一种批量光耦产品寿命试验监测装置的制作方法

本发明属于光耦产品寿命，具体涉及一种批量光耦产品寿命试验监测装置。

背景技术：

1、目前，在光耦产品寿命技术领域通常采用老练板方式进行寿命，批量进行寿命时均采用输入端、输出端串联进行试验。该方式存在一定弊端，比如其中一只产品失效时，其他产品无法正常试验，需要对失效产品对应位置的线路进行短接方可继续进行试验，同时在以下几个方面存在不足；

2、1)光耦产品寿命试验无法对每只产品每个通道的输出端接通断开状态进行监测，失效时需要大量分析方可定位到具体的试验样品，耗费时间较长；

3、2)无法对失效产品失效时的时间点进行精准定位，目前主要采用人为巡视来判断产品是否失效，因为该试验持续时间1000h以上，失效时间仅能采用估读方式进行，误差最大可能存在几十上百小时的差异，不利于试验数据分析；

4、3)对于被试品输出压降采集主要采用万用表进行采集，当数量较多时，该方式过于繁琐，试验效率低。

技术实现思路

1、为解决上述技术问题，本发明提供了一种批量光耦产品寿命试验监测装置。

2、本发明通过以下技术方案得以实现。

3、本发明提供的一种批量光耦产品寿命试验监测装置，包括主电源控制电路，所述主电源控制电路与输入端控制电路、输出端控制电路、中央核心控制电路和电压数据采集单元均连接，所述中央核心控制电路还与输入端控制电路、输出端控制电路、电压数据采集单元、网络交换模块、人机交互模块和光耦试验板控制单元连接，所述光耦试验板控制单元还与电压数据采集单元、输入端控制电路和输出端控制电路连接，所述网络交换模块还与人机交互模块连接。

4、所述主电源控制电路包括接触器j10，所述接触器j10的t2引脚、t3引脚、t4引脚分别与220v交流电的火线l、零线n、地线e连接，线圈x2端通过按钮开关s1与发光二极管d1的阳极和电阻r1的一端均连接，所述发光二极管d1的阴极和电阻r1的另一端均通过保险管f1接地；

5、所述主电源控制电路采用接触器j10控制系统总电源供电，分别控制220v交流电的零线n、地线e、火线l，当按钮开关s1接通时，发光二极管d1点亮，接触器j10得电，其对应触点闭合，实现整个监测装置上电的功能。

6、所述输入端控制电路包括继电器j4、继电器j6、继电器j8；所述继电器j4、继电器j6和继电器j8的out1+引脚均与第一可编辑直流电源的output+引脚连接，in1-引脚均接地，所述第一可编辑直流电源的n引脚、l引脚分别与接触器j10的l3引脚、l2引脚连接；

7、所述继电器j4、继电器j6和继电器j8用于对被试产品的输入端进行控制，当中央核心控制电路分别发出闭合指令或断开指令后，分别实现被试产品的输入端得电或输入端去电的功能。

8、所述输出端控制电路包括继电器j5、继电器j7、继电器j9；所述继电器j5、继电器j7和继电器j9的out1+引脚均与第二可编辑直流电源的output+引脚连接，in1-引脚均接地，所述第二可编辑直流电源的n引脚、l引脚分别与接触器j10的l3引脚、l2引脚连接；

9、所述继电器j5、继电器j7和继电器j9用于对被试产品的输出端进行控制，当中央核心控制电路分别发出闭合指令或断开指令后，分别实现被试产品的输出端得电或输出端去电的功能。

10、所述中央核心控制电路包括中央处理器cpu和开关电源pm；所述开关电源pm的n引脚、l引脚分别与接触器j10的l3引脚、l2引脚连接，24v直流电源正极、24v直流电源负极、output+引脚、output-引脚分别与中央处理器cpu的l+引脚、m引脚、2l+引脚、2m引脚连接；所述中央处理器cpu的0引脚、1引脚、2引脚、3引脚、4引脚和5引脚分别与继电器j4、继电器j6、继电器j8、继电器j5、继电器j7和继电器j9的in1+引脚连接，6引脚和2m引脚与报警器ls1输入端连接，24v电源地接地。

11、所述网络交换模块包括以太网交换机csm，所述以太网交换机csm的l+引脚和m引脚分别与开关电源pm的output+引脚和output-引脚连接，pe引脚接地，p1接口与中央处理器cpu的net1接口连接。

12、所述人机交互模块包括触摸屏mt，所述触摸屏mt的l+引脚和m引脚分别与开关电源pm的24v直流电源正极和24v直流电源负极连接，485通讯接口与中央处理器cpu的485通讯接口连接，net2接口与以太网交换机csm的p2接口连接，24v电源地接地；

13、所述触摸屏mt用于对被试产品试验参数进行设置，以及实现被试产品的输出端电压、编号、失效时间的显示功能。

14、所述电压数据采集单元包括开关电源drp、第一模拟量采集模块、第二模拟量采集模块和第三模拟量采集模块；所述开关电源drp的n引脚和l引脚分别与接触器j10的l3引脚和l2引脚连接，24v直流电源正极与第一模拟量采集模块、第二模拟量采集模块和第三模拟量采集模块的m引脚连接，24v直流电源负极与第一模拟量采集模块、第二模拟量采集模块和第三模拟量采集模块的l+引脚连接，pe引脚接地；所述第一模拟量采集模块、第二模拟量采集模块和第三模拟量采集模块的485通讯接口与中央处理器cpu的485通讯接口连接，24v电源地接地。

15、所述光耦试验板控制单元包括结构相同的九十六个光耦试验板单体控制电路，所述光耦试验板单体控制电路包括试验板、电容c1、电容c2，所述试验板的1引脚通过电阻r2与继电器j8的out1-引脚连接，2引脚与第一可编辑直流电源的80v直流电源负极连接并接地，5引脚通过电阻r3与继电器j9的out1-引脚连接，5引脚还通过电压采集连接器与电压数据采集单元的32路电压采集端口连接，6引脚与第二可编辑直流电源的80v直流电源负极连接并接地；所述电容c1的一端与继电器j4、继电器j6和继电器j8的out1-引脚连接，另一端均接地；所述电容c2的一端与继电器j5、继电器j7和继电器j9的out1-引脚连接，另一端均接地。

16、所述电容c1和电容c2用于实现被试产品在输入输出电压出现波动时不被烧毁的功能；

17、所述电阻r2用于根据被试产品的输入电流要求进行限流，通过计算vf输入电压来实现被试产品的输入电流符合要求的功能；

18、所述电阻r3用于根据被试产品的寿命试验调节输出负载，实现被试产品功率符合要求的功能。

19、本发明的有益效果在于：本发明的一种批量光耦产品寿命试验监测装置仅需要在触摸屏mt中设置好相关试验参数，点击开始试验按钮，该装置便会对被试产品状态进行控制、监测，同时对每只产品输出端电压进行实时显示，当被试产品失效后该监测装置会将失效信息已显目的方式进行提醒和数据保存。

技术特征：

1.一种批量光耦产品寿命试验监测装置，其特征在于：包括主电源控制电路，所述主电源控制电路与输入端控制电路、输出端控制电路、中央核心控制电路和电压数据采集单元均连接，所述中央核心控制电路还与输入端控制电路、输出端控制电路、电压数据采集单元、网络交换模块、人机交互模块和光耦试验板控制单元连接，所述光耦试验板控制单元还与电压数据采集单元、输入端控制电路和输出端控制电路连接，所述网络交换模块还与人机交互模块连接。

2.如权利要求1所述的一种批量光耦产品寿命试验监测装置，其特征在于：所述主电源控制电路包括接触器j10；所述接触器j10的t2引脚、t3引脚、t4引脚分别与220v交流电的火线l、零线n、地线e连接，线圈x2端通过按钮开关s1与发光二极管d1的阳极和电阻r1的一端均连接，所述发光二极管d1的阴极和电阻r1的另一端均通过保险管f1接地；

3.如权利要求1所述的一种批量光耦产品寿命试验监测装置，其特征在于：所述输入端控制电路包括继电器j4、继电器j6、继电器j8；所述继电器j4、继电器j6和继电器j8的out1+引脚均与第一可编辑直流电源的output+引脚连接，in1-引脚均接地，所述第一可编辑直流电源的n引脚、l引脚分别与接触器j10的l3引脚、l2引脚连接；

4.如权利要求1所述的一种批量光耦产品寿命试验监测装置，其特征在于：所述输出端控制电路包括继电器j5、继电器j7、继电器j9；所述继电器j5、继电器j7和继电器j9的out1+引脚均与第二可编辑直流电源的output+引脚连接，in1-引脚均接地，所述第二可编辑直流电源的n引脚、l引脚分别与接触器j10的l3引脚、l2引脚连接；

5.如权利要求1所述的一种批量光耦产品寿命试验监测装置，其特征在于：所述中央核心控制电路包括中央处理器cpu和开关电源pm；所述开关电源pm的n引脚、l引脚分别与接触器j10的l3引脚、l2引脚连接，24v直流电源正极、24v直流电源负极、output+引脚、output-引脚分别与中央处理器cpu的l+引脚、m引脚、2l+引脚、2m引脚连接；所述中央处理器cpu的0引脚、1引脚、2引脚、3引脚、4引脚和5引脚分别与继电器j4、继电器j6、继电器j8、继电器j5、继电器j7和继电器j9的in1+引脚连接，6引脚和2m引脚与报警器ls1输入端连接，24v电源地接地。

6.如权利要求1所述的一种批量光耦产品寿命试验监测装置，其特征在于：所述网络交换模块包括以太网交换机csm；所述以太网交换机csm的l+引脚和m引脚分别与开关电源pm的output+引脚和output-引脚连接，pe引脚接地，p1接口与中央处理器cpu的net1接口连接。

7.如权利要求1所述的一种批量光耦产品寿命试验监测装置，其特征在于：所述人机交互模块包括触摸屏mt；所述触摸屏mt的l+引脚和m引脚分别与开关电源pm的24v直流电源正极和24v直流电源负极连接，485通讯接口与中央处理器cpu的485通讯接口连接，net2接口与以太网交换机csm的p2接口连接，24v电源地接地；

8.如权利要求1所述的一种批量光耦产品寿命试验监测装置，其特征在于：所述电压数据采集单元包括开关电源drp、第一模拟量采集模块、第二模拟量采集模块和第三模拟量采集模块；所述开关电源drp的n引脚和l引脚分别与接触器j10的l3引脚和l2引脚连接，24v直流电源正极与第一模拟量采集模块、第二模拟量采集模块和第三模拟量采集模块的m引脚连接，24v直流电源负极与第一模拟量采集模块、第二模拟量采集模块和第三模拟量采集模块的l+引脚连接，pe引脚接地；所述第一模拟量采集模块、第二模拟量采集模块和第三模拟量采集模块的485通讯接口与中央处理器cpu的485通讯接口连接，24v电源地接地。

9.如权利要求1所述的一种批量光耦产品寿命试验监测装置，其特征在于：所述光耦试验板控制单元包括结构相同的九十六个光耦试验板单体控制电路，所述光耦试验板单体控制电路包括试验板、电容c1、电容c2，所述试验板的1引脚通过电阻r2与继电器j8的out1-引脚连接，2引脚与第一可编辑直流电源的80v直流电源负极连接并接地，5引脚通过电阻r3与继电器j9的out1-引脚连接，5引脚还通过电压采集连接器与电压数据采集单元的32路电压采集端口连接，6引脚与第二可编辑直流电源的80v直流电源负极连接并接地；所述电容c1的一端与继电器j4、继电器j6和继电器j8的out1-引脚连接，另一端均接地；所述电容c2的一端与继电器j5、继电器j7和继电器j9的out1-引脚连接，另一端均接地。

10.如权利要求9所述的一种批量光耦产品寿命试验监测装置，其特征在于：

技术总结本发明提供了一种批量光耦产品寿命试验监测装置，包括主电源控制电路，所述主电源控制电路与输入端控制电路、输出端控制电路、中央核心控制电路和电压数据采集单元均连接，所述中央核心控制电路还与输入端控制电路、输出端控制电路、电压数据采集单元、网络交换模块、人机交互模块和光耦试验板控制单元连接，所述光耦试验板控制单元还与电压数据采集单元、输入端控制电路和输出端控制电路连接，所述网络交换模块还与人机交互模块连接；本发明仅需要在触摸屏中设置好相关试验参数，点击开始试验按钮，该装置便会对被试产品状态进行控制、监测，同时对每只产品输出端电压进行实时显示，当被试产品失效后该监测装置会将失效信息进行提醒和数据保存。技术研发人员：吴风波,冯蓝烙,冯霞,赵荣文,龙维受保护的技术使用者：贵州振华群英电器有限公司（国营第八九一厂）技术研发日：技术公布日：2024/10/10