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一种集成电路引脚间电阻测量装置的制作方法

  • 国知局
  • 2024-10-09 14:44:13

本发明属于集成电路测试,涉及一种集成电路引脚间电阻测量装置。

背景技术:

1、随着电子技术的发展及电子技术在各领域的广泛应用,集成电路的重要性越来越大,集成电路测试在科研、生产中的重要性愈发突出。在对集成电路的分析测试中,集成电路引脚间的电阻测量尤其重要。

2、随着集成电路的广泛应用,集成电路失效的情况也经常发生。对集成电路进行失效分析,找出失效的原因,并采取有针对性的措施,可防止类似的失效再次发生,因此集成电路的失效分析工作具有十分重要的意义。

3、在对失效的集成电路进行失效分析时,对集成电路引脚间的电阻进行测量是重要的分析内容之一。集成电路一般体积较小,引脚尺寸很小,引脚间的间距很密,好多集成电路的引脚数量还非常多。

4、目前,在测量集成电路引脚间的电阻时,采用的方法是手动用电阻表的表笔分别接触集成电路的引脚,从电阻表读取测量电阻值。由于好多集成电路引脚尺寸很小,引脚间间距亦很小,还有的引脚数量非常多,测试表笔与集成电路引脚准确、可靠接触非常困难,造成测量非常不便,测量效率低下。并且,经常因表笔与集成电路引脚接触不可靠、表笔与被测引脚附近的其它引脚接触短路、因引脚太多不易辨识而导致表笔接触的不是想测量的引脚等问题而造成测量结果错误。另外,测量时经常需要将一些引脚连接起来后再进行测量,这种情况下使用表笔接触集成电路引脚的方法则无法完成测量。针对现有技术的状况,发明人进行的规范检索,尚未发现相关技术文献。

技术实现思路

1、本发明的目的就是为了解决现有技术中集成电路引脚间电阻测量存在的效率低及可靠性差的问题,提供的一种集成电路引脚间电阻测量装置。

2、本发明由插接集成电路的集成电路夹具、a组引脚选择开关组a1~an、b组引脚选择开关组b1~bn、测量方向切换开关s1及电阻表m1构成。

3、集成电路夹具的每一个编号的引脚均对应连接a组和b组的相应编号引脚选择开关的一端,所有a组引脚选择开关的另一端均与测量方向选择开关s1的第1、4端连接;所有b组引脚选择开关的另一端均与测量方向选择开关s1的第2、3端连接;测量方向选择开关s1的第5端和电阻表m1的正端相连,测量方向选择开关s1的第6端和电阻表m1的负端相连。。

4、集成电路夹具选择无插拔力锁紧夹具,既能保证锁紧时夹具引脚和集成电路引脚的可靠电气连接,又能防止有插拔力夹具在插拔时对集成电路引脚的损伤。集成电路每个引脚选择开关均具有导通和断开两个状态。测量方向切换开关为双刀双掷开关,通过该开关可实现引脚间电阻测量正负电极的切换,从而实现引脚间不同相对电阻的测量。

5、集成电路夹具的每一个引脚均分别通过两个引脚选择开关与测量方向切换开关相连。测量方向切换开关与电阻表相连。

6、使用时,将集成电路放入夹具中并锁紧,根据测量需要,接通需要的引脚选择开关,使集成电路相应的引脚和测量方向切换开关接通,通过与测量选择开关相连的电阻表,即可实现对集成电路引脚间电阻的测量。改变测量方向切换开关的状态,可实现对引脚间电阻的反向测量。

7、本发明提出一种集成电路引脚间电阻测量装置,不需要手动用表笔接触集成电路引脚进行电阻测量,只需要操作相应的开关,即可完成对进行电路引脚间电阻的测量。使用本装置进行集成电路引脚间电阻的测量,不仅方便、高效,而且测量结果准确、可靠。

技术特征:

1.一种集成电路引脚间电阻测量装置,其特征在于由插接集成电路的集成电路夹具、a组引脚选择开关组a1~an、b组引脚选择开关组b1~bn、测量方向切换开关s1及电阻表m1构成。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路引脚间电阻测量装置,其特征在于集成电路夹具的每一个编号的引脚均对应连接a组和b组的相应编号引脚选择开关的一端,所有a组引脚选择开关的另一端均与测量方向选择开关s1的第1、4端连接;所有b组引脚选择开关的另一端均与测量方向选择开关s1的第2、3端连接;测量方向选择开关s1的第5端和电阻表m1的正端相连,测量方向选择开关s1的第6端和电阻表m1的负端相连。

技术总结本发明涉及一种集成电路引脚间电阻测量装置,其特征在于由集成电路夹具J1、A组引脚选择开关组A1~An、B组引脚选择开关组B1~Bn、测量方向切换开关S1及电阻表M1构成。将集成电路放入夹具中并锁紧,根据测量需要,接通需要的引脚选择开关,使集成电路相应的引脚和测量方向切换开关接通,通过与测量方向切换开关相连的电阻表,即可实现对集成电路引脚间电阻的测量。改变测量方向切换开关的状态,可实现对引脚间电阻的反向测量。不需要手动用表笔接触集成电路引脚进行电阻测量,只需要操作相应的开关,即可完成对进行电路引脚间电阻的测量。使用本装置进行集成电路引脚间电阻的测量,不仅方便、高效,而且测量结果准确、可靠。技术研发人员:刘尊建,何昕受保护的技术使用者:华东光电集成器件研究所技术研发日:技术公布日:2024/9/29

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