一种光学检测设备的制作方法

本发明涉及光学检测设备。

背景技术：

1、对于电子制造业，aoi设备(即光学自动检测设备)是确保产品质量的重要检测工具和过程质量控制工具。例如，对于手机盖板玻璃、平板电脑盖板玻璃等玻璃盖板类产品，如果依靠人工目检，不但效率低成本高，而且容易漏检或误判，而光学检测设备能够实现自动化检测，解决人工检测存在的上述问题。

2、光学自动检测设备能够配合对应的光路以不同的方式和角度照亮待测物，依靠相机对待测物成像，获得亮场成像、暗场成像或透射成像等。亮场成像和暗场成像的一个主要差异在于照明光源和相机的角度，亮场成像是使照明光照射到待测物的待检表面之后直接反射到相机，此时待测物表面的凸凹结构会在较亮的背景下形成较暗的图像；而暗场成像是避免照明光照射到待测物的待检表面后直接反射到相机，此时待测物表面的凸凹结构会在较暗的背景下形成较亮的图像。透射成像是将相机和照明光源分别设置到与待测物的待检表面垂直的方向两侧，待测物上存在缺陷的位置会产生不同于其他位置的成像。

3、目前光学检测设备能够检测出待测物的绝大部分缺陷，但是仍会存在漏检情况，有时不易满足客户的漏检率标准。

技术实现思路

1、本发明主要解决的技术问题是光学检测设备的漏检率有待降低的问题。

2、一个方面，本发明提供了一种光学检测设备。

3、一种光学检测设备，包括：

4、传输单元，所述传输单元依次设有第一检测工位、旋转工位和第二检测工位；

5、第一检测单元，所述第一检测单元位于所述第一检测工位，所述第一检测单元用于从第一方位对待测物进行检测；

6、旋转装置，所述旋转装置位于所述旋转工位，所述旋转装置用于对待测物旋转预设角度；

7、第二检测单元，所述第二检测单元位于所述第二检测工位，所述第二检测单元用于从第二方位对待测物进行检测；其中，所述第二方位不同于所述第一方位。

8、在一种技术方案中，所述旋转装置包括：

9、升降单元，升降单元用于带动所述传输单元上的待测物升降；所述升降单元包括吸盘，所述吸盘用于吸附固定所述待测物；

10、旋转单元，所述旋转单元与所述升降单元传动连接，用于带动所述顶升机构旋转。

11、在一种技术方案中，所述第一检测单元包括第一光源和第一相机；所述第一光源包括两组光源组，两组所述光源组以面对称的形式布置，两组所述光源组的对称平面用于确定待测物承载面的位置；

12、所述第一相机包括两处相机，两处相机沿所述对称平面对称布置；

13、所述光源组包括：

14、明场光源，所述明场光源用于配合与其位于所述对称平面的同一侧的相机实现所述待测物的明场成像；

15、暗场光源，所述暗场光源用于配合与其位于所述对称平面的同一侧的相机实现所述待测物的暗场成像；

16、透射光源，所述透射光源用于配合与其位于所述对称平面的不同侧的相机实现所述待测物的透射成像。

17、在一种技术方案中，所述透射光源与所述明场光源为同一光源。

18、在一种技术方案中，两组所述光源组发出的光线汇聚于所述待测物承载面的同一直线上，且所述明场光源、所述暗场光源的发光面与所述待测物承载面的预设位置之间的距离保持一致。

19、在一种技术方案中，所述第二检测单元包括第二光源和第二相机；

20、所述第二光源包括：

21、暗场光源，所述暗场光源与所述第二相机分别设置于待测物承载面的同一侧，用于与所述第二相机配合实现所述待测物的暗场成像；

22、透射光源，所述透射光源与所述第二相机分别设置于待测物承载面的不同侧，用于与所述第二相机配合实现所述待测物的透射成像。

23、在一种技术方案中，所述第二相机的朝向垂直于所述待测物承载面，两处所述暗场光源相对于所述相机的轴线对称并与所述相机的轴线具有夹角，所述夹角不大于25度。

24、在一种技术方案中，所述透射光源包括：

25、发光部件；

26、匀光板，所述匀光板位于所述发光部件靠近所述暗场光源的一侧，用于形成均匀的平面光；

27、以及分光片，所述分光片位于所述匀光板远离发光部件的一侧，所述分光片相对于所述匀光板倾斜设置；所述分光片用于透射发光部件的部分光线以形成透射成像，并用于反射所述暗场光源射来的光线以减少或避免暗场光源射来的光线照射到所述匀光板上而朝向所述第二相机反光。

28、在一种技术方案中，所述光学检测设备进行检测时：

29、先采用所述第一检测单元检测，再采用所述第二检测单元检测，所述预设角度为90度或180度；

30、或者，先采用所述第二检测单元检测，再采用所述第一检测单元检测，所述预设角度为90度或180度。

31、在一种技术方案中，所述第一检测单元或所述第二检测单元在进行检测时，对应检测单元中的各对应光源按设定的先后顺序依次亮起，对应的相机仅在对应的所述光源亮起时进行一次或多次图像采集。

32、本发明的有益效果：

33、据上述实施例的光学检测设备，由于第一检测单元和第二检测单元能够分别沿两个不同的第一方位和第二方位对待测物进行检测，因此可以避免采用单一的检测方向且检测方向与缺陷延伸方向垂直时缺陷无法被相机探测到，能够实现对延伸方向不同的缺陷的检测，从而能够降低漏检率，提高检测结果的准确性。

技术特征：

1.一种光学检测设备，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的光学检测设备，其特征在于，所述旋转装置包括：

3.如权利要求1或2所述的光学检测设备，其特征在于，所述第一检测单元(10)包括第一光源(11)和第一相机(12)；所述第一光源(11)包括两组光源组，两组所述光源组以面对称的形式布置，两组所述光源组的对称平面用于确定待测物承载面的位置；

4.如权利要求3所述的光学检测设备，其特征在于，所述透射光源与所述明场光源为同一光源。

5.如权利要求3所述的光学检测设备，其特征在于，两组所述光源组发出的光线汇聚于所述待测物承载面的同一直线上，且所述明场光源、所述暗场光源(21)的发光面与所述待测物承载面的预设位置之间的距离保持一致。

6.如权利要求1或2所述的光学检测设备，其特征在于，所述第二检测单元(20)包括第二光源和第二相机(22)；

7.如权利要求6所述的光学检测设备，其特征在于，所述第二相机(22)的朝向垂直于所述待测物承载面，两处所述暗场光源(21)相对于所述相机的轴线对称并与所述相机的轴线具有夹角，所述夹角不大于25度。

8.如权利要求6所述的光学检测设备，其特征在于，所述透射光源(23)包括：

9.如权利要求1或2所述的光学检测设备，其特征在于，所述光学检测设备进行检测时：

10.如权利要求1或2所述的光学检测设备，其特征在于，所述第一检测单元(10)或所述第二检测单元(20)在进行检测时，对应检测单元中的各对应光源按设定的先后顺序依次亮起，对应的相机仅在对应的所述光源亮起时进行一次或多次图像采集。

技术总结本发明涉及光学检测设备。一种光学检测设备，包括：传输单元，所述传输单元依次设有第一检测工位、旋转工位和第二检测工位；第一检测单元，所述第一检测单元位于所述第一检测工位，所述第一检测单元用于从第一方位对待测物进行检测；旋转装置，所述旋转装置位于所述旋转工位，所述旋转装置用于对待测物旋转预设角度；第二检测单元，所述第二检测单元位于所述第二检测工位，所述第二检测单元用于从第二方位对待测物进行检测；其中，所述第二方位不同于所述第一方位。本发明主要解决的技术问题是光学检测设备的漏检率有待降低的问题。技术研发人员：陈鲁,周明添,贺金龙,张嵩受保护的技术使用者：深圳中科飞测科技股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/9/12