设属性等级以及所述预设等级属性对应的预设工作电压值，得到所述芯片的工作电压值。

48、可选地，所述根据所述芯片的属性等级、预设属性等级以及所述预设等级属性对应的预设工作电压值，确定所述芯片的工作电压值，包括：

49、根据所述芯片的属性等级和所述预设属性等级，确定等级差值；

50、根据所述等级差值确定电压调整值；

51、根据所述电压调整值和所述预设的工作电压值，得到所述芯片的工作电压值；

52、其中，所述芯片的属性等级越高，所述芯片的工作电压值越低。

53、可选地，所述根据所述芯片的属性信息获取所述芯片的工作电压值，包括：

54、在目标属性信息不满足预设属性要求的情况下，将所述预设属性要求对应的预设工作电压值增加预设阈值，得到目标电压值；

55、若在所述目标电压值下，所述目标属性信息满足所述预设属性要求，将所述目标电压值作为所述芯片的工作电压值；

56、其中，所述目标属性信息为所述芯片的属性信息中的任一属性信息。

57、可选地，所述方法还包括：

58、向所述芯片发送所述工作电压信号。

59、本发明实施例还提供一种电子设备，包括：处理器、存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序，所述程序被所述处理器执行时实现如上中任一项所述的芯片电压管理方法。

60、本发明实施例还提供一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有程序，所述程序被处理器执行时实现如上中任一项所述的芯片电压管理方法中的步骤。

61、本发明上述技术方案中的至少一个具有以下有益效果：

62、本发明实施例所述的芯片电压管理系统，通过芯片性能监控模块存储芯片的属性信息，通过电源控制模块根据所述芯片的属性信息得到所述芯片的工作电压值，并通过电源模块根据所述工作电压值，产生工作电压信号，即通过本发明实施例的芯片电压管理系统，根据芯片的属性信息，即芯片的性能，调整芯片的工作电压信号，降低芯片的功耗。